发光芯片检测装置及发光芯片检测方法制造方法及图纸

本申请涉及一种发光芯片检测装置，发光芯片检测装置包括容器、多个检测通道、导电组件、拍摄模组及控制单元。检测通道与容器连通，导电组件位于检测通道内，拍摄模组位于检测通道的一侧，并与控制单元电连接，容器内设置有溶液及位于溶液内的多个发光芯片，多个发光芯片从容器进入检测通道内，使得发光芯片与导电组件接触，导电组件向发光芯片通电，拍摄模组获取通电后的发光芯片的图像，控制单元根据图像判断发光芯片是否合格。因此，通过将多个发光芯片放置于溶液中，可以避免发光芯片与其他设备剐蹭碰撞而出现损伤。在发光芯片与导电组件接触时，溶液可以起到缓冲作用，避免导电组件损伤发光芯片。本申请还涉及一种发光芯片检测方法。

【技术实现步骤摘要】

本申请涉及显示，特别涉及一种发光芯片检测装置及一种发光芯片检测方法。

技术介绍

1、微米发光二极管(micro light emitting diode，micro led)显示技术是新兴的显示技术，相较于常规的显示技术，micro led显示技术具有响应速度快、自主发光、对比度高、使用寿命长以及光电效率高等特点。

2、在制作形成micro led后，需要对micro led进行质量检测，以筛选出不合格的micro led。在现有技术中，由于micro led体积较小，主要使用接触式电致发光(electroluminescent，el)检测装置对micro led进行检测，但是，接触式el检测装置的探针容易损伤micro led。而且，在检测micro led时，micro led也会与其他设备碰撞而出现损伤，micro led损伤会导致其使用寿命减少。

3、因此，如何实现在对micro led进行质量检测过程中避免micro led出现损伤是本领域技术人员亟待解决的问题。

技术实现思路

<本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种发光芯片检测装置，其特征在于，包括容器、多个检测通道、多个导电组件、至少一个拍摄模组以及控制单元，多个所述检测通道与所述容器连通，所述导电组件设置于所述检测通道内，所述拍摄模组设置于所述检测通道的一侧，并与所述控制单元电连接，其中，所述容器内设置有溶液以及位于所述溶液内的多个发光芯片，多个所述发光芯片从所述容器进入所述检测通道内，使得所述发光芯片与所述导电组件接触，所述导电组件向所述发光芯片通电，所述拍摄模组获取通电后的所述发光芯片的图像，并将所述图像传输至所述控制单元，所述控制单元根据所述图像判断所述发光芯片是否合格。

2.如权利要求1所述的发光芯片检测装置，其特征...

【技术特征摘要】

1.一种发光芯片检测装置，其特征在于，包括容器、多个检测通道、多个导电组件、至少一个拍摄模组以及控制单元，多个所述检测通道与所述容器连通，所述导电组件设置于所述检测通道内，所述拍摄模组设置于所述检测通道的一侧，并与所述控制单元电连接，其中，所述容器内设置有溶液以及位于所述溶液内的多个发光芯片，多个所述发光芯片从所述容器进入所述检测通道内，使得所述发光芯片与所述导电组件接触，所述导电组件向所述发光芯片通电，所述拍摄模组获取通电后的所述发光芯片的图像，并将所述图像传输至所述控制单元，所述控制单元根据所述图像判断所述发光芯片是否合格。

2.如权利要求1所述的发光芯片检测装置，其特征在于，所述发光芯片检测装置还包括多个第一计数设备以及多个第二计数设备，每个所述第一计数设备设置于对应的所述检测通道的一侧，且位于所述检测通道与所述容器相连通的入口处，所述导电组件设置在所述检测通道内且位于所述检测通道的出口处，每个所述第二计数设备设置于对应的所述检测通道的一侧，且邻接于所述导电组件朝向所述第一计数设备一侧的位置处。

3.如权利要求1所述的发光芯片检测装置，其特征在于，所述发光芯片检测装置还包括分选组件、第一通道以及第二通道，所述分选组件的入口与所述检测通道的出口连通，所述分选组件的两个出口分别与所述第一通道以及所述第二通道连通，所述分选组件选择性地将所述检测通道与所述第一通道连通以筛选出合格的发光芯片或将所述检测通道与所述第二通道连通以筛选出不合格的发光芯片。

4.如权利要求1所述的发光芯片检测装置，其特征在于，所述发光芯片检测装置还包括磁性组件，所述磁性组件设置于所述容器的下方；

5.如权利要求1所述的发光芯片检测装置，其特征在于，所述发光芯片检测装置还包括多个固定设备，所述固定设备包括固定元件以及驱动组件，所述固定元件设置于所述导电组件的上方，且与所述导电组件间隔设置，所述驱动组件设置于所...

【专利技术属性】
技术研发人员：陈哲，林浩翔，萧俊龙，
申请(专利权)人：重庆康佳光电技术研究院有限公司，
类型：发明
国别省市：