本申请提供一种存储器自测试静态分组方法及装置，该方法包括：当接收到存储器静态分组指令时，通过预定的存储器测试成本算法确定各存储器的测试成本；按照测试成本从大到小的顺序，对各存储器进行排序，得到存储器序列；按照预定的分组方法，依次将序列中相邻的多个存储器分为同组。本申请通过分组后，可以对存储器进行按组测试，对于不同测试成本的存储器组可以相应地规划测试次数，从而可以提高存储器的测试效率，降低测试总成本。
【技术实现步骤摘要】
本申请涉及存储器测试，尤其涉及一种存储器自测试静态分组方法。
技术介绍
1、存储器内建自测试（memory built-in self-test，mbist）是一种在芯片设计中广泛使用的技术，用于测试嵌入式存储器的正确性和可靠性。mbist中的存储器分组方法是一种优化mbist的方法，它将存储器分组为多个测试组，以便在测试期间最大限度地减少测试时间和测试数据存储需求。
2、目前，mbist中的存储器分组方法主要分为两类：启发式算法和基于图的算法。启发式算法包括贪心算法、遗传算法、模拟退火算法等。它是一种基于经验和直觉的算法，主要通过试错和调整来找到最优解决方案。基于图的算法包括最小割算法、最大流算法、图染色算法等。它是将存储器分组问题转化为图论问题，并使用图论算法来解决。
3、现有技术状况方面，mbist中的存储器分组方法已经得到了广泛的应用和研究。启发式算法和基于图的算法都有其优点和缺点。启发式算法简单易用，但可能会陷入局部最优解。基于图的算法可以找到全局最优解，但可能需要更多的计算资源和时间。因此，需要根据具体情况选择合适的算法。
4、总的来说，mbist中的存储器分组方法是一种优化mbist的重要方法，它可以最大限度地减少测试时间和测试数据存储需求。然而，传统的mbist方案通常是在每次测试期间遍历测试所有存储器，这将导致测试效率低、功耗高等问题。
5、在测试过程中仍需要遍历所有存储器。这导致测试时间过长且功耗消耗过大，对于存储器数量多的大规模集成电路的测试中表现尤为明显。</p>
技术实现思路
1、本申请提供一种存储器自测试静态分组方法及装置，用以解决上述
技术介绍
中的问题。
2、第一方面，本申请提供一种存储器自测试静态分组方法，包括：
3、当接收到存储器静态分组指令时，通过预定的存储器测试成本算法确定各存储器的测试成本；
4、按照测试成本从大到小的顺序，对各存储器进行排序，得到存储器序列；
5、按照预定的分组方法，依次将序列中相邻的多个存储器分为同组。
6、可选地，所述预定的存储器测试成本算法，包括：
7、确定存储器的访问频次、位置和尺寸；
8、确定所述访问频次对应的第一权重，所述位置对应的第二权重，确定所述尺寸对应的第三权重；
9、将所述访问频次、位置、尺寸、第一权重、第二权重和第三权重输入预定的存储器测试成本模型，以使得所述测试成本模型输出测试成本。
10、可选地，所述存储器测试成本模型为如下公式：
11、
12、其中，i表示存储器的编号，cost(i)表示第i个存储器的测试成本，freq表示存储器的访问频次，location表示存储器与核心模块之间的距离，size表示存储器的尺寸。
13、可选地，所述预定的分组方法包括：
14、初始化一个空组；
15、将序列中的存储器按顺序依次加入空组中，直到不满足预定的约束条件为止；
16、重复上两个步骤，直到序列中的存储器被分配完为止。
17、可选地，所述预定的约束条件包括：
18、组内各存储器的测试功耗之和不超过测试电路额定功率的四分之一；
19、组内相距最远的两个存储器之间的距离不超过存储器序列内包括的存储器中相距最远的两个存储器之间距离的四分之一；其中，存储器序列为包括电路中的全部存储器的序列；
20、组内包括的存储器的测试成本总和不超过上一个组；此处需要说明的是，对于第一个分组g1不需要满足第三个约束条件。
21、可选地，对于每组存储器，在预定位置配置一个控制器，所述控制器与组内各存储器信号连接，通过控制器控制是否测试该组存储器；通过如下方法确定所述预定位置：
22、确定可放置控制器的m个预定位置；
23、对于每一个预定位置，计算控制器距各存储器之间的距离，得到多个距离；计算所述多个距离的和，得到路径长度；
24、改变控制器所在的预定位置，重复执行上一步骤得到m个路径长度；
