一种用于毫米波成像雷达生产老化测试的测试装置制造方法及图纸

技术编号:42313986 阅读:40 留言:0更新日期:2024-08-14 15:57
本技术涉及雷达测试装置技术领域,具体涉及一种用于毫米波成像雷达生产老化测试的测试装置,包括机架和工件治具,所述机架的上端面上设有传动组件;所述工件治具设有若干组,每组工件治具的底端均与传动组件接触配合;其中,所述机架上设置若干组限位模块,每组限位模块分别活动安装在机架上,且其可朝工件治具一侧方向伸缩,直至限位模块与任一组工件治具相错位。本技术通过在机架上设置传动组件以及配合使用的限位模块,能够让多个固定毫米波成像雷达的工件治具拉开特定距离,避免了老化测试中不同产品间同频干扰问题的出现,还能够在短时间内快速将多个工件治具拉开,提高测试效率。

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及雷达测试装置,具体涉及一种用于毫米波成像雷达生产老化测试的测试装置


技术介绍

1、对于毫米波成像雷达,其器件的稳定性和可靠性直接影响其探测性能的优劣,因此毫米波成像雷达的功能老化测试尤为重要。

2、现有技术中公开了一种公告号为cn217181207u,专利名称为雷达高低温老化测试机的中国技术专利,具体公开了包括“一种雷达高低温老化测试机,其包括一设有提供高低温环境的炉腔的箱体,箱体的前侧壁往炉腔内设有若干抽屉单元,抽屉单元呈可抽拉布置,抽屉单元的内腔设有可拆卸安装的治具,治具至少具有一用于定位雷达的定位结构,治具上安装有与定位结构电性连接的电接头。”的技术方案,上述方案能在同一设备中对雷达进行高、低温测试,并且雷达高低温老化测试机具有兼容性高的优点。

3、但上述方案在实际使用过程中由于分布较为密集,治具中的雷达与别的治具距离较为靠近,彼此之间受到的同频干扰非常严重,尤其是处于中间位置的雷达所受到的同频干扰最为严重,会导致测试数据存在误差,测试精度低。

4、为此,提出一种用于毫米波成像雷达生产老化测试的测试装置本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种用于毫米波成像雷达生产老化测试的测试装置,其特征在于,包括:

2.根据权利要求1所述的一种用于毫米波成像雷达生产老化测试的测试装置,其特征在于,所述传动组件设有两组,两组传动组件平行设置;

3.根据权利要求2所述的一种用于毫米波成像雷达生产老化测试的测试装置,其特征在于,若干个所述限位模块(12)等距设置在两条传动链条(11)之间。

4.根据权利要求3所述的一种用于毫米波成像雷达生产老化测试的测试装置,其特征在于,每一个所述限位模块(12)的移动轨迹均与传动链条(11)相垂直。

5.根据权利要求4所述的一种用于毫米波成像雷达生产老化...

【技术特征摘要】

1.一种用于毫米波成像雷达生产老化测试的测试装置,其特征在于,包括:

2.根据权利要求1所述的一种用于毫米波成像雷达生产老化测试的测试装置,其特征在于,所述传动组件设有两组,两组传动组件平行设置;

3.根据权利要求2所述的一种用于毫米波成像雷达生产老化测试的测试装置,其特征在于,若干个所述限位模块(12)等距设置在两条传动链条(11)之间。

4.根据权利要求3所述的一种用于毫米波成像雷达生产老化测试的测试装置,其特征在于,每一个所述限位模块(12)的移动轨迹均与传动链条(11)相垂直。

5.根据权利要求4所述的一种用于毫米波成像雷达生产老化测试的测试装...

【专利技术属性】
技术研发人员:林昌强黄志强
申请(专利权)人:赛恩领动上海智能科技有限公司
类型:新型
国别省市:

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