【技术实现步骤摘要】
本专利技术属于集成电路可测性设计，尤其是一种存储器测试分组与调度的方法及系统。
技术介绍
1、在大规模芯片中，广泛分布着大大小小不同功能，不同端口的存储器单元。而存储器单元的可测性问题是数字电路dft设计中的重要内容。目前工业界通常采用mbist（memory build in self test）存储器内建自测试的方式，对这些存储单元进行有效测试。mbist的电路一般包含一个控制器和对应的存储器接口。控制器负责按照测试算法产生对应的测试地址、测试数据、读写控制及其它存储器功能控制信号，并将这些信号传递给存储器接口；控制器也负责接收存储器的输出数据的反馈，对输出数据进行比对。
2、由于dft插入的电路（包括mbist控制器以及与控制器连接的测试网络）属于辅助测试电路，所以理论上，在满足测试覆盖要求的前提下，这些电路在设计中使用得越少越好。使用越少，占用的额外芯片面积越少。结构明确后，dft工程师在进行mbist设计时思考的主要问题是：如何对分散在芯片上的这些存储单元进行有效规划和分组。在实际的芯片设计工程项目中，存储器测试分...
【技术保护点】
1.一种存储器测试分组与调度的方法，其特征在于，包括如下步骤：
2.根据权利要求1所述的存储器测试分组与调度的方法，其特征在于，所述使用强化学习模型对所有存储器进行测试调度之前还包括将存储器进行图形化，所述图形化为将每个存储器表示为一个矩形，矩形的边长代表该存储器的测试时间和测试功耗；
3.根据权利要求2所述的存储器测试分组与调度的方法，其特征在于，每个存储器对应的矩形，水平方向的长度代表测试时间，垂直方向的长度代表测试功耗；平面矩形容器水平方向的长度代表最大测试时间，垂直方向的长度代表测试功耗上限；
4.根据权利要求2所述的存储器...
【技术特征摘要】
1.一种存储器测试分组与调度的方法，其特征在于，包括如下步骤：
2.根据权利要求1所述的存储器测试分组与调度的方法，其特征在于，所述使用强化学习模型对所有存储器进行测试调度之前还包括将存储器进行图形化，所述图形化为将每个存储器表示为一个矩形，矩形的边长代表该存储器的测试时间和测试功耗；
3.根据权利要求2所述的存储器测试分组与调度的方法，其特征在于，每个存储器对应的矩形，水平方向的长度代表测试时间，垂直方向的长度代表测试功耗；平面矩形容器水平方向的长度代表最大测试时间，垂直方向的长度代表测试功耗上限；
4.根据权利要求2所述的存储器测试分组与调度的方法，其特征在于，所述强化学习模型的输入为（st，st+1，at，rt），st为当前平面矩形容器中的矩形摆放状态，st+1为下一时刻平面矩形容器中的矩形摆放状态，at为当前的摆放动作，rt为摆放每一个矩形的累计奖励值；
5.根据权利要求2所述的存储器测试分组与调度的方法，其特征在于，所述强化学习模型中的奖...
【专利技术属性】
技术研发人员：蔡志匡，张学伟，刘小婷，王子轩，严大鹏，郭宇锋，
申请(专利权)人：南京邮电大学，
类型：发明
国别省市：
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