【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及一种检具，具体涉及一种千分尺测砧与测微螺杆偏移量检具及检定方法。
技术介绍
1、随着航天事业的不断发展，对机械制造业的要求越来越高，在工艺流程中要求全尺寸全参数进行精密测量以严控生产质量，确保航天发射万无一失。千分尺是应用螺旋副传动原理，将回转运动变为直线运动的一种量具，主要用来测量各种外尺寸。其具有结构简单、操作便捷等特点，被广泛应用于航天航空领域。严控千分尺的质量，精准测量外径尺寸，确保其量值的准确可靠，是确保航天产品成功发射的前提。
2、依据jjg 21-2008《千分尺》检定规程，在检定千分尺时，测砧与测微螺杆测量面的相对偏移量是其中比较重要的测量参数之一，检定规程中规定千分尺测砧与测微螺杆测量面的相对偏移量在平板上用杠杆百分表或百分表检定。检定时借助千斤顶放置在平板上，调整千斤顶使千分尺的测微螺杆与平板工作面平行，然后用百分表测出测砧与测微螺杆在这一方位上的偏移量x然后将尺架侧转90°，按上述方法测出测砧与测微螺杆在另一方位上的偏移y。测砧与测微螺杆测量面的相对偏移量δ＝(x2+y2)1/2。
...【技术保护点】
1.一种千分尺测砧与测微螺杆偏移量检具，其特征在于：
2.根据权利要求1所述的一种千分尺测砧与测微螺杆偏移量检具，其特征在于：
3.根据权利要求2所述的一种千分尺测砧与测微螺杆偏移量检具，其特征在于：
4.根据权利要求3所述的一种千分尺测砧与测微螺杆偏移量检具，其特征在于：
5.根据权利要求1-4任一所述的一种千分尺测砧与测微螺杆偏移量检具，其特征在于：
6.根据权利要求5所述的一种千分尺测砧与测微螺杆偏移量检具，其特征在于：
7.根据权利要求6所述的一种千分尺测砧与测微螺杆偏移量检具，其特征在于
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【技术特征摘要】
1.一种千分尺测砧与测微螺杆偏移量检具，其特征在于：
2.根据权利要求1所述的一种千分尺测砧与测微螺杆偏移量检具，其特征在于：
3.根据权利要求2所述的一种千分尺测砧与测微螺杆偏移量检具，其特征在于：
4.根据权利要求3所述的一种千分尺测砧与测微螺杆偏移量检具，其特征在于：
5.根据权利要求1-4任一所述的一种千分尺测砧与测微螺杆偏移量检具，其特征在于：<...
【专利技术属性】
技术研发人员：郭胜，赵米锋，王平，解晓雷，张紫丽，
申请(专利权)人：西安航天计量测试研究所，
类型：发明
国别省市：
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