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互补型金属氧化物薄膜晶体管、制备方法及运算放大电路技术

技术编号:41529812 阅读:31 留言:0更新日期:2024-06-03 23:05
本发明专利技术公开一种互补型金属氧化物薄膜晶体管、制备方法及运算放大电路,涉及集成电路设计技术领域,该互补型金属氧化物薄膜晶体管被划分为N型区部分和P型区部分,包括基板、缓冲层、核心层和钝化层,N型区部分的核心层包括N型区底栅电极层、N型区栅绝缘层、N型区有源层、N型区源漏电极层和N型区刻蚀阻挡层;P型区部分的核心层包括P型区有源层、P型区栅绝缘层、P型区源漏电极层和P型区顶栅电极层,从而设计出了一种同时具有N型和P型的互补型金属氧化物薄膜晶体管,相较于N型或P型MO‑TFT,其场效应迁移率和跨导更高,因而能够大大提升MO‑TFT电路的性能。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及集成电路设计,特别是涉及一种互补型金属氧化物薄膜晶体管、制备方法及运算放大电路


技术介绍

1、近年来,随着电子产品向柔性、可穿戴、轻薄化的发展,柔性电子器件凭借轻薄、可弯曲、可拉伸的特点,引起了学术界和产业界研究的热潮。相较于传统的硅基技术,tft技术可大面积成膜和可直接集成在柔性基板上的特点,更顺应时代发展的潮流。而mo-tft(metal-oxide thin-film transistor,金属氧化物薄膜晶体管)器件因其优良的性能、简单的制造工艺成为近年来tft技术中的热门研究对象。

2、然而n型或p型mo-tft的场效应迁移率较低,导致器件本身的跨导较低,从而大大影响了tft电路本身的性能,导致mo-tft电路的发展较为缓慢。


技术实现思路

1、本专利技术的目的是提供一种互补型金属氧化物薄膜晶体管、制备方法及运算放大电路,该互补型金属氧化物薄膜晶体管具有更高的场效应迁移率和跨导,将其应用于mo-tft电路中,能够大大提升mo-tft电路的性能。

<p>2、为实现上述目本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种互补型金属氧化物薄膜晶体管,其特征在于,所述互补型金属氧化物薄膜晶体管包括由下往上依次生长的基板、缓冲层、核心层和钝化层;

2.根据权利要求1所述的一种互补型金属氧化物薄膜晶体管,其特征在于,所述N型区底栅电极层覆盖N型区部分缓冲层的中间区域;

3.根据权利要求1所述的一种互补型金属氧化物薄膜晶体管,其特征在于,所述N型区有源层采用N型金属氧化物薄膜,所述P型区有源层采用P型金属氧化物薄膜。

4.一种互补型金属氧化物薄膜晶体管的制备方法,其特征在于,

5.根据权利要求4所述的一种互补型金属氧化物薄膜晶体管的制备方法,其特征在于,所述...

【技术特征摘要】

1.一种互补型金属氧化物薄膜晶体管,其特征在于,所述互补型金属氧化物薄膜晶体管包括由下往上依次生长的基板、缓冲层、核心层和钝化层;

2.根据权利要求1所述的一种互补型金属氧化物薄膜晶体管,其特征在于,所述n型区底栅电极层覆盖n型区部分缓冲层的中间区域;

3.根据权利要求1所述的一种互补型金属氧化物薄膜晶体管,其特征在于,所述n型区有源层采用n型金属氧化物薄膜,所述p型区有源层采用p型金属氧化物薄膜。

4.一种互补型金属氧化物薄膜晶体管的制备方法,其特征在于,

5.根据权利要求4所述的一种互补型金属氧化物薄膜晶体管的制备方法,其特征在于,所述p型金属氧化物薄膜为sno薄膜,所述n型金属氧化物薄膜为a-igzo薄膜。

6.一种基于互补型金属氧化物薄膜晶体管的运算放大电路,其特征在于,所述运算放大电路包括电源端口、接地端口、以及依次连接的偏置模块、差分输入模块、放大模块和输出缓冲模块;

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【专利技术属性】
技术研发人员:梁洁孟繁钊李意张磊张建华
申请(专利权)人:上海大学
类型:发明
国别省市:

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