【技术实现步骤摘要】
本专利技术属于芯片封装,具体涉及一种低热阻板级半桥功率模块封装结构及制备方法。
技术介绍
1、扇出型板级封装(foplp)是将晶圆基板替换为面板基板,并采用扇出型封装的方式进行封装,从而实现更高效、更精确的产品。foplp所使用的工艺生产方法具有更高的利用率、更低成本的潜力。
2、文献1(braun et al.)指出对于扇出晶圆级封装,会遇到两种基本工艺流程,即“模具优先”或“重新布线层(rdl)优先”方法。对于“模具优先”工艺,同时存在面朝下和面朝上两种方法。这两种方法都已在大规模生产中。“模具优先”面朝下方法从中间载体上的模具组装开始,然后将模制晶片/面板从载体上二次成型和脱胶。基于薄膜技术,再分布层最终被施加在重新配置的模制晶片/面板上。面朝上的方法从具有临时粘合层的载体模具开始。但这里的裸片有一个cu凸块,并且面朝上放置在载体上。在二次成型后,再次打开模具的cu凸块。施加重新分布层,最后将晶片从载体上释放并切割用于封装单体化。对于“rdl优先”方法,首先在中间载体上搭建rdl层,并通过在rdl上进行芯片到晶片的接合
...【技术保护点】
1.一种低热阻板级半桥功率模块封装结构,其特征在于,包括:
2.如权利要求1所述的封装结构,其特征在于,采用环氧树脂塑封料填充整个封装空隙,整个封装的厚度为1mm。
3.如权利要求2所述的封装结构,其特征在于,顶部散热器厚度为0.1mm,RDL重新布线层厚度为0.25m,SiC MOSFET芯片厚度为0.15mm,焊料层厚度为0.25mm。
4.如权利要求2或3所述的封装结构的制备方法,其特征在于,具体制备步骤如下:
5.如权利要求4所述的制备方法,其特征在于,所述环氧树脂塑封料的两次填充,第一次45℃进行连接,第二次1
...【技术特征摘要】
1.一种低热阻板级半桥功率模块封装结构,其特征在于,包括:
2.如权利要求1所述的封装结构,其特征在于,采用环氧树脂塑封料填充整个封装空隙,整个封装的厚度为1mm。
3.如权利要求2所述的封装结构,其特征在于,顶部散热器厚度为0.1mm,rdl重新布线层厚度为0.25m,sic mo...
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