一种高电压介质损耗测试装置制造方法及图纸

技术编号:4202541 阅读:168 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
一种高电压介质损耗(tgδ)测试装置,包括高电压介质损耗(tgδ)测试仪(集高压介损电桥和变频电源为一体的一体化电桥)、与测试仪连接的励磁变压器、连接励磁变压器的高压谐振电抗器、连接高压谐振电抗器的高压标准电容器,其特征在于,所述一体化电桥包括谐振变频电源和测量桥体,被试品连接于高压谐振电抗器与测试仪之间,补偿电容器并联于被试品高压端,其低压端与测试仪外壳一起接地。所述装置采用谐振方式升压,由此,可大大降低对电源容量的要求,而且单件的重量不会太大,便于在现场试验使用。使用本实用新型专利技术的高电压介质损耗(tgδ)测试装置可有效提高试验准确性,提高电网的安全运行情况。(*该技术在2019年保护过期,可自由使用*)

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及电力设备检测装置,更具体地,本技术涉及一种适用于超高压电网的高电压介质损耗(tgS)测试装置。所述适用于超高压电网的高电压介质损耗 (tg δ)测试装置采用谐振方式升压,由此,可大大降低对电源容量的要求,而且单件的重量 不会太大,便于在现场试验使用。使用本技术的高电压介质损耗(tgδ)测试装置可有 效提高试验准确性,提高电网的安全运行情况。
技术介绍
对超高压电网的电气设备来说,测量介质损失角正切是一项灵敏度很高的试验项 目,它可以发现电气设备绝缘整体受潮、劣化变质以及小体积被试设备贯通和未贯通的局 部缺陷,在电工制造及电气设备交接和预防性试验中都得到了广泛的应用,介损测试结果 也直接影响对设备运行状况的判断。现行介质损耗tg δ试验的试验方法(1OkV下的试验)目前现场广泛开展的介损试验,是按照《电气装置安装工程电气设备交接试验标 准》和《电气设备预防性试验规程》的要求,加测试电压IOKV进行的。通常进行高压介损测量时都是采用工频试验变压器升压的方式得到试验电压。此时,试验仪器将高压介损测试仪,变频电源,励磁变压器等部件设计在一个机箱 内,并具有高压保护,接地检测,防容升等安全措施。一般仪器具备常规的内接方式,外接升 压器和外接标准电容器等工作方式,能在不外接其它设备的情况下完成IOKV电压以下的 介损试验。然而,现行试验方法存在的弊端是,(有些缺陷在低电压下不能被发现),例如, 2008年,用HV9001介损测试仪对杨高站杨机2156线流变进行介质损测量,测出tg δ值为 0.5,在标准范围内,认为该设备试验合格。然而,在该设备投运一月后,该流变其中一相膨 胀器出现异常情况,运行值班人员对其进行紧急停电。再次用HV9001对其进行试验,发现 数据超出标准范围。经对上述情况的研究,确认其原因是,试验电压与运行电压不匹配。现行常用的介损测量仪可达到的最高试验电压为10KV,而随着电气设备电压等级 的不断提高,IOKV测试电压相对设备额定电压越来越低,受GARTON效应的影响越来越大, 因此,IOKV测试数据的准确性也越来越低。某些进口设备,特别是500kV断路器均压电容, 由于所采用的绝缘材料与国内电容器厂家采用的绝缘材料不同,GARTON效应的影响比较显 著。500kV断路器均压容的额定电压都在170kV以上,有些额定电压为280kV,IOkV的介损 测试电压远远低于其额定电压,测试数据与高压下的介损值差别则较大。因此这是要因。另外,由于大容量试品试验时需要的电源容量较大,如果采用传统的试验变压器 升压,设备庞大,而且对电源的容量也要求较高,不适合在现场试验使用。为了避免类似情况再次发生,必须提高介质损耗tg δ试验的有效性。即,应研发 一种可大大降低对电源容量的要求,而且单件的重量不会太大,便于在现场试验使用。有效提高试验准确性,提高电网的安全运行情况的高电压介质损耗(tgδ)测试装置。
技术实现思路
为克服上述问题,本技术的目的在于,提供一种高电压介质损耗(tgS)测试 装置,所述高电压介质损耗(tgS)测试装置特别适用于超高压电网,系针对大容量试品采 用谐振方式升压,可大大降低对电源容量的要求,而且单件的重量不会太大,便于在现场试 验使用。有效提高试验准确性,提高电网的安全运行情况。本技术的高电压介质损耗(tg δ )测试装置如下实现一种高电压介质损耗(tg δ )测试装置,包括高电压介质损耗(tg δ )测试仪(集 高压介损电桥和变频电源为一体的一体化电桥)、与测试仪连接的励磁变压器、连接励磁变 压器的高压谐振电抗器、连接高压谐振电抗器的高压标准电容器,其特征在于,所述一体化 电桥形成集高压介损电桥和变频电源为一体的一体化电桥,所述一体化电桥包括谐振变频 电源和测量桥体,被试品连接于高压谐振电抗器与测试仪之间,补偿电容器并联于被试品 高压端,其低压端与测试仪外壳一起接地。根据本技术的高电压介质损耗(tgS)测试装置,其特征在于,所述高电压介 质损耗(tg δ)测试仪、励磁变压器、高压谐振电抗器、高压标准电容器、补偿电容器及一体 化电桥的电源装置部分,构成可程控串联谐振升压试验电源电路。根据本技术的高电压介质损耗(tgS)测试装置,其特征在于,在高压谐振电 抗器与测试仪之间连接的补偿电容器的测试装置连接端接地。根据本技术的高电压介质损耗(tgS)测试装置,其特征在于,所述高电压介 质损耗(tgS)测试仪设置有试验数据的存储、打印、USB输出接口。根据上述,本技术的整套装置可实现试验电压连续升、降压功能,自动完成被 试设备电容量、tg δ、试验电压值的多点持续测量。根据本技术的高电压介质损耗(tg δ )测试装置,励磁变压器型号为KSLB-5, 其额定输入电压(Tl60V,额定输出电压0 10kV,最大工作电流32Α,额定容量5kVA。根据本技术的高电压介质损耗(tgS)测试装置,电抗器(4节)型号 KSGL-F40/0. 5,采用真空环氧整体浇注,为便携式,体积小,重量轻,其额定容量20kVA,额 定电压:40kV,额定电流0. 5A,电感量325H。根据本技术的高电压介质损耗(tgS)测试装置,标准电容器型号 SYL-160/100F,损耗正切值不大于5X10_5电容稳定性强,介质损耗极小。根据本技术 的高电压介质损耗(tg δ )测试装置,其特征在于,所述高电压介质损耗(tg δ )测试仪设置 有试验数据的存储、打印、USB接口输出。由此,本技术装置可显示、绘制相应曲线。同时还可实现试验数据的存储、打 印、USB接口输出。根据上述,本技术的高电压介质损耗(tg δ )测试装置由可调频、调幅的变频 电源,经由励磁变压器、高压谐振电抗器与电容器谐振,产生高压电源,施加于标准电容器 和被试设备上。将两者低压侧的电流信号输入高压介损测试仪,采样低压侧信号,根据电桥 原理,运用计算机的数据处理能力,实现高电压下电气设备介质损耗等参数的自动化、数字 化测量,并显示输出被试品的电容量和介损测量值并绘制测量曲线。附图说明图1为本技术的高电压介质损耗(tg δ )测试装置线路图。具体实施方式以下结合附图和具体实施方式对本技术的高电压介质损耗(tg δ )测试装置 作进一步说明。实施例1一种高电压介质损耗(tg δ )测试装置,包括高电压介质损耗(tg δ )测试仪(集 高压介损电桥和变频电源为一体的一体化电桥)、与测试仪连接的励磁变压器、连接励磁变 压器的高压谐振电抗器、连接高压谐振电抗器的高压标准电容器,其特征在于,所述一体化 电桥包括谐振变频电源和测量桥体,被试品连接于高压谐振电抗器与测试仪之间,补偿电 容器并联于被试品高压端,其低压端与测试仪外壳一起接地。由此,本实施例的整套装置的测试仪、励磁变压器、高压谐振电抗器、高压标准电 容器、补偿电容器及一体化电桥当中电源装置部分,构成可程控串联谐振升压试验电源电 路。可实现试验电压连续升、降压功能,自动完成被试设备电容量、tg δ、试验电压值的多点 持续测量。根据本实施例的高电压介质损耗(tg δ )测试装置,所述高电压介质损耗(tg δ ) 测试仪设置有试验数据的本文档来自技高网
...

