磁场检测装置及磁场分析方法、计算机设备、介质和产品制造方法及图纸

本申请涉及一种磁场检测装置及磁场分析方法、计算机设备、介质和产品，所述装置包括探测环路、第一导线、第二导线、SMA同轴连接器，所述探测环路包括寄生环路和驱动环路，所述寄生环路与所述驱动环路连接；所述第一导线的第一端与所述驱动环路的第一端连接，所述第一导线的第二端与所述SMA同轴连接器的第一端连接；所述第二导线的第一端与所述驱动环路的第二端连接，所述第二导线的第二端与所述SMA同轴连接器的第二端连接；所述探测环路，用于探测电子系统的内部组件之间的磁场信号，并基于所述磁场信号生成感应电流，并通过所述第一导线和所述第二导线向所述SMA同轴连接器传输所述感应电流。采用本装置能提高磁场检测的灵敏度。

【技术实现步骤摘要】

本申请涉及磁场检测，特别是涉及一种磁场检测装置及磁场分析方法、计算机设备、介质和产品。

技术介绍

1、为了研究电子系统内部组件之间的电磁干扰，需要检测电子系统内部组件之间的磁场。电子系统可以包括微波电子系统、毫米波电子系统等，常见的电子系统有雷达系统、卫星系统等。

2、传统技术中，采用单环路的磁场探头对电子系统内部组件之间的磁场进行检测，存在磁场检测灵敏度较低的问题。

技术实现思路

1、基于此，有必要针对上述技术问题，提供一种能够提高磁场检测灵敏度的磁场检测装置及磁场分析方法、计算机设备、介质和产品。

2、第一方面，本申请提供了一种磁场检测装置。所述装置包括探测环路、第一导线、第二导线、sma同轴连接器，所述探测环路包括寄生环路和驱动环路，所述寄生环路与所述驱动环路连接；

3、所述第一导线的第一端与所述驱动环路的第一端连接，所述第一导线的第二端与所述sma同轴连接器的第一端连接；

4、所述第二导线的第一端与所述驱动环路的第二端连接，所述第二导线的第二端与所述sm本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种磁场检测装置，其特征在于，所述装置包括探测环路、第一导线、第二导线、SMA同轴连接器，所述探测环路包括寄生环路和驱动环路，所述寄生环路与所述驱动环路连接；

2.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，所述装置还包括分析设备，所述SMA同轴连接器与所述分析设备连接；

3.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，所述寄生环路的数量为多个，各所述寄生环路与所述驱动环路连接。

4.根据权利要求3所述的装置，其特征在于，各所述寄生环路分别位于不同的印刷电路板PCB层。

5.根据权利要求3或4任意一项所述的装置，其特征在于，各所述寄生环路设置于所述...

【技术特征摘要】

1.一种磁场检测装置，其特征在于，所述装置包括探测环路、第一导线、第二导线、sma同轴连接器，所述探测环路包括寄生环路和驱动环路，所述寄生环路与所述驱动环路连接；

2.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，所述装置还包括分析设备，所述sma同轴连接器与所述分析设备连接；

3.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，所述寄生环路的数量为多个，各所述寄生环路与所述驱动环路连接。

4.根据权利要求3所述的装置，其特征在于，各所述寄生环路分别位于不同的印刷电路板pcb层。

5.根据权利要求3或4任意一项所述的装置，其特征在于，各所述寄生环路设置于所述驱动环路的第一侧和第二侧；

6.一种磁场分析方法，其特征在于，所述方法应用于权利要求1-5任意一项所述的磁场检测装置，所述装置包括探测环路、第一导线、第二导线、sma同轴连接器，所述...

【专利技术属性】
技术研发人员：王磊，黄权，李键坷，邵伟恒，陈义强，路国光，恩云飞，
申请(专利权)人：中国电子产品可靠性与环境试验研究所工业和信息化部电子第五研究所中国赛宝实验室，
类型：发明
国别省市：