一种半导体检测用翻转装置制造方法及图纸

本技术涉及一种半导体检测用翻转装置，包括支架、设置在所述支架上的滑道、滑动在所述滑道内的工件、将所述工件传输的传送带和防止所述工件脱落所述传送带的第一挡板；所述传送带设置在所述支架上；所述滑道设置在所述传送带上方；所述滑道朝向所述传送带的一端低于所述滑道远离所述传送带的一端；所述滑道上开设有滑动槽；所述滑动槽的长度大于所述工件的长度；所述第一挡板设置在所述滑动槽的一侧。解决了在检测之前需要将半导体进行统一正面与反面，通常都是采用人工对其进行翻转后再将其放置在传送带上，导致效率低下，同时也需要根据工件的形状不同调节翻转装置，使翻转效率增加。

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及半导体领域，尤其涉及一种半导体检测用翻转装置。

技术介绍

1、半导体指常温下导电性能介于导体与绝缘体之间的材料。半导体在集成电路、消费电子、通信系统、光伏发电、照明、大功率电源转换等领域都有应用，如二极管就是采用半导体制作的器件，在半导体加工前通常要对生产出的半导体做检测，以确保半导体在加工前的质量。在检测之前需要将半导体进行统一正面与反面，通常都是采用人工对其进行翻转后再将其放置在传送带上，导致效率低下，同时也需要根据工件的形状不同调节翻转装置，使翻转效率增加。

技术实现思路

1、本申请实施例通过提供一种半导体检测用翻转装置，解决了现有技术中在检测之前需要将半导体进行统一正面与反面，通常都是采用人工对其进行翻转后再将其放置在传送带上，导致效率低下，同时也需要根据工件的形状不同调节翻转装置，使翻转效率增加。

2、本申请实施例采用的技术方案如下。

3、一种半导体检测用翻转装置，包括支架、设置在所述支架上的滑道、滑动在所述滑道内的工件、将所述工件传输的传送带和防止所述工件脱落所述传送带的第一挡板；所述传送带设置在所述支架上；所述滑道设置在所述传送带上方；所述滑道朝向所述传送带的一端低于所述滑道远离所述传送带的一端；所述滑道上开设有滑动槽；所述滑动槽的长度大于所述工件的长度；所述第一挡板设置在所述滑动槽的一侧。

4、进一步的技术方案为：所述工件上开设有缺口；当所述工件位于所述滑道内且向所述传送带的方向移动时，当所述缺口的朝向与所述滑动槽的方向一致时，所述工件从所述滑道的一端滑入所述传送带；当所述缺口的朝向与所述滑动槽的方向相反时，当所述工件滑动至所述滑动槽时，所述工件滑入所述滑动槽内且翻转，所述工件翻转后位于所述传送带上。

5、进一步的技术方案为：所述支架上设置支撑杆；所述支撑杆上设置有第二挡板；所述第二挡板分为第一板、第二板和第三板；所述第一板与所述支架之间距离与所述工件宽度一致；所述第二板呈斜型；所述第三板高度低于所述第二板高度。

6、进一步的技术方案为：所述滑动槽的侧壁上滑动连接有调节块；所述调节块上设置有导向杆；所述滑动槽的侧壁上开设有导向槽；所述导向杆滑动在所述导向槽内；所述导向槽内设置有弹性件；所述弹性件的一端抵住所述导向槽，所述弹性件的另一端抵住所述调节块；所述调节块上设置有调节件；所述调节件的螺纹端螺纹连接在所述滑动槽的侧壁。

7、本申请实施例中提供的一个或多个技术方案，至少具有如下技术效果或优点：

8、1、由于采用了支架设置在地面上，支架的一侧设置有滑道，滑道呈长条长方体状，且滑道的前后上端均为开口，滑道内滑动有工件，滑道的下方设置有传送带，传送带设置在支架上，滑道朝向传送带的一端低于滑道远离传送带的一端，滑道上开设有滑动槽，滑动槽的长度大于工件，工件上开设有缺口，缺口的宽度与滑动槽的宽度一致，滑动槽的外侧设置有第一挡板，第一挡板呈弧形，当工件位于滑道内且向传送带的方向移动时，当缺口的朝向与滑动槽的方向一致时，工件从滑道的一端滑入传送带；当缺口的朝向与滑动槽的方向相反时，当工件滑动至滑动槽时，工件滑入滑动槽内且翻转，工件翻转后位于传送带上，进而实现了将每组工件均按照缺口朝向远离支架的一侧移动。

9、2、由于采用了支架上设置有支撑杆，支撑杆上设置有第二挡板，第二挡板的底面与传送带的上表面接触，第一板与支架之间的距离与工件的宽度一致，第二板呈斜型，第二板远离第一板的一端宽于第二板靠近第一板的一端，第三板设置在第二板上，第三板高度低于第二板，进而实现了使翻转后的工件在传送带的移动中与第二板接触直至位于第一板区间后完全对齐。

