校准飞行时间系统的方法和飞行时间系统技术方案

本发明专利技术提出了一种用于校准飞行时间系统的方法，所述飞行时间系统具有位于盖板(CP)后面的飞行时间传感器。所述方法包括响应于控制信号(CS1)的相应的触发脉冲而发射多个光的发送脉冲(EP)，并且检测光的接收脉冲(RP、RP')。确定表示发送脉冲(EP)之一与接收脉冲(RP、RP')之一之间的时间周期的相应的差值。差值累积到至少一个直方图的许多的区间(1，...，N)中。所述方法还涉及在预定的区间范围(1，...，M)内在直方图中记录至少一个串扰响应(CTP)，并且使用记录的串扰响应(CTP)来校准直方图。最终，基于对校准的直方图的评估，生成指示飞行时间的输出信号(OS)。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及校准飞行时间系统的领域。

技术介绍

1、飞行时间传感器有许多与距离测量相关的应用，例如包括接近检测、辅助数码相机自动对焦、多区域自动对焦、手势检测或3d相机应用。飞行时间(tof)能够通过发射电磁辐射脉冲并且检测对象反射来确定。该技术能够在多周期内利用多个脉冲来收集更多的数据以提高信噪比。反射是用表示传感器与对象之间距离的时间延迟来检测的。时间延迟或下文中的飞行时间td能够计算为：

2、

3、其中d表示传感器与对象之间的距离，以及c表示空气中的光速。

4、这项技术的挑战性方面之一涉及光学串扰。位于盖后面的飞行时间传感器的实施方式经常受到盖上的污染，例如移动设备或相机的玻璃上的污迹。继而，这经常会导致失真并且精度降低。

5、在典型的实施方式中，激光二极管或表面发射器，例如垂直腔表面发射激光器vcsel用作发射电磁辐射脉冲的发射器。脉冲宽度很宽，反射的脉冲覆盖很长的距离。如上所述，由返回脉冲的延迟确定到对象的距离。然而，发射和反射的脉冲都穿过盖并且可能受到盖表面的任何污染的影响。例如，当盖上有污迹时本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种用于校准飞行时间系统的方法，所述飞行时间系统具有位于盖板(CP)后面的飞行时间传感器，

2.根据权利要求1所述的方法，其中

3.根据权利要求2所述的方法，其中，通过仅评估直方图的比所述预定的区间范围高的区间来校准所述直方图。

4.根据权利要求1所述的方法，其中，通过从所述直方图中减去串扰响应(CTP)乘以比例因子的值来校准所述直方图。

5.根据权利要求1或2所述的方法，其中

6.根据权利要求5所述的方法，包括另外的步骤：

7.根据权利要求1或2所述的方法，其中

8.根据权利要求6所述的方法，其中<...

【技术特征摘要】

1.一种用于校准飞行时间系统的方法，所述飞行时间系统具有位于盖板(cp)后面的飞行时间传感器，

2.根据权利要求1所述的方法，其中

3.根据权利要求2所述的方法，其中，通过仅评估直方图的比所述预定的区间范围高的区间来校准所述直方图。

4.根据权利要求1所述的方法，其中，通过从所述直方图中减去串扰响应(ctp)乘以比例因子的值来校准所述直方图。

5.根据权利要求1或2所述的方法，其中

6.根据权利要求5所述的方法，包括另外的步骤：

7.根据权利要求1或2所述的方法，其中

8.根据权利要求6所述的方法，其中

9.根据权利要求8所述的方法，其中，使用时间平均滤波器根据所述组合的串扰响应来确定所述校准值，所述时间平均滤波器具有：

【专利技术属性】
技术研发人员：克里·格洛弗，曼弗雷德·卢埃格尔，罗伯特·卡佩尔，克里斯蒂安·莫特娜，马里奥·曼宁格，
申请(专利权)人：AMS有限公司，
类型：发明
国别省市：