电路板测试设备制造技术

技术编号:41125512 阅读:15 留言:0更新日期:2024-04-30 17:53
本申请实施例提供一种电路板测试设备。电路板测试设备包括升降装置、第一对接装置、第一锁止装置、第二对接装置以及第二锁止装置。升降装置包括用于承载待测试的电路板的承载平台和升降组件。升降组件用于沿竖直方向升降承载平台。第一对接装置包括竖向对接口。承载平台在升起位置和下降位置切换时,竖向对接口用于与电路板的竖向接口插接或分离。承载平台在升起位置或下降位置时,第一锁止装置用于锁止或解锁升降组件。第二对接装置包括水平对接口和驱动组件。驱动组件在第一状态和第二状态切换,以驱动水平对接口与电路板的水平接口分离或插接。驱动组件在第一状态或第二状态时,第二锁止装置用于锁止或解锁驱动组件。

【技术实现步骤摘要】

本申请实施例涉及测试,特别涉及一种电路板测试设备


技术介绍

1、整机柜服务器包括多个服务器节点。服务器节点包括箱体、电源、电路板以及风扇模组。电源、电路板、风扇模组以及液冷组件均设置于箱体内。电源与电路板电连接。电路板上设置有元器件。电路板上的元器件可以包括但不限于中央处理器和内存。服务器节点在进入使用阶段之前,需要使用电路板测试设备对电路板进行功能性测试(functionaltest,ft)或者边界扫描测试(boundary scan inspect,bsi)。测试过程中,操作人员将待测试的电路板放置于电路板测试设备中,以通过电路板测试设备对电路板进行相关测试。电路板具有多种外接的接口。电路板测试设备中具有与电路板上的接口相适配的对接口。相关技术中,在测试阶段,存在电路板的接口发生损坏而导致电路板失效、报废的情况。因此,在电路板测试过程中,如何保证电路板的接口不发生损坏成为一个亟待解决的问题。


技术实现思路

1、本申请实施例提供一种电路板测试设备,可以有效降低因误操作而导致待测试的电路板发生结构损坏的可能本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种电路板测试设备,其特征在于,包括:

2.根据权利要求1所述的电路板测试设备,其特征在于,启动测试过程中,所述第一锁止装置解锁所述升降组件,以使所述升降组件驱动所述承载平台至所述升起位置,在所述竖向对接口与所述竖向接口处于插接状态时,所述第二锁止装置解锁处于所述第一状态的所述驱动组件,以使所述驱动组件在切换到所述第二状态的过程中驱动所述水平对接口至所述插接位置,在所述水平对接口与所述水平接口处于接插状态时,所述第一锁止装置锁止所述升降组件,所述第二锁止装置锁止处于所述第二状态的所述驱动组件;

3.根据权利要求1或2所述的电路板测试设备,其特征在于,所述第一锁...

【技术特征摘要】

1.一种电路板测试设备,其特征在于,包括:

2.根据权利要求1所述的电路板测试设备,其特征在于,启动测试过程中,所述第一锁止装置解锁所述升降组件,以使所述升降组件驱动所述承载平台至所述升起位置,在所述竖向对接口与所述竖向接口处于插接状态时,所述第二锁止装置解锁处于所述第一状态的所述驱动组件,以使所述驱动组件在切换到所述第二状态的过程中驱动所述水平对接口至所述插接位置,在所述水平对接口与所述水平接口处于接插状态时,所述第一锁止装置锁止所述升降组件,所述第二锁止装置锁止处于所述第二状态的所述驱动组件;

3.根据权利要求1或2所述的电路板测试设备,其特征在于,所述第一锁止装置包括第一控制件和第一锁止部件,所述承载平台包括底座和载座,所述第一控制件设置于所述底座,所述底座连接于所述升降组件;沿垂直于所述竖直方向的方向,所述载座可滑动连接于所述底座,所述载座在伸出位置和退回位置切换,所述载座用于承载所述电路板,所述承载平台在所述下降位置,并且所述载座处于所述退回位置或离开所述退回位置时,所述载座触发所述第一控制件,以使所述第一锁止部件解锁或锁止所述升降组件。

4.根据权利要求3所述的电路板测试设备,其特征在于,所述第一控制件包括第一开关件,所述第一锁止部件包括第一线圈和第一磁芯,所述第一开关件与所述第一线圈电连接,所述第一磁芯穿设于所述第一线圈,所述第一开关件控制所述第一线圈通电或断电,使得所述第一磁芯移动以解锁或锁止所述升降组件。

5.根据权利要求2至4任一项所述的电路板测试设备,其特征在于,所述第一锁止装置还包括第二控制件和第二锁止部件,所述承载平台在所述升起位置,并且所述驱动组件在离开所述第一状态或恢复所述第一状态时,所述驱动组件触发所述第二控制件,以控制所述第二锁止部件锁止或解锁所述升降组件。

6.根据权利要求5所述的电路板测试设备,其特征在于,所述第二控制件包括第二开关件,所述第二锁止部件包括第二线圈和第二磁芯,所述第二开关件与所述第二线圈电连接,所述第二磁芯穿设于所述第二线圈,所述第二开关件控制所述第二线圈通电或断电,使得所述第二磁芯移动以锁止或解锁所述升降组件。

7.根据权利要求1至6任一项所述的电路板测试设备,其特征在于,所述升降组件包括升降传动机构和升降操作手柄,所述底座连接于所述升降传动机构,所述升降操作手柄与所述升降传动机构相连,所述升降操作手柄用于驱动所述升降传动机构带动所述承载平台升降,所述承载平台在所述下降位置时,所述第一磁芯解锁或锁止所述升降操作手柄,所述承载平台在所述升起位置时,所述第二磁芯解锁或锁止所述升降操作手柄。

8.根据权利要求7所述的电路板测试设备,其特征在于,所述电路板测试设备还包括限位板,所述限位板包括相连通的导向孔和限位孔;所述升降操作手柄具有转动方向,沿所述转动方向,所述导向孔的两端分别设置所述限位孔,所述升降操作手柄包括操作杆、限位销和驱动单元,所述操作杆与所述升降传动机构相连,沿垂直于所述升降操作手柄的转动轴线的方向,所述限位销相对所述操作杆可滑动;所述驱动单元设置于所述操作杆,所述限位销与所述驱动单元相连,所述承载平台在所述升起位置或者所述下降位置时,所述驱动单元驱动所述限位销相对所述操作杆移动,以使所述限位销退出或者进入对应的所述限位孔。

9.根据权利要求8所述的电路板测试设备,其特征在于,所述第一线圈设置于所述限位板,所述第一磁芯对应所述导向孔设置,所述承载平台在所述下降位置,并且所述限位销进入对应的所述限位孔时,所述第一磁芯伸入或退出所述导向孔,以锁止或者解锁所述限...

【专利技术属性】
技术研发人员:莫盼贵孙贵军
申请(专利权)人:超聚变数字技术有限公司
类型:发明
国别省市:

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