【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及芯片，尤其涉及一种mcu低功耗模式检测方法、装置。
技术介绍
1、mcu的设计会结合不同的应用场景，设计不同功耗等级的低功耗模式，主要可分为正常工作模式，睡眠模式(sleep)，停止模式(stop)以及待机模式(standby模式)等。在mcu的前期设计阶段，需要对设计的低功耗模式切换进行完整的验证，以确保设计的低功耗模式切换功能的完整无误。mcu通过关闭内核时钟、外设时钟、时钟源、存储器等内部部件来进入低功耗模式，降低功耗。
2、低功耗模式切换的现有方案中通常是，通过上位机发送指令，使mcu进入不同的低功耗模式，并监测mcu在这些模式下的电流消耗和状态信号，然后唤醒mcu回到正常工作模式，再次监测状态信号和电流消耗。通过比较mcu在低功耗模式和正常工作模式下的状态信号和电流消耗，判断mcu的低功耗模式切换是否正常。测试结果将反馈至上位机显示。但现有技术中低功耗模式无法实现精准性检测，尤其是无法判断具体是哪个低功耗模式，以及对应模式下内部模块的控制是否正常运行，在精准性无法完成的情况下造成了现有技术低功耗模式切换和检测无法在实际中得到广泛应用。
技术实现思路
1、为了解决现有技术mcu低功耗模式检测的精准性，根据本专利技术的一个方面，提供了一种mcu低功耗模式检测方法，所述检测方法包括，
2、基于预定义的初始值设置存储器，所述存储器为具备在低功耗状态下具有数据挥发特性的存储设备，
3、通过计算模型计算与所述预定义的初始值不同的第二数
4、响应于mcu从常规运行模式至低功耗模式、再从低功耗模式至常规运行模式的切换，判断切换变化后的第二数值与第三数值的差异，得到差异结果，
5、所述mcu还包括外设寄存器，所述外设寄存器预存外设寄存器数值,
6、至少基于所述差异结果以及所述mcu外设寄存器数值得到mcu低功耗模式检测结果。
7、在一些实施方式中，所述存储器为静态随机访问存储器和同步动态随机访问存储器。
8、在一些实施方式中，所述基于预定义的初始值设置存储器，具体包括，在所述存储器中任一存储空间存储所述预定义的初始值。
9、在一些实施方式中，所述响应于mcu从常规运行模式至低功耗模式、再从低功耗模式至常规运行模式的切换，判断切换变化后的第二数值与第三数值的差异，得到差异结果，具体包括，响应与mcu从常规运行模式至低功耗模式，停留低功耗模式第一预设时间后，再从低功耗模式至常规运行模式的切换，判断切换变化后的第二数值与第三数值的差异，得到差异结果。
10、在一些实施方式中，所述计算模型完成基于低功耗模式切换前在常规运行模式下运行时间进行的计算。
11、在一些实施方式中，所述计算与所述预定义的初始值不同的第二数值，具体包括，在mcu从常规运行模式切换至低功耗模式之前，基于每隔第二预设时间执行一次累加运算的规则，以所述预定义的初始值为基础值，计算得到与常规运行状态时间关联的第二数值。
12、在一些实施方式中，所述备份域为rtc备份寄存器或者备份sram。
13、在一些实施方式中，所述至少基于所述差异结果以及所述mcu外设寄存器数值得到mcu低功耗模式检测结果，具体包括，基于所述差异结果、所述mcu外设寄存器数值以及所述从低功耗模式至常规运行模式后的系统时钟状态，得到mcu低功耗模式检测结果。
14、在一些实施方式中，基于所述差异结果、所述mcu外设寄存器数值以及所述从低功耗模式至常规运行模式后的内部时钟状态，得到mcu低功耗模式检测结果，具体包括，所述差异结果为相同，所述mcu外设寄存器数值为复位数值，判断所述mcu的睡眠模式切换正常。
15、在一些实施方式中，基于所述差异结果、所述mcu外设寄存器数值以及所述从低功耗模式至常规运行模式后的内部时钟状态，得到mcu低功耗模式检测结果，具体包括，所述差异结果为相同，所述mcu外设寄存器数值不是复位数值，所述mcu系统时钟为内部高速时钟，判断所述mcu停止模式切换正常。
16、在一些实施方式中，基于所述差异结果、所述mcu外设寄存器数值以及所述从低功耗模式至常规运行模式后的内部时钟状态，得到mcu低功耗模式检测结果，具体包括，所述差异结构为不同，所述mcu外设寄存器数值不是复位数值，所述mcu系统时钟为内部高速时钟，判断所述mcu开断模式切换正常。
17、本专利技术第二方面提供了一种mcu低功耗模式检测装置，所述检测装置包括，
18、设置单元，基于预定义的初始值设置存储器，所述存储器为具备在低功耗状态下具有数据挥发特性的存储设备，
19、计算单元，计算与所述预定义的初始值不同的第二数值，
20、备份单元，将第二数值备份存储在备份域，所述在备份域备份的数值为第三数值，
21、判断单元，响应于mcu从常规运行模式至低功耗模式、再从低功耗模式至常规运行模式的切换，判断切换变化后的第二数值与第三数值的差异，得到差异结果，
22、检测单元，至少基于所述差异结果以及所述mcu外设寄存器数值得到mcu低功耗模式检测结果。
