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四电极结构的阻变存储器及其制备方法技术

技术编号:41318329 阅读:19 留言:0更新日期:2024-05-13 14:58
本发明专利技术涉及存储技术领域,提供一种四电极结构的阻变存储器及其制备方法,该四电极结构的阻变存储器包括底电极、介质层和顶电极,介质层设于底电极上;顶电极设于介质层上,且顶电极完全覆盖介质层;其中,顶电极包括四块不同材质的金属单元。本发明专利技术的四电极结构的阻变存储器通过将顶电极设置为多个不同材质的金属单元,使得不同材料的顶电极能够同时与同一材质的介质层实现接触,不同材料的顶电极与介质层接触能够实现不同的界面势垒结构、界面反应、储存离子能力等特性,从而控制氧离子或金属阳离子在电极与介质界面处的储存和注入行为,有助于改善器件的阻变特性。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及存储,尤其涉及一种四电极结构的阻变存储器及其制备方法


技术介绍

1、随着工业化的进程,各行各业对于信息科学技术的依赖度越来越高,其中对存储器的性能需求更高,为了适应存储器高性能的需求,提出了一种阻变存储器(resistiverandom access memory)。

2、阻变存储器是一种新型的非挥发性存储器,其结构通常包括顺序连接的底电极、阻变层和顶电极。它的工作原理是利用在两个电极之间形成的氧化物电阻的可控变化来存储信息。其具有高速度、低功耗、高密度等优点,被广泛认为是未来存储器发展的趋势之一。

3、在相关技术中,往往通过控制电极、介质层的制备工艺条件或材料来实现rram特性的提升。


技术实现思路

1、本专利技术提供一种四电极结构的阻变存储器及制备方法,用以解决现有技术中阻变存储器电极材料单一的问题,从而使单一器件具有不同的特性。

2、本专利技术提供一种四电极结构的阻变存储器,包括:

3、底电极;

4、介质层,所述介质层设于所述底本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种四电极结构的阻变存储器,其特征在于,包括:

2.根据权利要求1所述的四电极结构的阻变存储器,其特征在于,还包括:

3.根据权利要求1所述的四电极结构的阻变存储器,其特征在于,四块不同材质的金属的单元均匀布置于所述介质层上。

4.根据权利要求1所述的四电极结构的阻变存储器,其特征在于,所述顶电极包括四块不同材质的金属单元,四块所述金属单元具有相同的尺寸。

5.根据权利要求1所述的四电极结构的阻变存储器,其特征在于,所述金属单元包括钯合金、钛、钛合金、氮化钛、锆合金、钌、钌合金、钽、钽合金、氮化钽、单晶硅、多晶硅、铂、铂合金、铪、铪合金...

【技术特征摘要】

1.一种四电极结构的阻变存储器,其特征在于,包括:

2.根据权利要求1所述的四电极结构的阻变存储器,其特征在于,还包括:

3.根据权利要求1所述的四电极结构的阻变存储器,其特征在于,四块不同材质的金属的单元均匀布置于所述介质层上。

4.根据权利要求1所述的四电极结构的阻变存储器,其特征在于,所述顶电极包括四块不同材质的金属单元,四块所述金属单元具有相同的尺寸。

5.根据权利要求1所述的四电极结构的阻变存储器,其特征在于,所述金属单元包括钯合金、钛、钛合金、氮化钛、锆合金、钌、钌合金、钽、钽合金、氮化钽、单晶硅、多晶硅、铂、铂合金、铪、铪合金、铝、铝合金、钨、钨合金、铱、...

【专利技术属性】
技术研发人员:刘力锋伊亚玎马晓璐黄鹏康晋锋张兴
申请(专利权)人:北京大学
类型:发明
国别省市:

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