工件斜面位置检测方法技术

一种工件斜面位置检测方法，用于对具有相互垂直面且有斜面的工件上的斜面位置进行检测。步骤如下：ａ、将工件和基准块置于平板上，使工件的基础面与平板上平面相接触，工件上与基础面相垂直的侧面靠在基准块的侧面上；ｂ、将半径为ｒ的圆柱状量规置于工件上的与基础面呈β角的斜面上并靠在基准块的侧面上；ｃ、利用千分表测出量规上方最高点与平板上平面之间的距离Ａ；ｄ、利用公式ａ＝Ａ－ｒ－ｒ／ｔｇ（９０－β）／２计算出ａ值，ａ值为斜面的低端处距平板上平面的间距。与现有技术相比，利用了高精度的千分表和数学计算相结合的方式，使检测出的斜面低端距基础面之间的尺寸精度提高，可达０．００１０ｍｍ，操作方便。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种检测方法，特别是一种，用于对具有相互垂直面且有斜面的工件上的斜面位置进行检测。
技术介绍
在具有相互垂直面的工件上，经常会有与上述垂直面呈一定倾斜角度的斜面，对 该斜面加工后，需要进行检测，常握斜面相对于垂直面的位置，目前常规的检测方式是利用 工具显微镜检测，其精度为0. 0035mm。如果对工件的斜面精度要求高时，工具显微镜的精度 不能满足。
技术实现思路
本专利技术的目的是提供一种检测方法简单、好操作、检测精度可达0. 0010mm的工件斜面位置检测方法，克服现有技术的不足。 本专利技术的，包括如下步骤 a、将工件1和基准块4置于平板6上，使工件1的基础面与平板6上平面相接触， 工件1上与基础面相垂直的侧面靠在基准块4的侧面上； b、将半径为r的圆柱状量规3置于工件1上的与基础面呈13角的斜面5上并靠 在基准块4的侧面上； c、利用千分表2测出量规3上方最高点与平板上平面6之间的距离A ; d、利用公式a = A-r-r/tg(90-P )/2计算出a值，a值为斜面5的低端处距平板6上平面的间距。 本专利技术的与现有技术相比，利用了高精度的千分表和数学 计算相本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种工件斜面位置检测方法，包括如下步骤：　　　　ａ、将工件（１）和基准块（４）置于平板（６）上，使工件（１）的基础面与平板（６）上平面相接触，工件（１）上与基础面相垂直的侧面靠在基准块（４）的侧面上；　　　　ｂ、将半径为ｒ的圆柱状量规（３）置于工件（１）上的与基础面呈β角的斜面（５）上并靠在基准块（４）的侧面上；　　　　ｃ、利用千分表（２）测出量规（３）上方最高点与平板上平面（６）之间的距离Ａ；　　　　ｄ、利用公式ａ＝Ａ－ｒ－ｒ／ｔｇ（９０－β）／２计算出ａ值，ａ值为斜面（５）的低端处距平板（６）上平面的间距。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：孙先伟，赵宏宇，褚雁鹏，
申请(专利权)人：中国华录松下电子信息有限公司，
类型：发明
国别省市：91[中国|大连]