发光校正方法与显示器技术

一种发光校正方法与显示器，此显示器包括电压源、发光二极管阵列、脉冲宽度调制电路、电流感测器与发光校正单元。此电压源提供工作电压。此发光二极管阵列接收工作电压。此脉冲宽度调制电路依序提供工作脉冲至每一个发光二极管。电流感测器则于发光二极管被依序点亮时在不同时间点分别检测流经发光二极管的总电流值。发光校正单元根据所接收到的总电流值计算流经每一个发光二极管的工作电流值，之后再作补偿运算，以得到及输出补偿信号。本发明专利技术因每ｍ个发光二极管才配置一电流检测器，因此可节省电流检测器的数量。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种具有发光二极管阵列的显示器，且特别涉及一种可调整每一个发光二极管的工作脉冲的发光校正方法与显示器。
技术介绍
请参照图7，其为示出公知的显示器的电路示意图。在图7中，显示器700由n列的发光二极管列Li Ln所组成，而每一列中则包括m个发光二极管LEDi LEDm。以发光二极管列Li而言，发光二极管LEDi LEDm以并联方式与电压源702做电性耦接，以接收电压源702所传来的工作电压。而每一个发光二极管LEDi LEDm与电压源702之间均电性耦接有感测装置704，此感测装置704用于检测每一个发光二极管LEDi LEDm的工作电流值，并将所得到的工作电流值输出至模拟数字转换器706。每个模拟数字转换器706将所接收到的工作电流值经模拟数字转换后输出至显示器700的驱动电路(未示出)。另外，发光二极管LEDi LEDm也接收一工作脉冲，并根据此工作脉冲决定点亮的时序。但在公知技术中，每一发光二极管都需一组电流检测器，才能检测每一区域的电流值，因此电流检测器的数目会造成成本上升。而若是改用多个发光二极管共用一组电流检测器，则由于所测量到的电流值是共用同一组电流检测器的这些发光二极管的各个电流值的总和，所以只能针对由这些发光二极管组成的一个区域做点亮控制而无法对单一发光二极管进行亮度调整，如此将使亮度调整的精确度降低。
技术实现思路
本专利技术的目的就是提供一种发光校正方法，其可计算出各个发光二极管电流值，进而计算出补偿值，以此补偿值重新驱动发光二极管。本专利技术的再一目的是提供一种显示器，其为利用发光二极管之间的发光时间差，检测及记录背光或显示器的各电流组的发光二极管的电流值。本专利技术提出一种发光校正方法，适用于发光二极管阵列。此发光二极管阵列由n列的发光二极管列(Li Ln)所组成，且每一发光二极管列以m个并联的发光二极管(LEDi LEDm)组成一个发光区。此发光校正方法首先为提供工作电压至每一个发光二极管。其次，依序提供工作脉冲至每一个发光二极管。接着，根据工作电压与工作脉冲依序点亮每一个发光二极管，并分时检测流经发光二极管的多个总电流值以根据这些总电流值来计算每一个发光二极管的工作电流值。接着，根据工作电流值作补偿运算，并得到补偿信号。最后再根据补偿信号校正工作脉冲。在本专利技术的较佳实施例中，上述的分时检测流经这些发光二极管的总电流值的步骤首先为于依序点亮每一个发光二极管时，在分时检测的每个时间点检测得到一次总电流值与这些发光二极管中相对应被点亮的个体及数量。在本专利技术的较佳实施例中，其中根据多个总电流值来计算每一个发光二极管的工作电流值的歩骤为依据多个总电流值与相对应的多个发光二极管中被点亮的个体及数量计算以得到每一个发光二极管的工作电流值。在本专利技术的较佳实施例中，上述的根据该工作电流值作该补偿运算并得到该补偿信号的步骤首先为以工作电流值与预设电流值相比较而得到补偿信号。其次，当工作电流值大于预设电流值时，则以补偿信号縮短工作脉冲的占空比(duty cycle)。