25、确定m个路径长度中的最小长度，得到最小路径长度，将所述最小路径长度对应的预定位置，确定为控制器所在的最终位置。
26、第二方面，本申请提供一种存储器自测试静态分组装置，包括：
27、确定模块，用于当接收到存储器静态分组指令时，通过预定的存储器测试成本算法确定各存储器的测试成本；
28、排序模块，用于按照测试成本从大到小的顺序，对各存储器进行排序，得到存储器序列；
29、分组模块，用于按照预定的分组方法，依次将序列中相邻的多个存储器分为同组。
30、第三方面，本申请实施例提供了一种计算机电子设备，包括：
31、一个或者多个处理器；
32、存储器，用于存储一个或者多个程序；
33、当一个或者多个程序被一个或者多个处理器执行时，使得一个或者多个处理器执行实现上述第一方面的方法。
34、第四方面，本申请实施例提供了一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，计算机程序用于实现上述第一方面的方法。
35、第五方面，本申请实施例提供了一种计算机程序产品，包括计算机程序，该计算机程序被处理器执行时实现上述第一方面的方法。
36、本申请实施例提供的用于存储器自测试的静态分组方法，通过计算测试存储器所需要的测试成本，对存储器进行排序；并基于排序对全部存储器依次进行分组，从而使得测试成本较接近存储器分在同一组内；这样可以对存储器进行按组测试，对于测试成本较高的组可以减少测试数量，或者可以理解为对于重要性较低的组减少测试次数；而对于测试成本较低的组可以增加测试次数，或者可以理解为对于重要性较高的组，可以增加测试次数。而对于现有技术，在每测试一次时，都不可避免的对所有存储器都要进行测试；因此，相较于现有技术，本申请按组进行测试，而且根据测试成本的高低，测试不同的次数，整体上减少了测试次数，减少了测试功耗，提高了测试效率。
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【技术保护点】
1.一种存储器自测试静态分组方法，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的存储器自测试静态分组方法，其特征在于，所述预定的存储器测试成本算法，包括：
3.根据权利要求2所述的存储器自测试静态分组方法，其特征在于，所述存储器测试成本模型为如下公式：
4.根据权利要求1所述的存储器自测试静态分组方法，其特征在于，所述预定的分组方法包括：
5.根据权利要求4所述的存储器自测试静态分组方法，其特征在于，所述预定的约束条件包括：
6.根据权利要求1-5任意一项所述的存储器自测试静态分组方法，其特征在于，对于每组存储器，在预定位置配置一个控制器，所述控制器与组内各存储器信号连接，通过控制器控制是否测试该组存储器；通过如下方法确定所述预定位置：
7.一种存储器自测试静态分组装置，其特征在于，包括：
8.一种计算机电子设备，其特征在于，所述设备包括：
9.一种计算机可读存储介质，其特征在于，其上存储有计算机程序，所述计算机程序用于：
10.一种计算机程序产品，其特征在于，包括计算机程序，该计算机程序被处理器执行时实现如权利要求1-6任一所述的方法。
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【技术特征摘要】
1.一种存储器自测试静态分组方法，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的存储器自测试静态分组方法，其特征在于，所述预定的存储器测试成本算法，包括：
3.根据权利要求2所述的存储器自测试静态分组方法，其特征在于，所述存储器测试成本模型为如下公式：
4.根据权利要求1所述的存储器自测试静态分组方法，其特征在于，所述预定的分组方法包括：
5.根据权利要求4所述的存储器自测试静态分组方法，其特征在于，所述预定的约束条件包括：
6.根据权利要求1-5任意一项所述的存储器...
【专利技术属性】
技术研发人员：张靖卓，叶靖，
申请(专利权)人：中科鉴芯北京科技有限责任公司，
类型：发明
国别省市：
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