10、3、由于采用了滑动槽内滑动连接有调节块，调节块呈长条型，调节块朝向滑动槽的一侧设置有导向杆，滑动槽上开设有导向槽，导向槽呈圆柱状，导向槽的直径大于导向杆，导向槽内设置有弹性件，弹性件套设于导向杆，弹性件的一端抵住导向槽的侧壁，弹性件的另一端抵住调节块的侧壁，调节块的两端均设置有调节件，调节件为内六角螺栓，调节件的螺纹端螺纹连接在滑动槽上，当旋转调节件后，弹性件始终将调节块向远离滑动槽的方向移动，从而调节块始终压紧调节件，进而实现了根据不同缺口的工件调节滑动槽的宽度。

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【技术保护点】

1.一种半导体检测用翻转装置，其特征在于，包括支架(1)、设置在所述支架(1)上的滑道(2)、滑动在所述滑道(2)内的工件(3)、将所述工件(3)传输的传送带(4)和防止所述工件(3)脱落所述传送带(4)的第一挡板(7)；所述传送带(4)设置在所述支架(1)上；所述滑道(2)设置在所述传送带(4)上方；所述滑道(2)朝向所述传送带(4)的一端低于所述滑道(2)远离所述传送带(4)的一端；所述滑道(2)上开设有滑动槽(21)；所述滑动槽(21)的长度大于所述工件(3)的长度；所述第一挡板(7)设置在所述滑动槽(21)的一侧。

2.如权利要求1所述的半导体检测用翻转装置，其特征在于，所述工件(3)上开设有缺口(31)；当所述工件(3)位于所述滑道(2)内且向所述传送带(4)的方向移动时，当所述缺口(31)的朝向与所述滑动槽(21)的方向一致时，所述工件(3)从所述滑道(2)的一端滑入所述传送带(4)；当所述缺口(31)的朝向与所述滑动槽(21)的方向相反时，当所述工件(3)滑动至所述滑动槽(21)时，所述工件(3)滑入所述滑动槽(21)内且翻转，所述工件(3)翻转后位于所述传送带(4)上。

3.如权利要求1所述的半导体检测用翻转装置，其特征在于，所述支架(1)上设置支撑杆(11)；所述支撑杆(11)上设置有第二挡板(5)；所述第二挡板(5)分为第一板(51)、第二板(52)和第三板(53)；所述第一板(51)与所述支架(1)之间距离与所述工件(3)宽度一致；所述第二板(52)呈斜型；所述第三板(53)高度低于所述第二板(52)高度。

4.如权利要求1所述的半导体检测用翻转装置，其特征在于，所述滑动槽(21)的侧壁上滑动连接有调节块(6)；所述调节块(6)上设置有导向杆(61)；所述滑动槽(21)的侧壁上开设有导向槽(22)；所述导向杆(61)滑动在所述导向槽(22)内；所述导向槽(22)内设置有弹性件(62)；所述弹性件(62)的一端抵住所述导向槽(22)，所述弹性件(62)的另一端抵住所述调节块(6)；所述调节块(6)上设置有调节件(63)；所述调节件(63)的螺纹端螺纹连接在所述滑动槽(21)的侧壁。

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【技术特征摘要】

1.一种半导体检测用翻转装置，其特征在于，包括支架(1)、设置在所述支架(1)上的滑道(2)、滑动在所述滑道(2)内的工件(3)、将所述工件(3)传输的传送带(4)和防止所述工件(3)脱落所述传送带(4)的第一挡板(7)；所述传送带(4)设置在所述支架(1)上；所述滑道(2)设置在所述传送带(4)上方；所述滑道(2)朝向所述传送带(4)的一端低于所述滑道(2)远离所述传送带(4)的一端；所述滑道(2)上开设有滑动槽(21)；所述滑动槽(21)的长度大于所述工件(3)的长度；所述第一挡板(7)设置在所述滑动槽(21)的一侧。

2.如权利要求1所述的半导体检测用翻转装置，其特征在于，所述工件(3)上开设有缺口(31)；当所述工件(3)位于所述滑道(2)内且向所述传送带(4)的方向移动时，当所述缺口(31)的朝向与所述滑动槽(21)的方向一致时，所述工件(3)从所述滑道(2)的一端滑入所述传送带(4)；当所述缺口(31)的朝向与所述滑动槽(21)的方向相反时，当所述工件(3)滑动至所述滑动槽(21)时，所述工件(3...

【专利技术属性】
技术研发人员：周国成，
申请(专利权)人：无锡矽鹏半导体检测有限公司，
类型：新型
国别省市：