【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及数据管理，具体为一种用于硅麦测试的探针台探测数据管理系统及方法。
技术介绍
1、在芯片制造和封装过程中，硅麦测试是一种非常重要的测试方法；硅麦测试通常是指对硅晶圆进行测试，以确保芯片制造过程的质量和稳定性，并检测芯片是否符合设计规格和标准。硅麦测试通常由自动测试设备和探针台组成，其中探针台是测试过程中一个非常关键的部分；探针台是一种测试工具，用于将测试信号传输到芯片上的电极上，以便测量和分析芯片的电气特性和性能。探针台通常由多个探针和驱动器组成，可以根据芯片的尺寸和排列方式进行定制和调整，以实现高精度的测试和分析。在硅麦测试中，探针台探测数据是非常重要的，它们可以提供关于芯片电气特性和性能的详细信息，包括功耗、时序、噪声、温度等参数。通过采集和分析这些数据，可以评估芯片的质量和稳定性，并确定任何需要调整或改进的方面，从而确保芯片制造和封装的质量和可靠性。
2、虽然现有的探针台探测数据管理系统在一定程度上可以满足当前的需求，但还存在一定的缺陷，具体体现在：在探针台探测数据的采集过程中，忽略了不同类别探针台探测数据的采集顺序会影响芯片的检测效率；而且在设定探针台探测数据的采集顺序的情况下，由于操作人员的疏忽，没有按照设定的采集顺序进行数据采集，操作人员为了保证测试结果的准确性，往往会放弃当前的所采集的探针台探测数据，而进行新的一轮数据采集，这也延长了探针台探测数据的采集时间，从而导致探针台探测数据的采集效率低，也增加了操作人员的工作量。
技术实现思路
1、本专
2、为了解决上述技术问题，本专利技术提供如下技术方案：
3、一种用于硅麦测试的探针台探测数据管理方法，方法包括以下步骤：
4、s100.获取相同型号芯片的历史探针台探测数据，根据硅麦测试的结果，将历史探针台探测数据分为合格数据和不合格数据；筛选合格数据的历史探针台探测数据，并构建探针台探测数据采集顺序表；
5、s200.基于探针台探测数据采集顺序表，分析不同类别的历史探针台探测数据的采集顺序，将历史探针台探测数据的采集顺序构成采集顺序向量，通过分析采集顺序向量得到模板顺序向量；
6、s300.根据模板顺序向量，结合探针台探测数据采集顺序表，对不同类别历史探针台探测数据的采集顺序进一步分析，根据分析结果进行探针台探测数据采集顺序的调整；
7、s400.按照步骤s300调整后的采集顺序，进行一次测试探针台探测数据采集，将测试探针台探测数据采集与历史探针台探测数据的采集顺序进行分析；根据分析结果进行实时探针台探测数据采集，分析实时探针台探测数据采集顺序，并输出相应的提示信息。
8、进一步的，步骤s100包括：
9、s101.获取历史探针台探测数据，根据硅麦测试的结果，将历史探针台探测数据分为合格数据和不合格数据；其中合格数据表示合格芯片对应的历史探针台检测数据，不合格数据表示不合格芯片对应的历史探针台检测数据；
10、根据硅麦测试的结果，可以得到哪些芯片是合格芯片，哪些芯片是不合格芯片；对于合格芯片来说，对应的历史探针台探测数据的采集顺序是没有问题的，因此为后面的数据分析和处理提供了可靠的基础。
11、s102.获取合格数据，针对同一型号的每个检测芯片，都在测试记录中查询历史探针台检测数据中不同类别数据的采集顺序，并根据采集顺序进行数据编号，其中编号为1的数据最先采集；
12、s103.建立探针台探测数据采集顺序表，数据表的第一行记录的是检测芯片的编号，分别为：a1,a2,...,an，其中a1表示同一型号中的第1个检测芯片，a2表示同一型号中的第2个检测芯片，以此类推，an表示同一型号中的第n个检测芯片；数据表的第一列记录的是探针台探测数据的类别名称，例如，电性能参数、时序参数、以及信号完整性等。
13、通过建立探针台探测数据采集顺序表，可以更加方便地查找对芯片检测顺序，同时也可以更加清晰地展现每个芯片的检测情况，进一步提高了芯片检测的效率和准确性。
14、进一步的，步骤s200包括：
15、s201.基于探针台探测数据采集顺序表，获取每一个检测芯片各类探针台探测数据的采集顺序编号，组成采集顺序向量，且采集顺序向量表示为vai＝{x1,x2,...,xm}i，其中vai表示同一型号中的第i个检测芯片向量，且i取1到n；x1表示第1个类别的探针台探测数据顺序编号,x2表示第2个类别的探针台探测数据顺序编号,以此类推，xm表示第m个类别的探针台探测数据顺序编号，且m表示探针台探测数据的类别数；采集顺序向量可以更加直观的体现各类探针台探测数据的采集顺序，也为后续的分析带来了方便。
