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【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及处理器设计和验证,尤其涉及一种面向浮点融合运算单元的激励抽样预验证方法和装置。
技术介绍
1、现代高性能处理器中涉及到大量的浮点运算,其中浮点融合运算单元逐渐成为研究热点。浮点融合运算单元是直接将多操作浮点数运算进行融合设计,通过共享相同的算数逻辑以减少浮点运算的面积,功耗和延迟,以克服现有技术中的诸多性能缺陷。因此,面向现代高性能处理器的浮点融合运算单元的验证成为新型处理器验证的关键点。
2、对于传统的浮点运算单元的验证,因为其输入操作数少,功能单一,所以主要是在输入操作数进行约束构建测试激励。对于浮点融合运算单元来说,一方面,他的输入操作数可能有十几个或者几十个,这使得基于约束条件构造的测试激励大量增加。另一方面,浮点融合运算单元的内部设计由于其精度、数据存储长度的限制通常是非精确的,所以还需要结合中间结果构造激励。其中中间结果指的是输入操作数经过一种运算方式得到的中间值。例如:乘加运算的中间结果即为乘法结果。对于验证人员来说,测试激励的大量增加必然导致验证周期随之变长。
3、在芯片开发过程中,对于设计人员每次做出的修改,验证人员都需要回归性验证以确保rtl代码的修改没有对已经验证过的功能造成影响。因此,尽早的发现设计代码中存在的问题,对于减少回归性验证时间,降低验证周期具有重要的意义。
技术实现思路
1、本专利技术的目的在于针对现有技术的不足,提供了一种面向浮点融合运算单元的激励抽样预验证方法和装置。
2、本专利技术的目的是通
3、(2)构造样本激励:根据随机抽样规则在每一组原始测试激励gi中抽取ni个样本,随后将所有样本按照顺序组合成同一测试激励,得到样本激励;或根据各种数据类型结构边界值组合构成样本激励;
4、(3)对样本激励预验证,具体包括:将样本激励分别送入到待验证浮点融合运算单元和参考模型中,比较计算结果;若结果一致,则执行步骤(5);若结果不一致,则执行步骤(4);
5、(4)对结果不一致的样本激励所在的原始测试激励组进行验证,对比结果进一步分析设计代码中的bug;
6、(5)修改所述待验证浮点融合运算单元的代码,并提交设计工程师进行bug修复,得到修复后的待验证浮点融合运算单元;
7、(6)依次验证原始测试激励组,具体为:将步骤(1)生成的原始测试激励组依次送入到待验证浮点融合运算单元和参考模型中比较结果,若结果不一致,则返回步骤(5);若结果一致,则执行步骤(7);
8、(7)记录覆盖率并撰写验证报告。
9、本专利技术还提供一种面向浮点融合运算单元的激励抽样预验证装置,包括一个或多个处理器,用于实现上述面向浮点融合运算单元的激励抽样预验证方法。
10、本专利技术还提供一种计算机可读存储介质,其上存储有程序,该程序被处理器执行时,用于实现上述面向浮点融合运算单元的激励抽样预验证方法。
11、本专利技术的有益效果是:在样本激励构造阶段,通过对原始测试激励组抽样生成的样本激励数据具备典型性和一般性。同时,对各种数据类型结构边界值组合构造的样本激励具有强大的故障发现能力。因此,在预验证过程中可帮助验证人员初步定位错误,尽早发现设计代码中存在的问题,并及时向设计人员反馈,从而有效降低验证周期。
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1.一种面向浮点融合运算单元的激励抽样预验证方法,其特征在于,包括以下步骤:
2.一种面向浮点融合运算单元的激励抽样预验证装置,其特征在于,包括一个或多个处理器,用于实现权利要求1所述的面向浮点融合运算单元的激励抽样预验证方法。
3.一种计算机可读存储介质,其上存储有程序,其特征在于,该程序被处理器执行时,用于实现权利要求1所述的面向浮点融合运算单元的激励抽样预验证方法。
【技术特征摘要】
1.一种面向浮点融合运算单元的激励抽样预验证方法,其特征在于,包括以下步骤:
2.一种面向浮点融合运算单元的激励抽样预验证装置,其特征在于,包括一个或多个处理器,用于实现权利要求1所述的面...
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