光学检测设备和具有该光学检测设备的片材处理设备制造技术

本发明专利技术涉及光学检测设备和具有该光学检测设备的片材处理设备。一种光学检测设备（１３５），包括检测器（５），被配置成在传输片材的传输路径上的预定读取区域中检测图像数据，第一照明器（３），被配置成间歇性地发射激发光至包括所述检测器的所述读取区域的第一照明区域，第二照明器（４），被配置成连续地发射激发光至在所述传输路径上的所述第一照明区域的上游、与第一照明区域连续并且不包括所述检测器的所述读取区域的第二照明区域，和控制单元（６），被配置成根据所述第一照明器的发射操作，控制所述检测器检测所述片材的图像数据。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种光学检测设备，该设备例如检测来自传输片材的光，并且涉及一种具有该光学检测设备的片材处理设备。
技术介绍
一种用来计数和识别各种片材的片材处理设备已经被实际应用。片材处理设备一 张一张地取入输入到输入部分的片材，并将其传输到光学检测设备。该光学检测设备检测 来自片材的光并基于检测到的光获得图像。基于该获得的图像，片材处理设备确定片材的 种类、真实性、和再循环的可能性。基于该确定的结果，纸张处理设备分类并堆叠片材。在要被片材处理设备处理的片材上，荧光打印信息(第一打印信息)和磷光打印 信息(第二打印信息)被打印。荧光打印信息用包括荧光物质的墨水(荧光墨水)打印。 荧光物质被从激发光源发射出的激发光(例如紫外光)激发，并且变成发射光(荧光)的 状态。如果激发光的发射被中断，荧光物质变成不发射光的状态。磷光打印信息用包括磷 光物质的墨水(磷光墨水)打印。磷光物质被从激发光源发射出的激发光(例如紫外光) 激发，并且变成发射光的状态。如果激发光的发射被中断，磷光物质变成发射逐渐衰减的光 (余辉(afterglow))的状态。片材处理设备具有荧光检测器，其从激发光源发射激发光到本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种用于从打印有荧光物质和磷光物质的片材检测荧光和余辉的光学检测设备，其特征在于包括：检测器（５），被配置成在传输片材的传输路径上的预定读取区域中检测图像数据；第一照明器（３），被配置成间歇性地将激发光发射到包括所述检测器的所述读取区域的第一照明区域；第二照明器（４），被配置成连续地将激发光发射到第二照明区域，所述第二照明区域在所述传输路径上在所述第一照明区域的上游与第一照明区域连续，并且不包括所述检测器的所述读取区域；和控制单元（６），被配置成根据所述第一照明器的发射操作，控制所述检测器检测所述片材的图像数据。

【技术特征摘要】
JP 2009-2-20 2009-038203一种用于从打印有荧光物质和磷光物质的片材检测荧光和余辉的光学检测设备，其特征在于包括检测器(5)，被配置成在传输片材的传输路径上的预定读取区域中检测图像数据；第一照明器(3)，被配置成间歇性地将激发光发射到包括所述检测器的所述读取区域的第一照明区域；第二照明器(4)，被配置成连续地将激发光发射到第二照明区域，所述第二照明区域在所述传输路径上在所述第一照明区域的上游与第一照明区域连续，并且不包括所述检测器的所述读取区域；和控制单元(6)，被配置成根据所述第一照明器的发射操作，控制所述检测器检测所述片材的图像数据。2.根据权利要求1所述的光学检测设备，其特征在于，所述控制单元被配置成控制所 述检测器在所述第一照明器接通后经过给定时间段之后检测所述片材的荧光图像，和在所 述第一照明器关断后经过给定时间段之后检测所述片材的余辉图像。3.根据权利要求1所述的光学检测设备，其特征在于，所述第二照明器根据所述荧光 物质和磷光物质的发射饱和时间和所述片材的传输速度控制所述第二照明区域。4.根据权利要求1所述的光学检测设备，其特征在于，所述第二照明器根据所述荧...

【专利技术属性】
技术研发人员：猪狩精司，三浦淳二，
申请(专利权)人：株式会社东芝，
类型：发明
国别省市：JP[日本]