一种能测量介质折射率的动态光散射纳米粒度测量系统技术方案

本技术提供一种能测量介质折射率的动态光散射纳米粒度测量系统，包括：样品池，其倾斜角度θ固定，装载具有不同折射率的分散介质及悬浮在在介质中的被测颗粒，其在沿光束照射方向上依次布置的两块透明平板之间相隔距离L；玻璃片，放置于样品池后，其倾斜角度θ’可调，其厚度为L’，具有折射率n’，通过调整倾斜角度θ’来调节光束透过偏移片后的偏移量h’；透镜，会聚来自样品池指定散射点的散射光，并将散射点成像在光纤接收端上；光纤处理模块，接收颗粒的散射光，并用光子计数器测量散射信号。本技术实现在样品池装载折射率未知的分散介质时，通过调整偏移片倾斜角度，修正偏移量，来测量计算出介质的折射率，操作方便，结构简单。

【技术实现步骤摘要】

本技术属于纳米颗粒检测，尤其涉及一种能测量介质折射率的动态光散射纳米粒度测量系统。

技术介绍

1、纳米颗粒的测量方法通常有电子显微镜、原子力显微镜、动态光散射法、高速离心沉降法、x射线衍射法等。其中，动态光散射法在样品制备、测量时间、数据处理等方面具有更高效、操作更方便的特点，因此在纳米颗粒粒度测量中得到广泛应用。

2、动态光散射测量纳米颗粒的基本原理是建立在纳米颗粒的布朗运动基础上，想要算出纳米颗粒粒径，需要先得知样品分散介质的折射率，对于常见的介质例如水或者酒精等，可以查阅相关手册和文献来获得折射率参数，但是对于某些查阅不到相关折射率参数的介质，或者折射率参数会根据温度变化而变化的介质，或者含有某些添加剂成分的介质，其实际折射率就很难直接查得。

3、现有技术中，存在一种方法，利用动态光散射法测试已知粒径的标准粒子，在介质黏度已知的情况下可以计算得到介质的折射率，然后再测量相同分散介质中的待测纳米颗粒，并利用已经获得的折射率参数进行计算，最后测得待测纳米颗粒的粒径。但是这种方法，至少进行两次测量，而且标准粒子价格也比较高，另外地，本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种能测量介质折射率的动态光散射纳米粒度测量系统，其特征在于，包括：

2.如权利要求1所述的一种能测量介质折射率的动态光散射纳米粒度测量系统，其特征在于，

3.如权利要求2所述的一种测量介质折射率的动态光散射纳米粒度测量系统，其特征在于，

4.如权利要求1所述的一种能测量介质折射率的动态光散射纳米粒度测量系统，其特征在于，

【技术特征摘要】

1.一种能测量介质折射率的动态光散射纳米粒度测量系统，其特征在于，包括：

2.如权利要求1所述的一种能测量介质折射率的动态光散射纳米粒度测量系统，其特征在于，

【专利技术属性】
技术研发人员：潘林超，陈进，张福根，
申请(专利权)人：珠海真理光学仪器有限公司，
类型：新型
国别省市：

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