【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及视觉光源检测，尤其涉及一种对位检测装置。
技术介绍
1、随着智能制造及精密加工检测技术的发展，一些微小零部件如微小芯片电路板在多个行业中得到广泛应用，这对检测的精度和效率提出了更高的要求。机器视觉检测能够实现对细微工件的表面特征、缺陷识别和尺寸定位等，因此成为智能制造过程中不可或缺的核心环节。
2、市面上的光源检测装置只能对其检测工位上的工件进行取像，通常情况一个光源检测装置只有一个检测工位，每次只能对检测工位上的一个工件进行取像作业，取像效率低下。
3、因此，需要对现有技术进行改进，以解决现有技术的光源检测装置单次只能对一个工件进行取像作业，取像效率低下的技术问题。
技术实现思路
1、本专利技术的目的是提供一种对位检测装置，以解决现有技术的光源检测装置单次只能对一个工件进行取像作业，取像效率低下的技术问题。
2、为了实现上述目的，本专利技术采用以下技术方案：
3、一种对位检测装置，其包括第一光源、第二光源、光线处理组件和取像组件，所述光线处理组件包括第一光线处理件和第二光线处理件，所述第一光源发出第一光线，所述第一光线照射第一检测工位的第一工件，所述第一光线的反射光线通过所述第一光线处理件到达所述取像组件，所述第二光源发出第二光线，所述第二光线通过所述第二光线处理件照射第二检测工位的第二工件，所述第二光线的反射光线通过所述光线处理组件到达所述取像组件，所述取像组件用于对所述第一工件和第二工件进行取像工作。
5、较佳地，所述第一光线处理件还包括全反射膜，所述全反射膜设于所述第一直角面和第二直角面上。
6、较佳地，所述第二光线处理件包括分光镜片，所述第一光源和第二光源相邻设置，所述第一检测工位和第二检测工位相对设置，所述分光镜片倾斜设置，并设于所述第二检测工位和第二直角面之间，所述第二光线通过所述分光镜片的反射照射所述第二工件。
7、较佳地，所述第二光线处理件还包括防尘镜片，所述防尘镜片正对所述第二检测工位，所述第二光线通过所述分光镜片的反射到达所述防尘镜片，所述第二光线通过所述防尘镜片照射所述第二工件。
8、较佳地，所述第一光源包括环形板，所述环形板设有若干第一灯珠，所述若干第一灯珠间隔分布，并均电连接有第一pcb，所述第二光源包括面板，所述面板上设有若干第二灯珠，所述若干第二灯珠间隔分布，并均电连接有第二pcb。
9、较佳地，所述对位检测装置还包括扩散件、第一导电组和第二导电组，所述扩散件设于所述第一光源和/或第二光源的出光端，所述第一导电组电连接所有第一灯珠，所述第二导电组电连接所有第二灯珠。
10、较佳地，所述对位检测装置还包括外壳，所述外壳设有容纳空间，所述光线处理组件和取像组件均设于所述容纳空间内，所述第一光源和第二光源均可拆卸连接所述外壳。
11、较佳地，所述对位检测装置还包括传感器，所述传感器电连接所述第一导电组、第二导电组和取像组件，所述第一导电组或第二导电组连接外部电源，所述取像组件启动。
12、较佳地，所述外壳设有避让口，所述取像组件包括相机和镜头，所述镜头正对所述三角反射棱镜，所述相机的电源端口和传输端口通过所述避让口连通外部。
13、与现有技术相比，本专利技术的有益效果：
14、本专利技术设计了一种对位检测装置，该包括第一光源、第二光源、光线处理组件和取像组件，光线处理组件包括第一光线处理件和第二光线处理件，第一光源发出第一光线，第一光线照射第一检测工位的第一工件，第一光线的反射光线通过第一光线处理件到达取像组件，第二光源发出第二光线，第二光线通过第二光线处理件照射第二检测工位的第二工件，第二光线的反射光线通过光线处理组件到达取像组件，取像组件用于对第一工件和第二工件进行取像工作。相较于现有技术，本专利技术的对位检测装置设置了第一光源和第二光源，第一光源能照射在第一工件上，第二光源能照射在第二工件上，第一光线的反射光线和第二光源的反射光线均能到达取像组件，取像组件可以同时对第一工件和第二工件进行取像工作，取像效率大大提升。
