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用于光纤应变测量的系统技术方案

技术编号:4138511 阅读:221 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
公开了测量物体应变的系统。该测量系统包括:激光源,生成输出辐射;可应变光纤,具有第一和第二面,第一面耦接到激光源,以接收至少部分输出辐射并将引导的辐射通过光纤朝向第二面传输;和计算光纤至少一部分的应变量度的计算装置。光纤至少一部分包括第一和第二截面,第二截面由光纤至少一部分的应变而根据第二截面相对于第一截面沿光纤至少一部分的线性位移来移动。第二面适于接收所引导的辐射并朝第一面反射相应的反射辐射。激光源是自混合型,适于接收从第二面引导到第一面的反射辐射的至少一部分,并将输出辐射与接收到的辐射相混合。计算装置适于通过由激光源中的自混合效应测量的第二截面的线性位移来计算光纤至少一部分的应变的量度。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种用于测量物体的应变的系统。更具体地说,本发 明涉及一种基于光纤的应变的应变测量系统。
技术介绍
已知可以利用包括激光源和光纤的系统来执行对物体的应变的测量这种测量系统通常被称为基于光纤的应变测量系统(或应变传 感器)(或者简称为基于光纤的应变系统)。已知的基于光纤的应变系统(例如,参见公开号为2008/0085073 的美国申请)利用如下光纤来执行对物体应变的测量,在该光纤的很 短的一段(几厘米长)中包括光纤布拉格光栅,该光纤布拉格光栅附 接到可应变的物体并且发生应变。根据该已知系统,激光源生成引导 到光纤上并且被光纤布拉格光栅反射的输出辐射,其中,所反射的辐 射受到波长偏移的影响,所述波长偏移取决于光纤的包括光纤布拉格 光栅的段的应变。接收器将所反射的辐射转换为电信号,并且频谱分 析仪根据所反射的辐射的振幅的变化来估计光纤的(包括光纤布拉格 光栅的)该段的应变。该已知系统的缺点在于应变测量的分辨率取决 于光纤布拉格光栅的止带,由此要求复杂电子设备来执行测量,并且 由于光纤布拉格光栅只有几厘米长,所以仅可以执行对可应变物体的 很短一段(例如,结构缝)的测量。另一已本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种测量系统,包括: 激光源(1),用于生成输出辐射; 可应变光纤(2),具有第一面(10)和第二面(11),其中,所述第一面耦接到所述激光源,用于接收至少部分输出辐射,并且用于从该第一面将引导的辐射通过所述光纤朝向所述第二面传输;  计算装置,用于计算所述光纤(2)的至少一部分(8)的应变的量度; 其特征在于,光纤的所述至少一部分(8)包括第一截面(14)和第二截面(15),其中,所述第二截面由光纤的所述至少一部分的应变而根据第二截面相对于第一截面沿着光纤 的所述至少一部分的线性位移(ΔX)移动; 并且第二面适于接收所引导的辐射,并且从该第二面朝向第一面反...

【技术特征摘要】
EP 2008-9-22 08425618.91、一种测量系统,包括激光源(1),用于生成输出辐射;可应变光纤(2),具有第一面(10)和第二面(11),其中,所述第一面耦接到所述激光源,用于接收至少部分输出辐射,并且用于从该第一面将引导的辐射通过所述光纤朝向所述第二面传输;计算装置,用于计算所述光纤(2)的至少一部分(8)的应变的量度;其特征在于,光纤的所述至少一部分(8)包括第一截面(14)和第二截面(15),其中,所述第二截面由光纤的所述至少一部分的应变而根据第二截面相对于第一截面沿着光纤的所述至少一部分的线性位移(ΔX)移动;并且第二面适于接收所引导的辐射,并且从该第二面朝向第一面反射相应的反射辐射;并且激光源是自混合型,其适于接收从第二面引导到第一面的反射辐射的至少一部分,并且将输出辐射与接收到的辐射相混合;并且所述计算装置适于通过由激光源中的自混合效应测量的第二截面的线性位移(ΔX)来计算光纤的所述至少一部分的应变的量度。2、 根据权利要求1所述的测量系统,其中,所述第二面至少部分地被折射率匹配胶覆盖,用于控制反射辐射,以实现输出辐射与接收到的辐射的适度混合。3、 根据权利要求1或2所述的测量系统,其中,光纤的第二面以7度到9度之间的角度被削切,优选地该角度等于约8度。4、 根据权利要求1所述的测...

【专利技术属性】
技术研发人员:M达比考G斯卡马尔乔S奥托内利A因泰米特B拉迪萨夫列维奇
申请(专利权)人:巴里大学
类型:发明
国别省市:IT[意大利]

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