一种波长复用的全息图超表面及其制作方法技术

技术编号:42100148 阅读:23 留言:0更新日期:2024-07-25 00:26
本发明专利技术提供一种波长复用的全息图超表面,其由多个亚波长尺度的功能基元在平面上有序排布形成,每个功能基元由衬底材料与所述衬底材料的第一表面上的纳米柱组成;每个功能基元的结构是中心对称的且其纳米柱为根据编码矩阵得到的多边形柱,且所述功能基元包括多种构型,不同构型的功能基元具有相同的衬底尺寸、相同的纳米柱的高度和不同的纳米柱截面的几何形状,以形成随机对称多边形编码型功能基元;波长复用的全息图超表面中所分布的各功能基元的构型根据全息图超表面的相位分布确定。本发明专利技术还提供相应的制作方法。本发明专利技术的超表面及其制作方法能兼顾功能基元构型的多样性与随机性,提高透过率。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术属于全息,具体涉及一种波长复用的全息图超表面及其制作方法


技术介绍

1、全息技术是通过与参考光的干涉作用记录物体的光场信息,在参考光的衍射作用下重建物体光场,具有显示物体三维影像的特点,提供人眼所需的全部深度信息,在增强现实(ar),遥感通信、信息加密与存储中等领域中得到广泛的应用。

2、全息技术可分为传统光学全息技术、数字全息技术和计算全息技术。传统光学全息技术是利用高强度的相干光源和传统光学透镜组来实现全息,而数字全息技术则是利用光电耦合器件记录物光信息,再通过空间光调制器再现全息图像。由于传统光学全息与数字全息技术要求高相干性、高功率的准直激光光源以及严苛的实验条件,导致光学元件设计难度大,自由度较低,体积较大,难以满足光学系统轻量化、集成化的要求。1966年计算全息技术的出现大大简化了全息图设计方式。计算全息技术是通过计算机数值计算模拟光学记录与光学重建来合成全息图,免去了严苛的实验环境和复杂的处理流程,能够灵活快速地设计高分辨率、低噪声的全息图。

3、全息技术需要理想的光学敏感介质材料来记录物体的光场信息,光学本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种波长复用的全息图超表面,其特征在于,其由多个亚波长尺度的功能基元在平面上有序排布形成,每个功能基元由衬底材料与所述衬底材料的第一表面上的纳米柱组成;每个功能基元的结构是中心对称的且其纳米柱为根据编码矩阵得到的多边形柱,且所述功能基元包括多种构型,不同构型的功能基元具有相同的衬底尺寸、相同的纳米柱的高度和不同的纳米柱截面的几何形状,以形成随机对称多边形编码型功能基元;波长复用的全息图超表面中所分布的各功能基元的构型根据全息图超表面的相位分布确定。

2.根据权利要求1所述的波长复用的全息图超表面,其特征在于,多种构型的功能基元通过以下步骤来获取:>

3.根据权利...

【技术特征摘要】

1.一种波长复用的全息图超表面,其特征在于,其由多个亚波长尺度的功能基元在平面上有序排布形成,每个功能基元由衬底材料与所述衬底材料的第一表面上的纳米柱组成;每个功能基元的结构是中心对称的且其纳米柱为根据编码矩阵得到的多边形柱,且所述功能基元包括多种构型,不同构型的功能基元具有相同的衬底尺寸、相同的纳米柱的高度和不同的纳米柱截面的几何形状,以形成随机对称多边形编码型功能基元;波长复用的全息图超表面中所分布的各功能基元的构型根据全息图超表面的相位分布确定。

2.根据权利要求1所述的波长复用的全息图超表面,其特征在于,多种构型的功能基元通过以下步骤来获取:

3.根据权利要求1所述的波长复用的全息图超表面,其特征在于,根据全息图超表面的相位分布确定波长复用的全息图超表面中所分布的各功能基元的构型,具体包括:

4.根据权利要求3所述的波长复用的全息图超表面,其特征在于,在所述步...

【专利技术属性】
技术研发人员:蓝盾甘峰源李伟周易黄海阳
申请(专利权)人:中国科学院上海微系统与信息技术研究所
类型:发明
国别省市:

网友询问留言 已有0条评论
  • 还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。

1