反之，当工作电流值小于预设电流值时，则以补偿信号延长工作脉冲的占空比。本专利技术再提出一种显示器，其包括电压源、发光二极管阵列、脉冲宽度调制电路、电流感测器与发光校正单元。上述的电压源提供工作电压。上述的发光二极管阵列由n列发光二极管所组成，且每一发光二极管列由m个的发光二极管进行并联，并电性耦接至电压源，以接收工作电压。上述的脉冲宽度调制电路电性耦接至每一个发光二极管，以依序提供工作脉冲至每一个发光二极管。上述的电流感测器电性耦接至电压源的电压输出端与每一发光二极管列中的发光二极管的电压输入端，以于发光二极管被依序点亮时在不同时间点分别检测流经发光二极管的总电流值。上述的发光校正单元电性耦接至电流感测器与脉冲宽度调制电路，以根据总电流值计算每一个发光二极管的工作电流值，之后再根据每一个发光二极管的工作电流值而作补偿运算，以得到及输出补偿信号。在本专利技术的较佳实施例中，上述的发光校正单元依据总电流值与相对应的发光二极管中被点亮的个体及数量计算以得到每一个发光二极管的工作电流值。本专利技术因每m个发光二极管才配置一电流检测器，因此可节省电流检测器的数量。此外，因为利用发光二极管之间的发光时间差，所以可以通过检测及记录背光或显示器的各电流组的发光二极管的电流值，并加以计算出各个发光二极管电流值,进而计算出各个发光二极管的补偿值，再以此补偿值分别驱动各发光二极管。为让本专利技术的上述和其他目的、特征和优点能更明显易懂，下文特举较佳实施例，并配合附图，作详细说明如下。附图说明图1为示出本专利技术一实施例的显示器的电路示意图。图2为示出本专利技术一实施例的工作脉冲的波形示意图。图3为示出本专利技术一实施例的单一发光二极管的工作脉冲的时间与电流值的脉冲关系示意图。图4A为示出本专利技术一实施例的前后相邻的发光二极管的工作脉冲的时间与工作电流值的脉冲关系示意图。图4B为示出本专利技术另一实施例的前后相邻的发光二极管的工作脉冲的时间与工作电流值的脉冲关系示意图。图5为示出本专利技术一实施例的单一发光二极管列的时间与工作电流值的脉冲关系示意图。图6为示出本专利技术一实施例的发光校正方法的步骤流程图。图7为示出公知的显示器的电路示意图。上述附图中的附图标记说明如下100、 700:显示器102:电压源104:电流感测器106;脉冲宽度调制电路7108:发光校正单元110、 706:模拟/数字转换装置112、 704:感测装置202:开始时间点204:低逻辑脉冲206:间隔延迟时间302、 304、 402、 404、 406、 408、 410:时间区间LEDl LEDm:发光二极管Ll Ln:发光二极管列S602 S614:各个步骤流程tl ti:时间点具体实施例方式请参照图1，其示出本专利技术一实施例的显示器的电路示意图。在本实施例中，显示器100包括多个电压源102、电流感测器104、脉冲宽度调制电路106、发光校正单元108以及n列的发光二极管列Li Ln。其中，显示器IOO可以例如是液晶显示器、液晶电视、笔记本电脑或使用液晶的电子装置，但均不以此为限。每一电压源102具有两端， 一端(电压输出端)为电性耦接至相对应的发光二极管列Li Ln其中之一，以提供工作电压，而电压源102的另一端则为电性耦接至接地电压(ground)。n列的发光二极管列Li Ln为构成显示器100的发光二极管阵列。而在发光二极管列Li Ln中，每一个发光二极管列为由m个的发光二极管LEDi LEDm进行并联。在图1中，每一个发光二极管LEDi LEDm的电压输入端电性耦接至电压源102的一端(输出工作电压端)，以接收工作电压，而每一个发光二极管LEDi LEDm的另一端则电性耦接至接地电压。在本专利技术的较佳实施例中，n与m为大于等于O的整数。