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1.一种对位检测装置，其特征在于：包括第一光源、第二光源、光线处理组件和取像组件，所述光线处理组件包括第一光线处理件和第二光线处理件，所述第一光源发出第一光线，所述第一光线照射第一检测工位的第一工件，所述第一光线的反射光线通过所述第一光线处理件到达所述取像组件，所述第二光源发出第二光线，所述第二光线通过所述第二光线处理件照射第二检测工位的第二工件，所述第二光线的反射光线通过所述光线处理组件到达所述取像组件，所述取像组件用于对所述第一工件和第二工件进行取像工作。
2.根据权利要求1所述的对位检测装置，其特征在于：所述第一光线处理件包括三角反射棱镜，所述三角反射棱镜设于所述所述第一光源和第二光源之间，所述第一光线的反射光线经过所述三角反射棱镜的第一直角面的反射到达所述取像组件，所述第二光线的反射光线通过所述三角反射棱镜的第二直角面的反射到达所述取像组件。
3.根据权利要求2所述的对位检测装置，其特征在于：所述第一光线处理件还包括全反射膜，所述全反射膜设于所述第一直角面和第二直角面上。
4.根据权利要求1所述的对位检测装置，其特征在于：所述第二光线处
5.根据权利要求4所述的对位检测装置，其特征在于：所述第二光线处理件还包括防尘镜片，所述防尘镜片正对所述第二检测工位，所述第二光线通过所述分光镜片的反射到达所述防尘镜片，所述第二光线通过所防尘镜片照射所述第二工件。
6.根据权利要求1所述的对位检测装置，其特征在于：所述第一光源包括环形板，所述环形板设有若干第一灯珠，所述若干第一灯珠间隔分布，并均电连接有第一PCB，所述第二光源包括面板，所述面板上设有若干第二灯珠，所述若干第二灯珠间隔分布，并均电连接有第二PCB。
7.根据权利要求6所述的对位检测装置，其特征在于：还包括扩散件、第一导电组和第二导电组，所述扩散件设于所述第一光源和/或第二光源的出光端，所述第一导电组电连接所有第一灯珠，所述第二导电组电连接所有第二灯珠。
8.根据权利要求2所述的对位检测装置，其特征在于：还包括外壳，所述外壳设有容纳空间，所述光线处理组件和取像组件均设于所述容纳空间内，所述第一光源和第二光源均可拆卸连接所述外壳。
9.根据权利要求7所述的对位检测装置，其特征在于：还包括传感器，所述传感器电连接所述第一导电组、第二导电组和取像组件，所述第一导电组或第二导电组连接外部电源，所述取像组件启动。
10.根据权利要求8所述的对位检测装置，其特征在于：所述外壳设有避让口，所述取像组件包括相机和镜头，所述镜头正对所述三角反射棱镜，所述相机的电源端口和传输端口通过所述避让口连通外部。
...【技术特征摘要】
1.一种对位检测装置，其特征在于：包括第一光源、第二光源、光线处理组件和取像组件，所述光线处理组件包括第一光线处理件和第二光线处理件，所述第一光源发出第一光线，所述第一光线照射第一检测工位的第一工件，所述第一光线的反射光线通过所述第一光线处理件到达所述取像组件，所述第二光源发出第二光线，所述第二光线通过所述第二光线处理件照射第二检测工位的第二工件，所述第二光线的反射光线通过所述光线处理组件到达所述取像组件，所述取像组件用于对所述第一工件和第二工件进行取像工作。
2.根据权利要求1所述的对位检测装置，其特征在于：所述第一光线处理件包括三角反射棱镜，所述三角反射棱镜设于所述所述第一光源和第二光源之间，所述第一光线的反射光线经过所述三角反射棱镜的第一直角面的反射到达所述取像组件，所述第二光线的反射光线通过所述三角反射棱镜的第二直角面的反射到达所述取像组件。
3.根据权利要求2所述的对位检测装置，其特征在于：所述第一光线处理件还包括全反射膜，所述全反射膜设于所述第一直角面和第二直角面上。
4.根据权利要求1所述的对位检测装置，其特征在于：所述第二光线处理件包括分光镜片，所述第一光源和第二光源相邻设置，所述第一检测工位和第二检测工位相对设置，所述分光镜片倾斜设置，并设于所述第二检测工位和第二直角面之间，所述第二光线通过所述分光镜片的反射照射所述第二工件。
5.根据权利要求4所述的对位检测...
【专利技术属性】
技术研发人员：张子浩，
申请(专利权)人：广东奥普特科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：
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