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本申请公开了使用独立设备进行双路高速运算放大器芯片测试的方法，涉及芯片测试领域，包括独立电源、PC端、高频信号发生器、双路测试板及高带宽示波器；所述PC端通过预设的测试程序向高频信号发生器、双路测试板及高带宽示波器发送测试命令，进行双路高速...
该专利属于杭州芯正微电子有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过杭州芯正微电子有限公司授权不得商用。

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