【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及rcs测试，具体地说，涉及一种基于图像域的近场异常散射滤除方法。
技术介绍
1、隐身和反隐身技术作为现代电子对抗的重要领域，其核心指标——雷达散射截面(rcs)，是评价目标散射特征的最基本参数之一，是反映目标电磁特性的重要特征参数。
2、雷达散射截面(rcs)测试是获取武器装备雷达散射特性，研究其隐身性能的最直接、有效的手段。根据测试方式不同，测试手段可以分为远场测试、近场测试和紧缩场测试。远场测试在室外进行，对场地的环境因素(如温度、湿度、气候条件等)要求严苛。同时为保证测试目标满足远场条件，测试雷达和被测目标之间需要非常大的距离，因此场地建设尺寸非极大。紧缩场测试是室内场测试，相对室外远场而言场地环境稳定、纯净，但要求被测目标需要完全在静区内才能获得准确测试结果，然而场地能生成的最大静区尺寸受限于暗室尺寸，因此紧缩场静区尺寸通常在几米左右。近场测试相对于紧缩场而言能在相同场地尺寸生成更大的静区，相对于远场测试而言占地面积更小且场地环境可控，同时从近场到远场存在严格的数学推导公式，因此近场测试越来越成为研究的重点方向之一。
3、然而近场测试由于目标满足测试雷达的近场条件，相较远场和紧缩场测试，测试雷达会接收到更多的杂波干扰，对于rcs低量级的测试目标会明显影响测试结果可信度。
技术实现思路
1、本专利技术针对现有的近场测试方法对于rcs低量级的测试目标存在明显影响测试结果可信度的问题，提出一种基于图像域的近场异常散射滤除方法，首先将采集的近场
2、本专利技术具体实现内容如下：
3、一种基于图像域的近场异常散射滤除方法，在支架将飞行器架设到空中的过程中；首先将采集的近场扫频数据近场成像得到原始近场成像；其次根据设定的异常散射判定条件，判断所述原始近场成像在确定的待滤除区域是否存在异常散射中心并提取识别的异常散射中心，然后以点目标为参考对象模拟重构在所述确定的待滤除区域的散射场分布，并根据所述散射场分布生成新的近场成像；最后判断所述新的近场成像是否满足异常散射判定条件，若不满足，则生成滤除后的近场成像。
4、为了更好地实现本专利技术，进一步地，所述基于图像域的近场异常散射滤除方法具体包括以下步骤：
5、步骤s1：将采集的近场扫频数据近场成像得到原始近场成像；
6、步骤s2：根据设定的异常散射判定条件，判断所述原始近场成像在确定区域是否存在异常散射中心，若存在则提取识别的异常散射中心；
7、步骤s3：以点目标为参考对象模拟重构在所述确定区域的散射场分布，并将确定区域的电磁场分布和所述散射场分布矢量对消，得到新的电磁场分布，并根据所述新的电磁场分布生成新的近场成像；
8、步骤s4：判断新的近场成像是否满足异常散射判定条件，若不满足，则生成滤除后的近场成像，若满足，重复步骤s2-步骤s3，直至新的近场成像不满足异常散射判定条件，则生成滤除后的近场成像。
9、为了更好地实现本专利技术，进一步地，所述步骤s1的具体体操作为：调用isar成像算法处理采集的近场扫频数据，傅里叶变换处理后的所述近场扫频数据得到原始近场成像。
10、为了更好地实现本专利技术，进一步地，处理采集的近场扫频数据包括距离压缩近场扫频数据、运动补偿近场扫频数据、转动补偿近场扫频数据。
11、为了更好地实现本专利技术，进一步地，所述步骤s2具体包括以下步骤：
12、步骤s21：根据所述原始近场成像和获取的支架实际的物理位置，确定待滤除区域；
13、步骤s22：根据试验实际需求调整可接受的图像动态范围确定散射点位置，并结合被测飞行器物理位置，判断所述散射点位置是否在被测目标上；
14、步骤s23：读取所述原始近场成像的像素信息和所述原始近场成像的对应量值，识别并提取所述待滤除区域的最强散射源；
15、步骤s24：对比所述最强散射源的散射强度量值和其余散射源的散射强度量值，若所述最强散射源的散射强度量值高于其余散射源的散射强度量值，判定散射强度超标，将所述最强散射源输出为异常散射中心。
16、为了更好地实现本专利技术，进一步地，步骤s21中所述确定待滤除区域的具体操作为：根据完全覆盖支架与目标接触范围在水平面投影的最小圆包络的半径r0和支架散射强度从支架边缘衰减20db的距离δr，确定待滤除区域半径r，根据所述待滤除区域半径r确定待滤除区域。
17、为了更好地实现本专利技术，进一步地，所述步骤s24的具体操作为：对比所述最强散射源的散射强度量值pmax和其余散射源的散射强度量值p0，若pmax-p0≥1db，则判定散射强度超标，将所述最强散射源输出为异常散射中心。
18、为了更好地实现本专利技术，进一步地，所述步骤s3具体包括以下步骤：
19、步骤s31：以点目标为参考对象，根据，模拟重构得到所述待滤除区域的散射场分布；
20、步骤s32：将待滤除区域的电磁场分布和所述散射场分布矢量对消，得到新的电磁场分布，并根据所述新的电磁场分布生成新的近场成像。
