【技术实现步骤摘要】
本专利技术属于检测仪器,具体涉及基于红外光纤光谱梯度特征的物质定量分析方法及装置。
技术介绍
1、光谱学是测量可见、紫外、近红外和红外波段光等波段光强强度分布的一种技术,被广泛应用于多种材料结构与成分分析领域,如:材料、化学化工、物理、电子、环境检测、医药、生物生化等领域都使用光谱作为物质检验检测手段。便携式近红外光纤光谱仪经常应用于对地遥感、文物检测、水质检测、工农生产等环境,现有设备的外壳是铝合金材质,但是存在磨损性差,容易被腐蚀,硬度低容易破坏内部器件的问题。
技术实现思路
1、本专利技术的目的是提供基于红外光纤光谱梯度特征的物质定量分析方法及装置,体积小、重量轻,单手可持,轻便易用,装置的安全性更高,分析结果更快速、准确。
2、为了实现上述目的,本专利技术提供了以下技术方案:
3、本专利技术提供了基于红外光纤光谱梯度特征的物质定量分析装置,包括:外保护罩,所述外保护罩的下端设有连接块,所述连接块与外保护罩的下端通过螺纹连接;所述连接块的下方设有手柄,所述连接
...【技术保护点】
1.基于红外光纤光谱梯度特征的物质定量分析装置,其特征在于,包括:外保护罩,所述外保护罩的下端设有连接块,所述连接块与外保护罩的下端通过螺纹连接;所述连接块的下方设有手柄,所述连接块与手柄固定连接,所述外保护罩的前端设有挡板,所述挡板通过铆钉与外保护罩螺纹连接,挡板内设有摄像端口,所述外保护罩内设有腔体,所述腔体内设有近红外光谱成像仪主体,所述近红外光谱成像仪主体的一侧与摄像头连接,所述近红外光谱成像仪主体的另一侧与电池连接,其中,所述外保护罩的材质为铝合金,所述铝合金包括以下质量百分数的原料:Cu 3.95%-4.15%、Si0.12%~0.25%、Mg1.58%-
...【技术特征摘要】
1.基于红外光纤光谱梯度特征的物质定量分析装置,其特征在于,包括:外保护罩,所述外保护罩的下端设有连接块,所述连接块与外保护罩的下端通过螺纹连接;所述连接块的下方设有手柄,所述连接块与手柄固定连接,所述外保护罩的前端设有挡板,所述挡板通过铆钉与外保护罩螺纹连接,挡板内设有摄像端口,所述外保护罩内设有腔体,所述腔体内设有近红外光谱成像仪主体,所述近红外光谱成像仪主体的一侧与摄像头连接,所述近红外光谱成像仪主体的另一侧与电池连接,其中,所述外保护罩的材质为铝合金,所述铝合金包括以下质量百分数的原料:cu 3.95%-4.15%、si0.12%~0.25%、mg1.58%-1.61%、zn0.12%~0.17%、mn0.25%-0.38%、ti0.01%~0.10%、cr0.01%~0.05%、ni0.02%~0.08%、fe0.23%~0.34%、余量为al。
2.根据权利要求1所述的基于红外光纤光谱梯度特征的物质定量分析装置,其特征在于,ti和cr的总百分含量≤0.07wt%。
3.根据权利要求1所述的基于红外光纤光谱梯度特征的物质定量分析装置,其特征在于,si、zn和mn的质量比为1:1:1~3。
4.根据权利要求1所述的基于红外光纤光谱梯度特征的物质定量分析装置,其特征在于,所述铝合金的制备方法包括以...
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