【技术保护点】
一种高电压介质损耗测试装置,包括高电压介质损耗测试仪、与测试仪连接的励磁变压器、连接励磁变压器的高压谐振电抗器、连接高压谐振电抗器的高压标准电容器,其特征在于,所述测试仪形成集高压介损电桥和变频电源为一体的一体化电桥,所述一体化电桥包括谐振变频电源和测量桥体,被试品连接于高压谐振电抗器与测试仪之间,补偿电容器并联于被试品高压端,其低压端与测试仪外壳一起接地。

【技术特征摘要】
一种高电压介质损耗测试装置,包括高电压介质损耗测试仪、与测试仪连接的励磁变压器、连接励磁变压器的高压谐振电抗器、连接高压谐振电抗器的高压标准电容器,其特征在于,所述测试仪形成集高压介损电桥和变频电源为一体的一体化电桥,所述一体化电桥包括谐振变频电源和测量桥体,被试品连接于高压谐振电抗器与测试仪之间,补偿电...

【专利技术属性】
技术研发人员:周鸿伟徐志坚孙庆龙包勇强张黎琳卢静文王娟
申请(专利权)人:上海市电力公司超高压输变电公司
类型:实用新型
国别省市:31[中国|上海]

网友询问留言 已有0条评论
  • 还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。

1