System.ArgumentOutOfRangeException: 索引和长度必须引用该字符串内的位置。 参数名: length 在 System.String.Substring(Int32 startIndex, Int32 length) 在 zhuanliShow.Bind() 一种数控外圆磨床测量装置及其检测方法制造方法及图纸_技高网

一种数控外圆磨床测量装置及其检测方法制造方法及图纸

技术编号:41271660 阅读:4 留言:0更新日期:2024-05-11 09:25
本发明专利技术提供了一种数控外圆磨床测量装置及其检测方法。它解决了现有测量装置在长时间使用后,由于颠覆力矩造成测头的受力状况不佳,测头在长时间使用后容易导致测量不准确的问题。本发明专利技术通过将加工工件放置在测量座内的测量工位上通过驱动杆驱动测杆向测量工位方向移动并压靠在工件上,通过测量装置检测测杆的位置,以此获得工件的参数,有效避免测头在夹持工件过程中因颠覆力矩造成测头受力不佳,产生形变并进一步影响测量结果的问题,测量结果较为准确且能对较大范围参数内的工件进行检测。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及加工设备,特别涉及一种数控外圆磨床测量装置及其检测方法


技术介绍

1、磨床是利用磨具对工件表面进行磨削加工的机床。大多数的磨床是使用高速旋转的砂轮进行磨削加工,少数的是使用油石、砂带等其他磨具和游离磨料进行加工。磨床能加工硬度较高的材料,如淬硬钢、硬质合金等,也能加工脆性材料,如玻璃、花岗石。磨床能作高精度和表面粗糙度很小的磨削,也能进行高效率的磨削,如强力磨削等。现有的磨床在进行打磨时,为了保证打磨的精度,需要对待打磨件的参数进行测量。

2、现有测量装置包括两种,一种可对较大范围内的直径进行检测,并通过装置前端的两个测头对工件的数据进行精确测量,但该装置价格昂贵,另一种仅能对固定数值的工件进行检测,价格较低,两种装置在长时间使用后,由于颠覆力矩造成测头的受力状况不佳,测头在长时间使用后容易导致测量不准确的情况,现有技术存在可改进之处。


技术实现思路

1、本专利技术设备针对上述现有情况,而提供了一种避免测头在受力后导致测量不准确的外圆磨床测量装置及其检测方法。

2、一种数控外圆磨床测量装置,设置在机床上,其特征在于,包括固定设置在机床上的测量座,该测量座内设置有用于放置工件的测量工位,所述测量座上固定设置有用于向工件中心方向移动的测杆,上述测量工位的中心位于该测杆的移动方向上,所述测量座上固定设置有一个固定座,所述固定座上固定设置有一个驱动上述测杆向测量工位方向移动的驱动杆,该驱动杆的长度方向与上述测杆的长度方向重合,所述测杆上设置有一个刻度板,该刻度板上设置有多个用于测量工件不同部位时测杆所处位置的第二刻度,所述测量座上设置有用于测量刻度板上对应第二刻度位置参数的测量装置。

3、作为优选,所述测量装置包括固定设置在测量座上用于检测测杆位置的光学显微测量仪,所述光学显微测量仪与测杆之间固定设置有一个透明的隔板,该隔板上设置有一个位于上述光学显微测量仪镜头中心处的第一刻度,所述光学显微测量仪包括光学放大镜头和用于接收放大后影像的感光元件,所述感光元件由若干像素组成,所述光学放大镜头的放大倍数等于感光元件中单个像素的尺寸长度除以影像测量仪测量的分度值,所述影像测量仪的测量范围不小于待测工件标准尺寸的正负偏差绝对值之和,所述感光元件的尺寸不小于测量范围与光学放大镜头的放大倍数的乘积。

4、作为优选,所述驱动杆为电动推杆。

5、作为优选,所述电动推杆与测杆之间设置有一个弹簧,该弹簧的两端分别固定设置在电动推杆与测杆上。

6、作为优选,所述电动推杆朝向测杆的一端固定设置有一个向上述测杆方向延伸的导向杆,该导向杆朝向测杆的一端与测杆之间留有一定间隙,且导向杆朝向测杆的一端固定设置一个用于检测电动推杆与测杆之间距离的行程开关。

7、作为优选,所述测杆的下端固定设置有一个用于贴靠在工件上的压块,该压块为硬质合金。

8、作为优选,所述测杆、电动推杆、测量装置、弹簧、导向杆与行程开关分别设置有两个,且分别位于测量座的上端与下端。

9、一种使用上述外圆磨床测量装置对工件进行检测的检测方法包括以下步骤:

10、步骤一:加工一个标准工件;

11、步骤二:根据工件半径差制作刻度板,在刻度板上获得多个对应不同加工部位的第二刻度;

12、步骤三:将待加工工件装入工位进行测量;

13、步骤四:将测杆抵靠在工件外圆上,调整隔板及光学显微测量仪与刻度板的相对位置,使第二刻度位于光学显微测量仪的视野范围内,并测得第一刻度与第二刻度之间的差值,将该差值输入加工设备数控系统并对后续工件进行加工。

14、步骤五:更换检测部位并重复上述与步骤四,直至完成所有不同直径段的差值检测。

15、步骤六;放置待加工工件,测杆抵靠在工件的待加工部位,加工时,根据上述测量所得的相应差值对工件进行加工,测量装置测得的差值与步骤四中测得的差值一致时,工件尺寸与标准工件尺寸一致。

