【技术实现步骤摘要】
本技术涉及光功率检测,尤其涉及传感器光功率测量装置。
技术介绍
1、激光位移传感器在研制和生产过程中,需要对激光位移传感器的输出光功率进行准确测量。
2、目前,通常采用半导体光电检测或热转换型方式实现对光功率的测量,然而,考虑到激光位移传感器通常具有光功率实时调节功能,其实时光功率输出值与传感器的待测面表面的特性有关。用常规光功率计测量其光功率输出值时,光功率计探单元的反射特性会影响传感器的内部光功率调节,从而无法确定传感器的光输出特性,无法获取到输出光功率的变化范围,难以实现对激光位移传感器的全面测量,不能满足激光位移传感器的输出光功率的实际测量要求。
技术实现思路
1、本技术的目的在于提供传感器光功率测量装置,用以在测量实时光功率的同时,对待测传感器的输出光功率进行监测和调控,获得输出光功率的变化范围,以实现对激光位移传感器的全面测量。
2、为达此目的,本技术采用以下技术方案:
3、传感器光功率测量装置,用于测量待测传感器,所述待测传感器设有发射窗口
...【技术保护点】
1.传感器光功率测量装置,用于测量待测传感器(100),所述待测传感器(100)设有发射窗口(110)和接收窗口(120),所述发射窗口(110)用于发射激光,所述接收窗口(120)用于接收激光,所述发射窗口(110)与所述接收窗口(120)的连线平行于第一方向,其特征在于,所述传感器光功率测量装置包括:
2.根据权利要求1所述的传感器光功率测量装置,其特征在于,所述计探组件包括间隔设置的聚光单元(300)和光功率计探单元(400),所述聚光单元(300)用于聚焦从所述分光棱镜(200)反射的激光,所述光功率计探单元(400)用于测量穿过所述聚光单元(30
...【技术特征摘要】
1.传感器光功率测量装置,用于测量待测传感器(100),所述待测传感器(100)设有发射窗口(110)和接收窗口(120),所述发射窗口(110)用于发射激光,所述接收窗口(120)用于接收激光,所述发射窗口(110)与所述接收窗口(120)的连线平行于第一方向,其特征在于,所述传感器光功率测量装置包括:
2.根据权利要求1所述的传感器光功率测量装置,其特征在于,所述计探组件包括间隔设置的聚光单元(300)和光功率计探单元(400),所述聚光单元(300)用于聚焦从所述分光棱镜(200)反射的激光,所述光功率计探单元(400)用于测量穿过所述聚光单元(300)的激光。
3.根据权利要求2所述的传感器光功率测量装置,其特征在于,所述光功率计探单元(400)与所述分光棱镜(200)的连线平行于所述第一方向,所述聚光单元(300)设于光功率计探单元(400)与所述分光棱镜(200)的连线之间。
4.根据权利要求3所述的传感器光功率测量装置,其特征在于,所述聚光单元(300)能够沿所述第一方向往复移动。
5.根据权利要求4所述的传感器光功率测量装置,其特征在于,所述传感器光功率测量装置还包括承载台,所述待测传感器(100)、所述分光棱镜(200)和所述光功率计探单元(400)分...
【专利技术属性】
技术研发人员:谢本超,姚文政,
申请(专利权)人:光子深圳精密科技有限公司,
类型:新型
国别省市:
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