【技术实现步骤摘要】
本公开涉及但不限定于一种测试控制电路、测试系统、测试控制方法及存储器。
技术介绍
1、存储器是用于存储数据的器件，存储器中设置有若干mr(mode register，模式寄存器)，其中第九个模式寄存器mr9是供应方特定测试寄存器(vendor specific testregister)，用于进入测试模式以进行测试。
2、现有技术中，模式寄存器mr9在接收到寄存器地址信息之后，如果其中包括模式寄存器mr9的地址信息，那么模式寄存器mr9会向译码器发送有效的指示信号，以使译码器根据内部测试端口发送的时钟信号对接收到的命令地址信号进行译码。存储器中包括多个测试电路(test mode)，译码结果用于使能至少一个测试电路中的目标测试电路，以生成对应的测试命令，测试命令将被发送给对应的待测试电路以使其执行对应的动作，进而基于该动作的执行结果判断待测试电路的性能。执行的动作与测试命令的内容相关，不同测试电路用于输出不同的测试命令，不同的测试命令可以被输入到同一待测试电路。
3、然而，在将封装好的存储器交付给客户之后，客户无...
【技术保护点】
1.一种测试控制电路，其特征在于，包括：第一模式寄存器、第二模式寄存器、第一处理电路和第一译码器；
2.根据权利要求1所述的测试控制电路，其特征在于，所述第一处理电路包括第一与电路，用于将所述第一模式寄存器发送的第一指示信号、所述第二模式寄存器发送的第二指示信号和所述第一时钟信号的与信号作为所述译码时钟信号，所述第一指示信号用于表示所述第一模式寄存器的状态，所述第二指示信号用于表示所述第二模式寄存器的状态。
3.根据权利要求2所述的测试控制电路，其特征在于，所述第一与电路具有使能输入端，用于接收目标使能信号，以将所述目标使能信号、所述第一指示信...
【技术特征摘要】
1.一种测试控制电路，其特征在于，包括：第一模式寄存器、第二模式寄存器、第一处理电路和第一译码器；
2.根据权利要求1所述的测试控制电路，其特征在于，所述第一处理电路包括第一与电路，用于将所述第一模式寄存器发送的第一指示信号、所述第二模式寄存器发送的第二指示信号和所述第一时钟信号的与信号作为所述译码时钟信号，所述第一指示信号用于表示所述第一模式寄存器的状态，所述第二指示信号用于表示所述第二模式寄存器的状态。
3.根据权利要求2所述的测试控制电路，其特征在于，所述第一与电路具有使能输入端，用于接收目标使能信号，以将所述目标使能信号、所述第一指示信号、所述第二指示信号和所述第一时钟信号之间的与信号，作为所述译码时钟信号，所述目标使能信号为高电平有效信号。
4.根据权利要求3所述的测试控制电路，其特征在于，所述第二模式寄存器包括至少两个模式寄存器。
5.根据权利要求4所述的测试控制电路，其特征在于，所述第一与电路包括第一与门至第四与门；
6.根据权利要求1至3任一项所述的测试控制电路，其特征在于，所述测试控制电路还包括：第二...
【专利技术属性】
技术研发人员：夏丽佳，王佳，
申请(专利权)人：长鑫存储技术有限公司，
类型：发明
国别省市：
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