温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。

本技术提供一种能测量介质折射率的动态光散射纳米粒度测量系统，包括：样品池，其倾斜角度θ固定，装载具有不同折射率的分散介质及悬浮在在介质中的被测颗粒，其在沿光束照射方向上依次布置的两块透明平板之间相隔距离L；玻璃片，放置于样品池后，其倾斜角度...
该专利属于珠海真理光学仪器有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过珠海真理光学仪器有限公司授权不得商用。

详细技术文档下载地址

温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。