【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及荧光分析用光学分波检测器和具有所述检测器的荧光检测系统。
技术介绍
为了检测如微孔、微化学芯片或微毛细管等微小区域中存在的痕量物质，通常使 用诸如热透镜分光光度法和荧光光谱法等光学测定法。在荧光光谱法中，通过以预定波长的光照射样品，并测定该样品发出的荧光，就可 测定样品中含有的被测物质的浓度。对于用于所述荧光检测的系统，已经提出了构成如图 6所示的荧光检测系统(例如见日本特开2005-30830号公报)。在该荧光检测系统中，光源91发射的预定波长的光(激发光)经光纤95 (第一光 传输路径)传输至光学分波器92，然后由光学分波器92传输至光纤96 (第二光传输路径)， 之后，由设置在光纤96远端的探头94向样品99输出。由于激发光照射而由样品发射的荧 光由探头94接收，经光纤96传输至光学分波器92，然后通过光纤97 (第三光传输路径)传 输至检测器93，并被检测器93转换为电信号。图7示意性显示了图6的荧光检测系统中使用的光学分波器的构造。光学分波器 92构造为通过筒状保持部件86保持两者之间插入有光学分波滤光片81的两个透镜82 和83、保持...
【技术保护点】
一种荧光分析用光学分波检测器，所述检测器将经第一光传输路径接收的激发光输出至第二光传输路径，经所述第二光传输路径接收由所述第二光传输路径输出的所述激发光产生的荧光，并检测所述荧光，所述检测器包括：第一透镜，所述第一透镜在同一表面上接收通过所述第一光传输路径传播的所述激发光和通过所述第二光传输路径传送的所述荧光；包含电介质多层膜的第一光波长选择部件，所述第一光波长选择部件接收透过所述第一透镜的所述激发光和所述荧光，并反射所述激发光和透过所述荧光；和光电转换元件，所述光电转换元件直接接收透过所述第一光波长选择部件的所述荧光。
【技术特征摘要】
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