使用独立设备进行双路高速运算放大器芯片测试的方法技术

本申请公开了使用独立设备进行双路高速运算放大器芯片测试的方法，涉及芯片测试领域，包括独立电源、PC端、高频信号发生器、双路测试板及高带宽示波器；所述PC端通过预设的测试程序向高频信号发生器、双路测试板及高带宽示波器发送测试命令，进行双路高速运算放大器芯片测试；所述双路测试板包括MCU、驱动电路和被测芯片环路，由于高速运放的带宽比较高、时间比较短，所以需要高精度高带宽的仪器来测试，外接设备测试同样可以不受限于测试机的测试条件，可以独立实现高精度测试。

【技术实现步骤摘要】

本申请涉及芯片测试，特别涉及使用独立设备进行双路高速运算放大器芯片测试的方法。

技术介绍

1、目前运算放大器芯片种类繁多，芯片专利技术设计出来后并不能立即投入使用，而需要对芯片的电参数进行的测试，当测试要求达标后才能投入实际应用。

2、双路高速运算放大器芯片中的电参数测试要求比较高，例如带宽几百兆高、时间短等，这种几百兆带宽测试的电参数对测试机要求较高，此前现有的测试机台无法满足这类电参数的测试条件，故无法测试。

3、因为芯片的电参数对于芯片来说很重要，所以为了解决现有测试机测试条件达不到的情况，目前亟需使用独立设备进行双路高速运算放大器芯片测试的方法。

技术实现思路

1、鉴于以上所述现有技术的缺点，本申请提出使用独立设备进行双路高速运算放大器芯片测试的方法，解决了现有技术中双路高速运算放大器芯片中的电参数测试要求比较高，现有设备无法满足的问题。

2、本申请为了实现上述目的具体采用以下技术方案：

3、使用独立设备进行双路高速运算放大器芯片测试的方法，包括独立电源本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.使用独立设备进行双路高速运算放大器芯片测试的方法，其特征在于，包括独立电源、PC端、高频信号发生器、双路测试板及高带宽示波器；

2.如权利要求1所述的使用独立设备进行双路高速运算放大器芯片测试的方法，其特征在于，所述独立电源为三通道的独立电源，其中两通道对被测芯片进行独立供电，剩余一通道对双路测试板上除被测芯片外的其他部分进行供电。

3.如权利要求2所述的使用独立设备进行双路高速运算放大器芯片测试的方法，其特征在于，所述两通道对被测芯片进行独立供电的具体电源为：第一电源电压和第二电源电压。

4.如权利要求1所述的使用独立设备进行双路高速运算放大器芯...

【技术特征摘要】

1.使用独立设备进行双路高速运算放大器芯片测试的方法，其特征在于，包括独立电源、pc端、高频信号发生器、双路测试板及高带宽示波器；

2.如权利要求1所述的使用独立设备进行双路高速运算放大器芯片测试的方法，其特征在于，所述独立电源为三通道的独立电源，其中两通道对被测芯片进行独立供电，剩余一通道对双路测试板上除被测芯片外的其他部分进行供电。

3.如权利要求2所述的使用独立设备进行双路高速运算放大器芯片测试的方法，其特征在于，所述两通道对被测芯片进行独立供电的具体电源为：第一电源电压和第二电源电压。

4.如权利要求1所述的使用独立设备进行双路高速运算放大器芯片测试的方法，其特征在于，所述5v转3.3v电路包括芯片ams1117，所述芯片ams1117被配置为：

5.如权利要求1所述的使用独立设备进行双路高速运算放大器芯片测试的方法，其特征在于，所述usb转串口电路包括芯片ch340c，所述芯片ch340c被配置为：1号脚gnd接地，16号脚vcc依次接电容c10的一端、c9的一端和5v电源，所述电容c10的另一端和c9的另一端均接地，所述5v电源由独立电源提供；4号脚v3接16号脚vcc;2号脚txd为串行数据输出端，3号脚rxd为串行数据输入端，均引出外接mcu的通信引脚；5号脚d+，6号脚d-连接mini usb中对应的d+，d-。

6.如权利要求1所述的使用独立设备进行双路高速运算放大器芯片测试的方法，其特征在于，所述...

【专利技术属性】
技术研发人员：周华润，陈小波，
申请(专利权)人：杭州芯正微电子有限公司，
类型：发明
国别省市：