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【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及数据处理,尤其涉及一种开关柜温度控制方法、装置、设备及存储介质。
技术介绍
1、高压开关柜既是接通和断开正常负载的工作设备,也是电力设备中最重要的保护设备,其不仅要投、切正常的工作电流,而且负担着投、切故障电流的任务。作为电力系统中的核心设备,高压开关柜的安全稳定运行十分重要。在高压开关柜的运行过程中,温度会一直发生变化,在温度急剧上升时,可能会引发安全事故。因此,如何准确地对开关柜的温度进行监测,并有效地对温度进行控制,成为一个亟待解决的问题。
技术实现思路
1、本专利技术的主要目的在于提供了一种开关柜温度控制方法、装置、设备及存储介质,旨在解决如何准确地对开关柜的温度进行监测,并有效地对温度进行控制的技术问题。
2、为实现上述目的,本专利技术提供了一种开关柜温度控制方法,所述开关柜温度控制方法包括以下步骤:
3、确定待控制开关柜内部的隔室和各隔室中的元件,并根据所述元件对所述隔室进行划分;
4、根据划分结果确定所述待控制开关柜对应的监测点位,并获取所述监测点位对应的温度信息;
5、通过预设pid控制器和所述温度信息对所述待控制开关柜的温度进行控制。
6、可选地,所述确定待控制开关柜内部的隔室和各隔室中的元件,并根据所述元件对所述隔室进行划分的步骤,具体包括:
7、确定待控制开关柜内部的隔室和各隔室中的元件,并确定所述隔室对应的隔室类型和所述元件对应的元件类型;
8、针对每一隔室,根
9、若是,则获取该隔室对应的接触信息和所述元件的散热信息;
10、根据所述接触信息和所述散热信息对该隔室进行划分。
11、可选地,所述根据所述接触信息和所述散热信息对该隔室进行划分的步骤,具体包括:
12、确定所述接触信息中的接触电阻,并根据所述接触电阻确定触头热量;
13、根据所述触头热量和空气导热率计算触头传递热量;
14、根据所述触头传递热量和所述散热信息构建该隔室对应的热量分布情况;
15、根据所述热量分布情况对该隔室进行划分。
16、可选地,所述根据划分结果确定所述待控制开关柜对应的监测点位,并获取所述监测点位对应的温度信息的步骤,具体包括:
17、确定所述待控制开关柜中的关键触点;
18、根据所述划分结果确定各划分区域对应的目标点位,并将所述关键触点和所述目标点位作为所述待控制开关柜对应的监测点位;
19、通过所述监测点位对应的温度传感器获取预设时间段内的温度集合;
20、根据所述温度集合判断所述温度传感器是否正常运行;
21、若是,则通过所述温度传感器获取所述监测点位对应的温度信息。
22、可选地,所述根据所述划分结果确定各划分区域对应的目标点位的步骤,具体包括:
23、获取所述划分结果中的各划分区域的任一位置在当前时刻下的初始温度;
24、通过灰色预测模型对所述初始温度进行预测,获得预测结果;
25、根据所述预测结果确定所述初始温度对应的温度变化情况,并根据所述温度变化情况确定所述各划分区域对应的目标点位。
26、可选地,所述通过预设pid控制器和所述温度信息对所述待控制开关柜的温度进行控制的步骤,具体包括:
27、确定所述待控制开关柜的运行工况,并根据所述运行工况确定所述划分结果中的各划分区域内运行的运行元件;
28、根据所述待控制开关柜所处的环境温度和所述运行元件确定所述各划分区域的参考温度;
29、通过预设pid控制器、所述温度信息以及所述参考温度对所述待控制开关柜的温度进行控制。
30、可选地,所述根据所述待控制开关柜所处的环境温度和所述运行元件确定所述各划分区域的参考温度的步骤,具体包括:
31、根据所述待控制开关柜所处的环境温度确定所述待控制开关柜内部的第一温度范围;
32、获取所述各划分区域内的运行元件在运行过程中对应的第二温度范围,并根据所述第一温度范围和所述第二温度范围确定目标温度范围;
33、将所述目标温度范围中的最低目标温度作为所述各划分区域的参考温度。
34、此外,为实现上述目的,本专利技术还提供一种开关柜温度控制装置,所述开关柜温度控制装置包括:
35、隔室划分模块,用于确定待控制开关柜内部的隔室和各隔室中的元件,并根据所述元件对所述隔室进行划分;
36、信息获取模块,用于根据划分结果确定所述待控制开关柜对应的监测点位,并获取所述监测点位对应的温度信息;