21、为了更好地实现本专利技术，进一步地，所述步骤s4的具体操作为：判断新的近场成像是否满足异常散射判定条件，若不满足，则生成滤除后的近场成像，若满足，重复步骤s2-步骤s3，直至在待滤除滤除区域内无法识别到异常散射中心，pmax-p0＜1db，则滤除完成，输出最后一次滤除后的近场图像和所述近场图像的像素信息，并作为滤除的最终结果。
22、本专利技术具有以下有益效果：
23、(1)本专利技术结合现有的大尺寸近场测试系统及室内场目标架设方式，通过在近场成像生成的二维图像中识别并去除不属于测试目标的散射中心的方法达到近场杂波抑制的方法，得到被测目标客观的雷达散射特性。
24、(2)本专利技术能够有效滤除现有对消技术无法完全滤除的近场杂波，获得与远场、紧缩场测试相当的测试精度。同时相对远场和近场而言，对架设装置的散射强度要求更为宽松，因此为架设装置留出的更大的设计裕度，实现了更大尺寸目标、更大重量目标、更多姿态要求、更高精度要求的雷达散射截面测试。
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1.一种基于图像域的近场异常散射滤除方法，在支架将飞行器架设到空中的过程中；其特征在于，首先将采集的近场扫频数据近场成像得到原始近场成像；其次根据设定的异常散射判定条件，判断所述原始近场成像在确定的待滤除区域是否存在异常散射中心并提取识别的异常散射中心，然后以点目标为参考对象模拟重构在所述确定的待滤除区域的散射场分布，并根据所述散射场分布生成新的近场成像；最后判断所述新的近场成像是否满足异常散射判定条件，若不满足，则生成滤除后的近场成像。
2.根据权利要求1所述的一种基于图像域的近场异常散射滤除方法，其特征在于，所述基于图像域的近场异常散射滤除方法具体包括以下步骤：
3.根据权利要求2所述的一种基于图像域的近场异常散射滤除方法，其特征在于，所述步骤S1的具体体操作为：调用ISAR成像算法处理采集的近场扫频数据，傅里叶变换处理后的所述近场扫频数据得到原始近场成像。
4.根据权利要求3所述的一种基于图像域的近场异常散射滤除方法，其特征在于，处理采集的近场扫频数据包括距离压缩近场扫频数据、运动补偿近场扫频数据、转动补偿近场扫频数据。
5.
6.根据权利要求4所述的一种基于图像域的近场异常散射滤除方法，其特征在于，步骤S21中所述确定待滤除区域的具体操作为：根据完全覆盖支架与目标接触范围在水平面投影的最小圆包络的半径r0和支架散射强度从支架边缘衰减20dB的距离Δr，确定待滤除区域半径R，根据所述待滤除区域半径R确定待滤除区域。
7.根据权利要求4所述的一种基于图像域的近场异常散射滤除方法，其特征在于，所述步骤S24的具体操作为：对比所述最强散射源的散射强度量值pmax和其余散射源的散射强度量值p0，若pmax-p0≥1dB，则判定散射强度超标，将所述最强散射源输出为异常散射中心。
8.根据权利要求4所述的一种基于图像域的近场异常散射滤除方法，其特征在于，所述步骤S3具体包括以下步骤：
9.根据权利要求7所述的一种基于图像域的近场异常散射滤除方法，其特征在于，所述步骤S4的具体操作为：判断新的近场成像是否满足异常散射判定条件，若不满足，则生成滤除后的近场成像，若满足，重复步骤S2-步骤S3，直至在待滤除滤除区域内无法识别到异常散射中心，pmax-p0＜1dB，则滤除完成，输出最后一次滤除后的近场图像和所述近场图像的像素信息，并作为滤除的最终结果。
...【技术特征摘要】
1.一种基于图像域的近场异常散射滤除方法，在支架将飞行器架设到空中的过程中；其特征在于，首先将采集的近场扫频数据近场成像得到原始近场成像；其次根据设定的异常散射判定条件，判断所述原始近场成像在确定的待滤除区域是否存在异常散射中心并提取识别的异常散射中心，然后以点目标为参考对象模拟重构在所述确定的待滤除区域的散射场分布，并根据所述散射场分布生成新的近场成像；最后判断所述新的近场成像是否满足异常散射判定条件，若不满足，则生成滤除后的近场成像。
2.根据权利要求1所述的一种基于图像域的近场异常散射滤除方法，其特征在于，所述基于图像域的近场异常散射滤除方法具体包括以下步骤：
3.根据权利要求2所述的一种基于图像域的近场异常散射滤除方法，其特征在于，所述步骤s1的具体体操作为：调用isar成像算法处理采集的近场扫频数据，傅里叶变换处理后的所述近场扫频数据得到原始近场成像。
4.根据权利要求3所述的一种基于图像域的近场异常散射滤除方法，其特征在于，处理采集的近场扫频数据包括距离压缩近场扫频数据、运动补偿近场扫频数据、转动补偿近场扫频数据。
5.根据权利要求2所述的一种基于图像域的近场异常散射滤除方法，其特征在于，所述步骤s2具体包括...
【专利技术属性】
技术研发人员：杜微，崔鹏，袁雪蒂，刘小翠，黄玉璐，潘春霞，
申请(专利权)人：成都飞机工业集团有限责任公司，
类型：发明
国别省市：
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