用于检验微LED阵列面板的检验工具制造技术

一种用于检验微LED阵列面板(00)的检验工具，其包括：光收集器组(01)，被配置成收集从包括在微LED阵列面板(00)中的微LED阵列发出的光；图像探测器(02)，与光收集器组(01)连接以接收由光收集器组(01)收集的光以及捕获微LED阵列的图像；以及光测量装置(03)，与光收集器组(01)电连接以接收由光收集器组(01)收集的光以及测量从微LED阵列的一个或更多个部分发出的光。光收集器组(01)包括与图像探测器(02)连接的第一光收集器(101)和与光测量装置(03)电连接的第二光收集器(102)，第一光收集器(101)和第二光收集器(102)配置在夹具元件(104)上，以及，夹具元件(104)可向任意方向旋转。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】

本公开内容一般地涉及发光二极管，并且更特别地，涉及一种用于检验微发光二极管(led)阵列面板的检验工具。

技术介绍

1、具有超小面积和高分辨率的微led在世界上越来越受欢迎。微led阵列面板可以用于形成各种种类的装置，例如摄像模块、投影模块、显示模块、vr/ar光学模块等。

2、然而，由于微led阵列面板显示的图像和发光面积比以前小得多，因此微led阵列面板的像素缺陷不容易通过常规方法进行检测和识别。因而，操作者需要通过显示微led面板的各种图案图像的图形用户界面来查看晶圆、芯片和掩模，以识别图案缺陷。

3、此外，微led阵列面板的发光面积非常小，例如为3mm×5mm。但是，用于收集包括在微led阵列面板中的微led阵列发出的光的光收集器由于光收集器中的各种光学组件而收集面积无法与微led阵列面板的发光面积一样小。因此，图像采集过程和光收集过程无法同时进行。此外，如果同时进行光收集过程和图像采集过程，则进入光收集器的光将减弱，从而降低图像精度。

4、以上内容仅用于辅助理解本申请的技术方案，并不构成承认上述内容为现有技术。本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种用于检验微发光二极管(LED)阵列面板的检验工具，其特征在于，包括：

2.根据权利要求1所述的用于检验所述微LED阵列面板的检验工具，其特征在于，所述第一光收集器经由旋转所述夹具元件而设置在所述微LED阵列上方并且与所述微LED阵列垂直地对齐；以及，所述第一光收集器被配置成将所述微LED阵列发出的光引导至所述图像探测器。

3.根据权利要求2所述的用于检验所述微LED阵列面板的检验工具，其特征在于，所述第二光收集器经由旋转所述夹具元件而设置在所述微LED阵列上方并且与所述微LED阵列相对；以及，所述第二光收集器被配置成收集从所述微LED阵列的一个或更多个部分...

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】

1.一种用于检验微发光二极管(led)阵列面板的检验工具，其特征在于，包括：

2.根据权利要求1所述的用于检验所述微led阵列面板的检验工具，其特征在于，所述第一光收集器经由旋转所述夹具元件而设置在所述微led阵列上方并且与所述微led阵列垂直地对齐；以及，所述第一光收集器被配置成将所述微led阵列发出的光引导至所述图像探测器。

3.根据权利要求2所述的用于检验所述微led阵列面板的检验工具，其特征在于，所述第二光收集器经由旋转所述夹具元件而设置在所述微led阵列上方并且与所述微led阵列相对；以及，所述第二光收集器被配置成收集从所述微led阵列的一个或更多个部分发出的光。

4.根据权利要求3所述...

【专利技术属性】
技术研发人员：徐晨超，岳杨，李起鸣，
申请(专利权)人：上海显耀显示科技有限公司，
类型：发明
国别省市：