23、本专利技术第三方面提供了一种mcu芯片，包括了处理器及存储器，所述存储器存储有能够被所述处理器执行的计算机程序，所述处理器可执行所述计算机程序，以实现如上述本专利技术第一方面任一项所述的低功耗模式检测方法。
24、本专利技术的有益效果：
25、本专利技术mcu低功耗模式检测方法，通过设置预定义的初始值并存储在存储器中，计算与所述预定义的初始值不同的第二数值，将第二数值备份存储在备份域中，在备份域备份的数值为第三数值，响应于mcu从常规运行模式至低功耗模式、再从低功耗模式至常规运行模式的切换，判断切换变化后的第二数值与第三数值的差异，得到差异结果，至少基于所述差异结果以及所述mcu外设寄存器数值得到mcu低功耗模式检测结果。巧妙地通过不同低功耗模式下存储的第二数值和备份域第三数值的比较，配合外设寄存器在不同低功耗模式下的变化，实现了低功耗模式切换的准确检测，能够检测区分出不同的低功耗模式，实现了低功耗模式切换中内部模块是否关闭的验证，同时也实现了哪个低功耗模式的判断。
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1.一种MCU低功耗模式检测方法，其特征在于，所述检测方法包括，
2.如权利要求1所述的低功耗模式检测方法，其特征在于，所述响应于MCU从常规运行模式至低功耗模式、再从低功耗模式至常规运行模式的切换，判断切换变化后的第二数值与第三数值的差异，得到差异结果，具体包括，响应与MCU从常规运行模式至低功耗模式，停留低功耗模式第一预设时间后，再从低功耗模式至常规运行模式的切换，判断切换变化后的第二数值与第三数值的差异，得到差异结果。
3.如权利要求1所述的低功耗模式检测方法，其特征在于，所述计算模型完成基于低功耗模式切换前在常规运行模式下运行时间进行的计算。
4.如权利要求3所述的低功耗模式检测方法，其特征在于，所述计算与所述预定义的初始值不同的第二数值，具体包括，在MCU从常规运行模式切换至低功耗模式之前，基于每隔第二预设时间执行一次累加运算的规则，以所述预定义的初始值为基础值，计算得到与常规运行状态时间关联的第二数值。
5.如权利要求1所述的低功耗模式检测方法，其特征在于，所述备份域为RTC备份寄存器或者备份SRAM。
6.
7.如权利要求1或6所述的低功耗模式检测方法，其特征在于，基于所述差异结果、所述MCU外设寄存器数值以及所述从低功耗模式至常规运行模式后的内部时钟状态，得到MCU低功耗模式检测结果，具体包括，所述差异结果为相同，所述MCU外设寄存器数值为复位数值，判断所述MCU的睡眠模式切换正常。
8.如权利要求7所述的低功耗模式检测方法，其特征在于，基于所述差异结果、所述MCU外设寄存器数值以及所述从低功耗模式至常规运行模式后的内部时钟状态，得到MCU低功耗模式检测结果，具体包括，所述差异结果为相同，所述MCU外设寄存器数值不是复位数值，所述MCU系统时钟为内部高速时钟，判断所述MCU停止模式切换正常。
9.如权利要求7所述的低功耗模式检测方法，其特征在于，基于所述差异结果、所述MCU外设寄存器数值以及所述从低功耗模式至常规运行模式后的内部时钟状态，得到MCU低功耗模式检测结果，具体包括，所述差异结构为不同，所述MCU外设寄存器数值不是复位数值，所述MCU系统时钟为内部高速时钟，判断所述MCU待机模式切换正常。
10.一种MCU低功耗模式检测装置，其特征在于，包括，
...【技术特征摘要】
1.一种mcu低功耗模式检测方法，其特征在于，所述检测方法包括，
2.如权利要求1所述的低功耗模式检测方法，其特征在于，所述响应于mcu从常规运行模式至低功耗模式、再从低功耗模式至常规运行模式的切换，判断切换变化后的第二数值与第三数值的差异，得到差异结果，具体包括，响应与mcu从常规运行模式至低功耗模式，停留低功耗模式第一预设时间后，再从低功耗模式至常规运行模式的切换，判断切换变化后的第二数值与第三数值的差异，得到差异结果。
3.如权利要求1所述的低功耗模式检测方法，其特征在于，所述计算模型完成基于低功耗模式切换前在常规运行模式下运行时间进行的计算。
4.如权利要求3所述的低功耗模式检测方法，其特征在于，所述计算与所述预定义的初始值不同的第二数值，具体包括，在mcu从常规运行模式切换至低功耗模式之前，基于每隔第二预设时间执行一次累加运算的规则，以所述预定义的初始值为基础值，计算得到与常规运行状态时间关联的第二数值。
5.如权利要求1所述的低功耗模式检测方法，其特征在于，所述备份域为rtc备份寄存器或者备份sram。
6.如权利要求1所述的低功耗模式检测方法，其特征在于，所述至少基于所述差异结果以及所述mcu外设寄存器数值得到mcu低功耗模式检测结果，具体包括，基...
【专利技术属性】
技术研发人员：张吉红，刘夏聪，
申请(专利权)人：珠海极海半导体有限公司，
类型：发明
国别省市：
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