另外，发光二极管阵列也可以例如是由两排或两排以上的发光二极管列Li Ln所组成，但均不以此为限。脉冲宽度调制电路106电性耦接至每一个发光二极管LEDi LEDm，以依序提供工作脉冲至每一个发光二极管LED卜LEDm。电流感测器104电性耦接至电压源102的电压输出端与每一个发光二极管LEDi LEDm的电压输入端。电流感测器104于发光二极管LEDi LEDm被根本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种发光校正方法，适用于一发光二极管阵列，该发光二极管阵列由ｎ列的发光二极管列所组成，且每一所述发光二极管列以ｍ个并联的发光二极管组成一发光区，该发光校正方法包括：提供一工作电压至该ｍ个发光二极管；依序提供一工作脉冲至每一该ｍ个发光二极管；根据该工作电压与该工作脉冲依序点亮每一该ｍ个发光二极管，并分时检测流经该ｍ个发光二极管的多个总电流值；根据所述总电流值来计算每一该ｍ个发光二极管的一工作电流值；根据该工作电流值作一补偿运算，并得到一补偿信号；以及根据该补偿信号校正该工作脉冲。

【技术特征摘要】
1.一种发光校正方法，适用于一发光二极管阵列，该发光二极管阵列由n列的发光二极管列所组成，且每一所述发光二极管列以m个并联的发光二极管组成一发光区，该发光校正方法包括提供一工作电压至该m个发光二极管；依序提供一工作脉冲至每一该m个发光二极管；根据该工作电压与该工作脉冲依序点亮每一该m个发光二极管，并分时检测流经该m个发光二极管的多个总电流值；根据所述总电流值来计算每一该m个发光二极管的一工作电流值；根据该工作电流值作一补偿运算，并得到一补偿信号；以及根据该补偿信号校正该工作脉冲。2. 如权利要求1所述的发光校正方法，其中分时检测流经该m个发光二极管的所述总电流值的步骤包括于依序点亮每一该m个发光二极管时，在分时检测的每个时间点检测得到每一所述总电流值与该m个发光二极管中相对应被点亮的个体及数量。3. 如权利要求2所述的发光校正方法，其中根据该些总电流值来计算每一该m个发光二极管的该工作电流值的步骤包括依据所述总电流值与相对应的该m个发光二极管中被点亮的个体及数量计算以得到每一该m个发光二极管的该工作电流值。4. 如权利要求3所述的发光校正方法，其中在每一所述发光二极管列中前后相邻的发光二极管的工作脉冲包括每一所述发光二极管列中行与行之间的一行间隔延迟时间的差距。5. 如权利要求4所述的发光校正方法，其中在每一所述发光二极管列中前后相邻的发光二极管的工作脉冲包括一液晶转态延迟时间的差距。6. 如权利要求4所述的发光校正方法，其中每一所述发光二极管列中行与行之间的该间隔延迟时间为以一画面时间与每一所述发光二极管列中行的数目所定义。7. 如权利要求3所述的发光校正方法，其中根据该工作电流值作该补偿运算并得到该补偿信号的步骤包括.-以该工作电流值与一预设电流值相比较而得到该补偿信号；当该工作电流值大于该预设电流值时，则该补偿信号用于縮短该工作脉冲的占空比；以及当该工作电流值小于该预设电流值时，则该补偿信号用于延长该工作脉冲的占空比。8. 如权利要求5所述的发光校正方法，其中在计算每一该m个发光二极管的该工作电流值时，该工作脉冲的时间已减去每一所述发光二极管列中行与行之间的该间隔延迟时间与该液晶转态延迟时间。9. 如权利要求7所述的发光校正方法，其中该预设电流值为暗区亮度的电流值。10. 如权利要求7所述的发光校正方法，其中该预设电流值为亮区亮度的电流值。11. 如权利要求7所述的发光校正方法，其中该预设电...

【专利技术属性】
技术研发人员：柯见铭，李弘庆，许枝福，李岳翰，
申请(专利权)人：友达光电股份有限公司，
类型：发明
国别省市：71[中国|台湾]