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基于多步标定的位移计算方法、装置、设备及介质制造方法及图纸

技术编号:41399994 阅读:4 留言:0更新日期:2024-05-20 19:24
本申请涉及一种基于多步标定的位移计算方法、装置、设备及介质,其中方法包括:采用长光斑激光器及移轴投影光学布局,并通过多行面阵CMOS接收成像数据,得到灰度图数据;基于灰度图数据进行多行数据合成处理,得到轮廓数据;采用多步标定的方式基于轮廓数据和标定台位移数据进行光学参数标定,得到目标光学参数;基于目标光学参数将轮廓数据映射至虚拟像面,并计算得到虚拟像面内的光斑中心点;基于虚拟像面内的光斑中心点及目标光学参数据计算得到目标位移值。本申请避免点激光位移传感器的测量误差,提高了位移计算的精准度。

【技术实现步骤摘要】

本申请涉及激光测量,尤其涉及一种基于多步标定的位移计算方法、装置、设备及介质


技术介绍

1、现有造成点激光位移传感器的测量误差的主要原因是激光散斑及被测物表面微观复杂形貌导致的原始波形数据。此外,由于三角映射关系及移轴镜头设计导致像素轴分辨率不均,导致采集的波形数据存在倾斜,进而导致中心点计算出现偏差,最终导致计算的位移出现偏移误差。


技术实现思路

1、本申请实施例的目的在于提出一种基于多步标定的位移计算方法、装置、设备及介质,以避免点激光位移传感器的测量误差,提高位移计算的精准度。

2、为了解决上述技术问题,本申请实施例提供一种基于多步标定的位移计算方法,包括:

3、采用长光斑激光器及移轴投影光学布局,并通过多行面阵cmos接收成像数据,得到灰度图数据;

4、基于所述灰度图数据进行多行数据合成处理,得到轮廓数据;

5、采用多步标定的方式基于所述轮廓数据和标定台位移数据进行光学参数标定,得到目标光学参数;

6、基于所述目标光学参数将所述轮廓数据映射至虚拟像面,并计算得到虚拟像面内的光斑中心点;

7、基于所述虚拟像面内的光斑中心点及目标光学参数据计算光斑位移距离,得到目标位移值。

8、为了解决上述技术问题,本申请实施例提供一种基于多步标定的位移计算装置,包括:

9、数据收集单元,用于采用长光斑激光器及移轴投影光学布局,并通过多行面阵cmos接收成像数据,得到灰度图数据;

10、轮廓数据生成单元,用于基于所述灰度图数据进行多行数据合成处理,得到轮廓数据;

11、目标光学参数标定单元,用于采用多步标定的方式基于所述轮廓数据和标定台位移数据进行光学参数标定,得到目标光学参数;

12、虚拟像面光斑中心计算单元,基于目标光学参数将轮廓数据映射至虚拟像面,并计算得到虚拟像面内的光斑中心点坐标;

13、位移计算单元,基于虚拟像面内的光斑中心点及目标光学参数据计算以计算光斑位移距离,得到目标位移值。

14、为解决上述技术问题,本专利技术采用的一个技术方案是:提供一种电子设备,包括,一个或多个处理器;存储器,用于存储一个或多个程序,使得一个或多个处理器实现上述任意一项所述的基于多步标定的位移计算方法。

15、为解决上述技术问题,本专利技术采用的一个技术方案是:一种计算机可读存储介质,所述计算机可读存储介质上存储有计算机程序,所述计算机程序被处理器执行时实现上述任意一项所述的基于多步标定的位移计算方法。

16、本专利技术实施例提供了一种基于多步标定的位移计算方法、装置、设备及介质。其中,方法包括:采用长光斑激光器及移轴投影光学布局,并通过多行面阵cmos接收成像数据,得到灰度图数据;基于所述灰度图数据进行多行数据合成处理,得到轮廓数据;采用多步标定的方式基于所述轮廓数据和标定台位移数据进行光学参数标定,得到目标光学参数;基于目标光学参数将轮廓数据映射至虚拟像面,并计算得到虚拟像面内的光斑中心点坐标;基于虚拟像面内的光斑中心点及目标光学参数据计算以计算光斑位移距离,得到目标位移值。

17、本专利技术实施例采用长光斑激光器及移轴投影光学布局,并通过长光斑在多行面阵cmos接收成像数据,有效避免点激光位移传感器的测量误差,并且通过对轮廓数据进行多步标定,实现轮廓数据的精准修正,从而有利于提高位移计算的精准度。

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【技术保护点】

1.一种基于多步标定的位移计算方法,其特征在于,包括:

2.根据权利要求1所述的基于多步标定的位移计算方法,其特征在于,所述采用多步标定的方式基于所述轮廓数据和标定台位移数据进行光学参数标定,得到目标光学参数,包括:

3.根据权利要求2所述的基于多步标定的位移计算方法,其特征在于,所述基于所述第一标定参数将所述轮廓数据映射至虚拟像面,并计算得到虚拟像面内的光斑中心点,得到初始虚拟像面内的光斑中心点,包括:

4.根据权利要求2所述的基于多步标定的位移计算方法,其特征在于,所述基于所述初始虚拟像面内的光斑中心点、所述标定台位移参数和所述第一标定参数进行数据拟合,得到第二标定参数,包括:

5.根据权利要求2所述的基于多步标定的位移计算方法,其特征在于,所述直射式三角测距模型的计算方式为:

6.根据权利要求2所述的基于多步标定的位移计算方法,其特征在于,所述基于所述目标光学参数将所述轮廓数据映射至虚拟像面,并计算得到虚拟像面内的光斑中心点,包括:

7.根据权利要求1至6任一项所述的基于多步标定的位移计算方法,其特征在于,所述基于所述灰度图数据进行多行数据合成处理,得到轮廓数据,包括:

8.一种基于多步标定的位移计算装置,其特征在于,包括:

9.一种电子设备,其特征在于,包括存储器和处理器,所述存储器中存储有计算机程序,所述处理器执行所述计算机程序时实现如权利要求1至7中任一项所述的基于多步标定的位移计算方法。

10.一种计算机可读存储介质,其特征在于,所述计算机可读存储介质上存储有计算机程序,所述计算机程序被处理器执行时实现如权利要求1至7中任一项所述的基于多步标定的位移计算方法。

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【技术特征摘要】

1.一种基于多步标定的位移计算方法,其特征在于,包括:

2.根据权利要求1所述的基于多步标定的位移计算方法,其特征在于,所述采用多步标定的方式基于所述轮廓数据和标定台位移数据进行光学参数标定,得到目标光学参数,包括:

3.根据权利要求2所述的基于多步标定的位移计算方法,其特征在于,所述基于所述第一标定参数将所述轮廓数据映射至虚拟像面,并计算得到虚拟像面内的光斑中心点,得到初始虚拟像面内的光斑中心点,包括:

4.根据权利要求2所述的基于多步标定的位移计算方法,其特征在于,所述基于所述初始虚拟像面内的光斑中心点、所述标定台位移参数和所述第一标定参数进行数据拟合,得到第二标定参数,包括:

5.根据权利要求2所述的基于多步标定的位移计算方法,其特征在于,所述直射式三角测距模型的计算方式为:

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【专利技术属性】
技术研发人员:向往姚文政
申请(专利权)人:光子深圳精密科技有限公司
类型:发明
国别省市:

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