37、温度控制模块,用于通过预设pid控制器和所述温度信息对所述待控制开关柜的温度进行控制。
38、此外,为实现上述目的,本专利技术还提出一种开关柜温度控制设备,所述开关柜温度控制设备包括:存储器、处理器及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的开关柜温度控制程序,所述开关柜温度控制程序配置为实现如上文所述的开关柜温度控制方法的步骤。
39、此外,为实现上述目的,本专利技术还提出一种存储介质,所述存储介质上存储有开关柜温度控制程序,所述开关柜温度控制程序被处理器执行时实现如上文所述的开关柜温度控制方法的步骤。
40、本专利技术通过确定待控制开关柜内部的隔室和各隔室中的元件,并根据元件对隔室进行划分,然后根据划分结果确定待控制开关柜对应的监测点位,并获取监测点位对应的温度信息,再通过预设pid控制器和温度信息对待控制开关柜的温度进行控制。本专利技术根据各隔室包含的元件对隔室进行划分,能够对整个隔室进一步划分,然后根据划分结果确定待控制开关柜对应的监测点位,并获取监测点位对应的温度信息,从而能够准确得到需要进行温度监测的点位,以准确地对开关柜的温度进行监测,并减少需要进行温度监测的点位数量,再通过pid控制器和温度信息对待控制开关柜的温度进行控制,从而能够有效地根据温度信息实时进行温度控制。
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1.一种开关柜温度控制方法,其特征在于,所述开关柜温度控制方法包括以下步骤:
2.如权利要求1所述的开关柜温度控制方法,其特征在于,所述确定待控制开关柜内部的隔室和各隔室中的元件,并根据所述元件对所述隔室进行划分的步骤,具体包括:
3.如权利要求2所述的开关柜温度控制方法,其特征在于,所述根据所述接触信息和所述散热信息对该隔室进行划分的步骤,具体包括:
4.如权利要求1所述的开关柜温度控制方法,其特征在于,所述根据划分结果确定所述待控制开关柜对应的监测点位,并获取所述监测点位对应的温度信息的步骤,具体包括:
5.如权利要求4所述的开关柜温度控制方法,其特征在于,所述根据所述划分结果确定各划分区域对应的目标点位的步骤,具体包括:
6.如权利要求1~5中任一项所述的开关柜温度控制方法,其特征在于,所述通过预设PID控制器和所述温度信息对所述待控制开关柜的温度进行控制的步骤,具体包括:
7.如权利要求6所述的开关柜温度控制方法,其特征在于,所述根据所述待控制开关柜所处的环境温度和所述运行元件确定所述各划分区域的参考
8.一种开关柜温度控制装置,其特征在于,所述开关柜温度控制装置包括:
9.一种开关柜温度控制设备,其特征在于,所述设备包括:存储器、处理器及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的开关柜温度控制程序,所述开关柜温度控制程序配置为实现如权利要求1至7中任一项所述的开关柜温度控制方法的步骤。
10.一种存储介质,其特征在于,所述存储介质上存储有开关柜温度控制程序,所述开关柜温度控制程序被处理器执行时实现如权利要求1至7中任一项所述的开关柜温度控制方法的步骤。
...【技术特征摘要】
1.一种开关柜温度控制方法,其特征在于,所述开关柜温度控制方法包括以下步骤:
2.如权利要求1所述的开关柜温度控制方法,其特征在于,所述确定待控制开关柜内部的隔室和各隔室中的元件,并根据所述元件对所述隔室进行划分的步骤,具体包括:
3.如权利要求2所述的开关柜温度控制方法,其特征在于,所述根据所述接触信息和所述散热信息对该隔室进行划分的步骤,具体包括:
4.如权利要求1所述的开关柜温度控制方法,其特征在于,所述根据划分结果确定所述待控制开关柜对应的监测点位,并获取所述监测点位对应的温度信息的步骤,具体包括:
5.如权利要求4所述的开关柜温度控制方法,其特征在于,所述根据所述划分结果确定各划分区域对应的目标点位的步骤,具体包括:
6.如权利要求1~5中任一项所述的开关柜温度控制方法,其特征在...
【专利技术属性】
技术研发人员:门志刚,
申请(专利权)人:德布罗武汉智能科技有限公司,
类型:发明
国别省市:
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