半导体装置及半导体装置的制造方法制造方法及图纸

技术编号:41708043 阅读:14 留言:0更新日期:2024-06-19 12:38
本发明专利技术提供半导体装置及半导体装置的制造方法,抑制半导体芯片或键合引线从密封树脂露出。半导体装置具备:支承构件;配设有第1键合焊盘的第1半导体芯片;配设于支承构件与第1半导体芯片之间且配设有第2键合焊盘及第1绝缘膜的第2半导体芯片;将支承构件、第1键合焊盘及第2键合焊盘连接的键合引线;和至少将第1半导体芯片、第2半导体芯片及键合引线密封的密封树脂,第2半导体芯片具有与支承构件相对的第1表面和第1表面的相反侧的第2表面,第2表面包括:配设有第2键合焊盘及第1绝缘膜的第1键合区域;和第1层叠区域,成为形成得比第1绝缘膜的表面低的第1低位表面,且在第1低位表面的至少一部分配设有第1半导体芯片。

【技术实现步骤摘要】

本实施方式涉及半导体装置及半导体装置的制造方法


技术介绍

1、在半导体装置中,存在将层叠的多个半导体芯片安装在安装基板上的半导体装置。

2、现有技术文献

3、专利文献

4、专利文献1:日本特开2019―57575号公报

5、专利文献2:美国专利申请公开us2022/0208730号说明书

6、专利文献3:美国专利申请公开us2010/0022035号说明书


技术实现思路

1、专利技术所要解决的课题

2、例如,设置在半导体芯片上的键合(bonding)焊盘与安装基板通过引线(wire)键合。并且,半导体芯片及引线由树脂密封。此时,有时半导体芯片或引线从树脂的上方露出。

3、本公开的目的在于,提供能够抑制半导体芯片或键合引线从密封树脂露出的半导体装置及半导体装置的制造方法。

4、用于解决课题的技术方案

5、本公开涉及的半导体装置具备:支承构件,其具有外部端子;第1半导体芯片,其配设有第1键合焊盘;第2半导本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种半导体装置,具备:

2.根据权利要求1所述的半导体装置,

3.根据权利要求1所述的半导体装置,

4.根据权利要求1所述的半导体装置,

5.根据权利要求1~4中任一项所述的半导体装置,

6.根据权利要求5所述的半导体装置,

7.一种半导体装置,具备:

8.根据权利要求7所述的半导体装置,

9.根据权利要求8所述的半导体装置,

10.根据权利要求7所述的半导体装置,

11.根据权利要求9所述的半导体装置,

12.根据权利要求7所述的半导体装置,

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【技术特征摘要】

1.一种半导体装置,具备:

2.根据权利要求1所述的半导体装置,

3.根据权利要求1所述的半导体装置,

4.根据权利要求1所述的半导体装置,

5.根据权利要求1~4中任一项所述的半导体装置,

6.根据权利要求5所述的半导体装置,

7.一种半导体装置,具备:

8.根据权利要求7所述的半导体装置,

9.根据权利要求8所述的半导体装置,

10.根据权利要求7所述的半导体装置,

11.根据权利要求9所述的半导...

【专利技术属性】
技术研发人员:佐藤祐辉金野司
申请(专利权)人:铠侠股份有限公司
类型:发明
国别省市:

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