一种工件交接位置补偿方法、装置、设备及介质制造方法及图纸

技术编号:41591340 阅读:21 留言:0更新日期:2024-06-07 00:03
本申请实施例公开了一种工件交接位置补偿方法、装置、电子设备及介质。该方法包括:控制检测平台中的工件台向预交接区的第一位置移动,并控制携带待测工件的版叉向预交接区的第二位置移动;通过检测平台上的探测装置对所述版叉与所述工件台的相对位置偏差进行检测;其中,所述探测装置为固定于检测平台上能够对移动至预交接区的第二位置处的版叉进行探测的装置;根据所述相对位置偏差对所述工件台的位置和/或版叉的位置进行调整,以使工件台和版叉进行交接。上述方案对版叉和工件台位置的偏差进行精准检测,并根据相对位置偏差对工件台和/或版叉的位置进行调整消除偏差,保证了工件精准完成对接。

【技术实现步骤摘要】

本申请涉及自动化检测,尤其涉及一种工件交接位置补偿方法、装置、设备及介质


技术介绍

1、随着工业自动化、智能化的深入及普及,使用自动光学检测设备(auto opticalinspection,aoi)替代传统的人工目检,已成为技术发展趋势。aoi设备凭借其快速、精确的缺陷识别定位能力,在汽车、医药、交通、半导体等领域广泛使用。

2、在aoi设备中,工件的缺陷检测是其重要一个细分领域,在工件的缺陷检测流程中,有一个重要环节是工件从传输系统上版到检测平台,检测平台一般采用气浮平台及气浮隔振系统进行减振,工件台在运动到交接位置时,由于检测平台重心和气压的变化会导致检测平台的不稳定。在交接过程中,位置的偏差可能会导致交接失败,严重情况可能会破坏工件,从而影响mask检测效率和检测良率。


技术实现思路

1、本申请实施例提供了一种工件交接位置补偿方法、装置、设备及介质,以精准检测工件台和版叉之间的相对位置偏差,并进行位置调整消除位置偏差。

2、根据本申请的一方面,提供了一种工件交接位置补偿方法,本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种工件交接位置补偿方法,其特征在于,所述方法包括:

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述检测平台包括固定平台;所述探测装置的发射端位于所述固定平台的一边上,探测光线的发射方向朝向所述预交接区;所述探测装置的接收端与所述发射端位于同一侧,或相对设置于所述固定平台的另一侧上,所述探测装置包括至少一个。

3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述探测装置包括第一探测装置,用于检测所述版叉与工件台在第一方向上的相对位置偏差;第一方向为在水平面上与固定平台长度平行的方向;所述第一探测装置的发射端与接收端相对设置;

4.根据权利要求2所述的方法...

【技术特征摘要】

1.一种工件交接位置补偿方法,其特征在于,所述方法包括:

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述检测平台包括固定平台;所述探测装置的发射端位于所述固定平台的一边上,探测光线的发射方向朝向所述预交接区;所述探测装置的接收端与所述发射端位于同一侧,或相对设置于所述固定平台的另一侧上,所述探测装置包括至少一个。

3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述探测装置包括第一探测装置,用于检测所述版叉与工件台在第一方向上的相对位置偏差;第一方向为在水平面上与固定平台长度平行的方向;所述第一探测装置的发射端与接收端相对设置;

4.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述探测装置包括第二探测装置,用于检测所述版叉相对于工件台在第二方向上的偏差;第二方向为在水平面上垂直于固定平台长度的方向;所述第二探测装置的发射端与接收端在同一侧;

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【专利技术属性】
技术研发人员:贾俊伟
申请(专利权)人:上海御微半导体技术有限公司
类型:发明
国别省市:

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