16、与现有技术相比,本专利技术具有以下有益效果:加工工件放置在测量座内的测量工位上通过驱动杆驱动测杆向测量工位方向移动并压靠在工件上,通过测量装置检测测杆的位置,以此获得工件的参数,有效避免测头在夹持工件过程中因颠覆力矩造成测头受力不佳,产生形变并进一步影响测量结果的问题,测量结果较为准确且能对较大范围参数内的工件进行检测,通过具有多个第二刻度的刻度板来测量相应部位的尺寸,用一套测量机构可以精确测量多段不同尺寸的直径。

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【技术保护点】

1.一种数控外圆磨床测量装置,设置在机床上,其特征在于,包括固定设置在机床上的测量座(1),该测量座(1)内设置有用于放置工件的测量工位(2),所述测量座(1)上固定设置有用于向工件中心方向移动的测杆(3),上述测量工位(2)的中心位于该测杆(3)的移动方向上,所述测量座(1)上固定设置有一个固定座(4),所述固定座(4)上固定设置有一个驱动上述测杆(3)向测量工位(2)方向移动的驱动杆(17),该驱动杆(17)的长度方向与上述测杆(3)的长度方向重合,所述测杆(3)上设置有一个刻度板(7),该刻度板(7)上设置有多个用于测量工件不同部位时测杆(3)所处位置的第二刻度(12),所述测量座(1)上设置有用于测量刻度板(7)上对应第二刻度(12)位置参数的测量装置(6)。

2.根据权利要求1所述的一种数控外圆磨床测量装置,其特征在于,所述测量装置(6)包括固定设置在测量座(1)上用于检测测杆(3)位置的光学显微测量仪(9),所述光学显微测量仪(9)与测杆(3)之间固定设置有一个透明的隔板(10),该隔板(10)上设置有一个位于上述光学显微测量仪(9)镜头中心处的第一刻度(11),所述光学显微测量仪(9)包括光学放大镜头和用于接收放大后影像的感光元件,所述感光元件由若干像素组成,所述光学放大镜头的放大倍数等于感光元件中单个像素的尺寸长度除以影像测量仪测量的分度值,所述影像测量仪的测量范围不小于待测工件标准尺寸的正负偏差绝对值之和,所述感光元件的尺寸不小于测量范围与光学放大镜头的放大倍数的乘积。

3.根据权利要求1所述的一种数控外圆磨床测量装置,其特征在于,所述驱动杆(17)为电动推杆(5)。

4.根据权利要求3所述的一种数控外圆磨床测量装置,其特征在于,所述电动推杆(5)与测杆(3)之间设置有一个弹簧(13),该弹簧(13)的两端分别固定设置在电动推杆(5)与测杆(3)上。

5.根据权利要求4所述的一种数控外圆磨床测量装置,其特征在于,所述电动推杆(5)朝向测杆(3)的一端固定设置有一个向上述测杆(3)方向延伸的导向杆(14),该导向杆(14)朝向测杆(3)的一端与测杆(3)之间留有一定间隙,且导向杆(14)朝向测杆(3)的一端固定设置一个用于检测电动推杆(5)与测杆(3)之间距离的行程开关(15)。

6.根据权利要求5所述的一种数控外圆磨床测量装置,其特征在于,所述测杆(3)的下端固定设置有一个用于贴靠在工件上的压块(16),该压块(16)为硬质合金。

7.根据权利要求6所述的一种数控外圆磨床测量装置,其特征在于,所述测杆(3)、电动推杆(5)、测量装置(6)、弹簧(13)、导向杆(14)与行程开关(15)分别设置有两个,且分别位于测量座(1)的上端与下端。

8.一种使用上述数控外圆磨床测量装置对工件进行检测的检测方法包括以下步骤:

...

【技术特征摘要】

1.一种数控外圆磨床测量装置,设置在机床上,其特征在于,包括固定设置在机床上的测量座(1),该测量座(1)内设置有用于放置工件的测量工位(2),所述测量座(1)上固定设置有用于向工件中心方向移动的测杆(3),上述测量工位(2)的中心位于该测杆(3)的移动方向上,所述测量座(1)上固定设置有一个固定座(4),所述固定座(4)上固定设置有一个驱动上述测杆(3)向测量工位(2)方向移动的驱动杆(17),该驱动杆(17)的长度方向与上述测杆(3)的长度方向重合,所述测杆(3)上设置有一个刻度板(7),该刻度板(7)上设置有多个用于测量工件不同部位时测杆(3)所处位置的第二刻度(12),所述测量座(1)上设置有用于测量刻度板(7)上对应第二刻度(12)位置参数的测量装置(6)。

2.根据权利要求1所述的一种数控外圆磨床测量装置,其特征在于,所述测量装置(6)包括固定设置在测量座(1)上用于检测测杆(3)位置的光学显微测量仪(9),所述光学显微测量仪(9)与测杆(3)之间固定设置有一个透明的隔板(10),该隔板(10)上设置有一个位于上述光学显微测量仪(9)镜头中心处的第一刻度(11),所述光学显微测量仪(9)包括光学放大镜头和用于接收放大后影像的感光元件,所述感光元件由若干像素组成,所述光学放大镜头的放大倍数等于感光元件中单个像素的尺寸长度除以影像测量仪测量的分度值,所述影像测量仪的测量范围不小于待测工件标...

【专利技术属性】
技术研发人员:潘旭华
申请(专利权)人:浙江亚微精密机床有限公司
类型:发明
国别省市:

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