【技术实现步骤摘要】
本专利技术属于精密伺服设备，具体涉及一种立式五轴转台相对空间指向误差的分析方法及修正方法和修正系统。
技术介绍
1、五轴转台是光学制导半实物仿真系统中的核心设备，其主要功能在于模拟制导武器和目标的运动，以实现制导武器和目标之间相对空间关系的仿真。随着以光学制导为主导的精确制导技术的不断发展，五轴转台在仿真领域得到广泛应用。然而，在实际仿真应用中，由于存在安装误差、机械误差、控制误差等，导致装在其上的制导武器的位置、姿态以及目标的相对位置与理想状态有所差异，从而降低了仿真系统的精度和试验结果的可信度。
2、五轴转台由两轴转台和三轴转台组合而成，其中两轴转台作为外两框，三轴转台作为内三框。外两框与内三框彼此独立，通过轴系运动可以形成各自的空间指向。当对外两框与内三框施以相同的指令时，理论上它们的空间指向应完全相同。但对于实际设备，由于存在各种误差，将导致两者之间的相对空间指向存在误差。因此，需要寻找一种合适的方法，通过对五轴转台相对空间指向建模，并基于此模型推导得到指向误差的数学表达式，从而实现对五轴转台相对空间指向误差的修正。
【技术保护点】
1.一种立式五轴转台相对空间指向误差的分析方法，其特征在于，所述分析方法为，通过光学仪器自准直仪对立式五轴转台的相对空间指向进行测量，并基于多体理论对立式五轴转台的相对空间指向进行建模并得到近似数学模型，再对模型中的误差参数进行辨识并得到误差模型。
2.根据权利要求1所述的分析方法，其特征在于，所述分析方法具体包括以下步骤：
3.根据权利要求2所述的分析方法，其特征在于，所述步骤1具体为，在五轴转台运动过程中，实时采集自准直仪的测量数据，得到转台运动中每一个位置的空间相对指向误差，分别为X向实际指向与理想指向的角度差与Y向实际指向与理想指向的角...
【技术特征摘要】
1.一种立式五轴转台相对空间指向误差的分析方法，其特征在于，所述分析方法为，通过光学仪器自准直仪对立式五轴转台的相对空间指向进行测量，并基于多体理论对立式五轴转台的相对空间指向进行建模并得到近似数学模型，再对模型中的误差参数进行辨识并得到误差模型。
2.根据权利要求1所述的分析方法，其特征在于，所述分析方法具体包括以下步骤：
3.根据权利要求2所述的分析方法，其特征在于，所述步骤1具体为，在五轴转台运动过程中，实时采集自准直仪的测量数据，得到转台运动中每一个位置的空间相对指向误差，分别为x向实际指向与理想指向的角度差与y向实际指向与理想指向的角度差，记为为δx与δy。
4.根据权利要求2所述的分析方法，其特征在于，所述步骤2具体为，根据低序体理论，外两框的理想空间指向可以表示为，
5.根据权利要求2...
【专利技术属性】
技术研发人员：张博锐，王力，李聪敏，樊星，陈松林，
申请(专利权)人：哈尔滨工业大学，
类型：发明
国别省市：
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