【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及一种基于soi与sic的耐高温mems器件及其制备方法,属于先进制造。
技术介绍
1、随着物联网、大数据的发展,万物互联正悄然改变人们的生活方式,其中信息获取是万物互联的关键一环,传感器作为采集信息的一种有效手段发挥着重要作用。mems压力传感器作为探测信号的成熟手段,在汽车工业、航空航天、石油探测、生物医疗、消费电子等领域应用非常广泛。按照压力测量原理的不同,mems压力传感器包括电容式、光纤式和压阻式压力等类型。其中压阻式mems压力传感器是基于材料的压阻效应工作的,工艺制备简单、成本较低,因此应用也最为广泛。不过,普通的硅基压阻式压力传感器通常在硅衬底上进行反向掺杂形成pn结隔离区域,这种压力传感器一旦温度超过125℃,pn结的漏电电流就会急剧增大,导致传感器失效。而在航空航天等特种领域,发动机腔压是一个重要参数,对于判定发动机安全至关重要,但是发动机温度较高,传统传感器无法满足检测要求。
2、sic存在200多种晶型,而且各种晶型之间受温度影响极大,不同晶型之间存在转化的可能,因此给沉积高纯度的sic带
...【技术保护点】
1.一种基于SOI与SiC的耐高温MEMS器件,其特征在于:包括SiC、金属引线、金属pad、氧化硅绝缘层、SOI的器件层、SOI的埋氧层、SOI的基底层和空腔;SOI晶圆由三层结构组成,最上层为器件层,中间层为埋氧层,最下层为基底层;在SiC晶圆上生长一层氧化硅绝缘层;将生长有氧化硅绝缘层的SiC晶圆与SOI晶圆进行键合,SOI晶圆的器件层和SiC晶圆的氧化硅绝缘层通过阳极键合进行永久性结合;抛光、图形化处理后的SiC形成SiC块,将SiC块作为压敏结构;光刻图形化形成金属电极和金属引线结构。
2.一种基于SOI与SiC的耐高温MEMS器件的制备方法,用
...【技术特征摘要】
1.一种基于soi与sic的耐高温mems器件,其特征在于:包括sic、金属引线、金属pad、氧化硅绝缘层、soi的器件层、soi的埋氧层、soi的基底层和空腔;soi晶圆由三层结构组成,最上层为器件层,中间层为埋氧层,最下层为基底层;在sic晶圆上生长一层氧化硅绝缘层;将生长有氧化硅绝缘层的sic晶圆与soi晶圆进行键合,soi晶圆的器件层和sic晶圆的氧化硅绝缘层通过阳极键合进行永久性结合;抛光、图形化处理后的sic形成sic块...
【专利技术属性】
技术研发人员:汤跃,谢会开,岳晋标,杨智文,魏振南,
申请(专利权)人:北京理工大学,
类型:发明
国别省市:
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