16、s202.获取每个检测芯片的采集顺序向量，对于每个采集顺序向量，都进行相似度计算，且相似度计算公式为：
17、
18、其中，vai和vaj分别表示同一型号中的第i个检测芯片和第j个检测芯片的采集顺序向量；
19、s203.根据相似度计算结果，将相似度为1的采集顺序向量归为一类，再将采集顺序向量对应的检测芯片的编号按照采集顺序向量的分类进行划分，构成若干个集合b，且集合b的个数取决于采集顺序向量的分类的个数；
20、s204.根据测试记录，获得每个检测芯片的历史检测时长t，计算所有集合b的历史检测时长平均值t1，选取历史检测时长平均值t1_min最小的集合b对应的采集顺序向量作为模板顺序向量b1。
21、历史检测时长较短的集合b意味着该类芯片在过去的检测中耗时相对较少，选择这样的集合作为模板顺序向量可以提高后续芯片检测的效率，因为这些芯片的检测时长更短，可能具有更高的生产效率或者更好的性能；
22、历史检测时长较短的集合b所对应的采集顺序向量作为模板，可以减少后续芯片检测的时间和资源成本，较短的历史检测时长意味着这些芯片的某些特征或规律已经被验证，因此可以借鉴这些模板顺序向量，将其作为后续芯片检测的参考，从而减少重复的检测步骤，降低成本；
23、选择历史检测时长较短的集合b对应的采集顺序向量作为模板顺序向量，可能意味着这些芯片的生产工艺或者设计参数更加稳定和可靠，因此，将其作为后续芯片检测的参考，有助于提高检测的准确性，减少可能出现的错误或缺陷。
24、进一步的，步骤s300包括：
25、s301.基于探针台探测数据采集顺序表，对于每一行对应类别的历史探针台探测数据都统计数字编号的出现次数，选择数字编号出现次数最大的作为对应类别的历史探针台探测数据的采集编号；若同一行对应的出现次数最大的数字编号不唯一，则记录相应的数据编号，并输出提示信息a给相关人员，由相关人员进行相应的处理；这样可以避免忽略掉重要的数据，同时也让相关人员能够及时处理这种非唯一情况，保证后续的数据分析和处理的准确性。对探针台本文档来自技高网...
【技术保护点】
1.一种用于硅麦测试的探针台探测数据管理方法，其特征在于：所述方法包括以下步骤：
2.根据权利要求1所述的一种用于硅麦测试的探针台探测数据管理方法，其特征在于：所述步骤S100包括：
3.根据权利要求1所述的一种用于硅麦测试的探针台探测数据管理方法，其特征在于：所述步骤S200包括：
4.根据权利要求1所述的一种用于硅麦测试的探针台探测数据管理方法，其特征在于：所述步骤S300包括：
5.根据权利要求1所述的一种用于硅麦测试的探针台探测数据管理方法，其特征在于：所述步骤S400包括：
6.一种用于硅麦测试的探针台探测数据管理系统，所述系统应用于权利要求1中所述的一种用于硅麦测试的探针台探测数据管理方法，其特征在于：所述系统包括数据获取模块、采集顺序分析模块、采集顺序调整模块、实时数据分析模块以及提示信息显示模块；
7.根据权利要求6所述的一种用于硅麦测试的探针台探测数据管理系统，其特征在于：所述数据获取模块包括历史数据获取单元和数据筛选和构建单元；
8.根据权利要求6所述的一种用于硅麦测试的探针台
9.根据权利要求6所述的一种用于硅麦测试的探针台探测数据管理系统，其特征在于：所述采集顺序调整模块包括历史数据统计和分析单元和相似度匹配和调整单元；
10.根据权利要求6所述的一种用于硅麦测试的探针台探测数据管理系统，其特征在于：所述实时数据分析模块包括测试数据采集单元和数据分析和处理单元；
...【技术特征摘要】
1.一种用于硅麦测试的探针台探测数据管理方法，其特征在于：所述方法包括以下步骤：
2.根据权利要求1所述的一种用于硅麦测试的探针台探测数据管理方法，其特征在于：所述步骤s100包括：
3.根据权利要求1所述的一种用于硅麦测试的探针台探测数据管理方法，其特征在于：所述步骤s200包括：
4.根据权利要求1所述的一种用于硅麦测试的探针台探测数据管理方法，其特征在于：所述步骤s300包括：
5.根据权利要求1所述的一种用于硅麦测试的探针台探测数据管理方法，其特征在于：所述步骤s400包括：
6.一种用于硅麦测试的探针台探测数据管理系统，所述系统应用于权利要求1中所述的一种用于硅麦测试的探针台探测数据管理方法，其特征在于：所述系统包括数据获...
【专利技术属性】
技术研发人员：浦寿杰，杜隽，
申请(专利权)人：无锡星杰测试有限公司，
类型：发明
国别省市：
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