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本公开提供一种测试控制电路、测试系统、测试控制方法及存储器，涉及半导体测试技术领域。测试控制电路包括：第一模式寄存器、第二模式寄存器、第一处理电路和第一译码器。第一模式寄存器的输出端、第二模式寄存器的输出端均连接至第一处理电路的输入端，用于...
该专利属于长鑫存储技术有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过长鑫存储技术有限公司授权不得商用。

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