【技术实现步骤摘要】
本说明书涉及射线探测领域，特别涉及一种确定探测器安装误差的方法和系统。
技术介绍
1、在基于x射线进行成像的扫描设备(例如，电子计算机断层扫描(computedtomography，ct)设备)中，探测器的探测模块包括一块或多块感光材料(材质可以为gos晶体或czt晶体等)，由于生产探测器的工艺限制，感光材料及其对应的像素单元或反散射栅格往往与设计位置(感光材料和/或像素单元在探测器设计时的理想位置)之存在位置误差，且在探测器生产完成后，上述位置误差难以测量。
2、基于此，期望提出一种确定探测器安装误差的方法和系统。
技术实现思路
1、本说明书一个或多个实施例提供一种确定探测器安装误差的方法。所述确定探测器安装误差的方法包括：获取第一探测器对x射线的第一响应矩阵，第一响应矩阵包括若干个像素点的第一响应值；第一探测器为未安装反散射栅格的探测器；获取第二探测器对x射线的第二响应矩阵，第二响应矩阵包括若干个像素点的第二响应值；第二探测器为已安装反散射栅格的探测器；以及，基于第一响应矩...
【技术保护点】
1.一种确定探测器安装误差的方法，其特征在于，所述方法包括：
2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述探测模块包括感光材料和像素单元；所述反散射栅格包括多个反散射栅格板，所述多个反散射栅格板组成一维结构或二维结构；所述一维结构为所述多个反散射栅格板沿所述探测器的长度方向排列，形成一维反散射栅格；所述二维结构为所述多个反散射栅格板分别沿着所述探测器的长度方向和所述探测器的切片方向排列，形成二维反散射栅格。
3.如权利要求2所述的方法，其特征在于，所述感光材料包括多个感光材料块，所述基于所述第一响应矩阵和所述第二响应矩阵，确定所述反散射栅格相对...
【技术特征摘要】
1.一种确定探测器安装误差的方法，其特征在于，所述方法包括：
2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述探测模块包括感光材料和像素单元；所述反散射栅格包括多个反散射栅格板，所述多个反散射栅格板组成一维结构或二维结构；所述一维结构为所述多个反散射栅格板沿所述探测器的长度方向排列，形成一维反散射栅格；所述二维结构为所述多个反散射栅格板分别沿着所述探测器的长度方向和所述探测器的切片方向排列，形成二维反散射栅格。
3.如权利要求2所述的方法，其特征在于，所述感光材料包括多个感光材料块，所述基于所述第一响应矩阵和所述第二响应矩阵，确定所述反散射栅格相对于所述第二探测器的探测模块的安装误差包括：
4.如权利要求3所述的方法，其特征在于，所述反散射栅格包括多个反散射栅格板；所述多个反散射栅格板配置于x射线发射源与所述感光材料之间；所述安装误差包括第一安装误差和第二安装误差；所述第一安...
【专利技术属性】
技术研发人员：余竞一，
申请(专利权)人：上海联影医疗科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：
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