量测装置及量测方法制造方法及图纸

技术编号:41068139 阅读:23 留言:0更新日期:2024-04-24 11:23
本申请涉及量测技术领域,本申请实施例中,量测装置至少包括量测件和阻光结构,阻光结构包括主体件、光学胶和阻光件。通过设置与量测件配合使用的阻光结构,并将光学胶的折射率配置为与镀膜件的基板的折射率相同,能够消除基板背离于镀膜层一侧表面所产生的界面反射,在量测件发射的量测光在依次经由镀膜层、基板后能够到达光学胶的情况下,阻光件用于阻挡进入光学胶的光的反射至基板,进而使得量测件仅能接收由镀膜层反射的量测光,从而提高了镀膜层的反射率的量测结果的准确性。

【技术实现步骤摘要】

本申请涉及量测,特别是涉及量测装置及量测方法


技术介绍

1、相关技术中,车载显示装置中所采用的玻璃盖板,是以玻璃板作为基板,在基板上镀膜(例如,抗反射层和/或抗眩光层)以满足所需反射率的使用需求。然而,镀膜层的反射率的量测结果准确性有待提高。


技术实现思路

1、基于此,有必要提供一种量测装置及量测方法,以提高镀膜层的反射率的量测结果的准确性。

2、根据本申请的一个方面,本申请实施例提供了一种量测装置,用于镀膜件,所述镀膜件包括基板和沿第一方向设于所述基板的一侧表面的镀膜层,所述量测装置包括:

3、量测件,用于沿所述第一方向朝所述镀膜层发射量测光,并接收所述镀膜层反射的量测光;及

4、阻光结构,与所述量测件沿所述第一方向相对设置;

5、其中,所述阻光结构包括具有容纳腔的主体件,以及均设于所述容纳腔内的光学胶和阻光件;所述主体件上设有与所述容纳腔相连通且朝向所述量测件设置的第一开口,所述光学胶用于借助于所述第一开口与所述基板背离于所述镀膜层的一侧相贴合;

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【技术保护点】

1.一种量测装置,用于镀膜件,所述镀膜件包括基板和沿第一方向设于所述基板的一侧表面的镀膜层,其特征在于,所述量测装置包括:

2.根据权利要求1所述的量测装置,其特征在于,所述容纳腔具有沿第一方向依次设置且彼此连通的第一腔体和第二腔体,所述第一开口开设于所述第一腔体背离于所述第二腔体的一侧,所述第一腔体的最大内径小于所述第二腔体的最小内径;

3.根据权利要求2所述的量测装置,其特征在于,所述第一腔体的内径沿所述第一方向不变,所述第二腔体构造为球体。

4.根据权利要求2所述的量测装置,其特征在于,所述吸光层的材质包括石墨烯、碳纳米管、钙钛矿材料、量子点、有...

【技术特征摘要】

1.一种量测装置,用于镀膜件,所述镀膜件包括基板和沿第一方向设于所述基板的一侧表面的镀膜层,其特征在于,所述量测装置包括:

2.根据权利要求1所述的量测装置,其特征在于,所述容纳腔具有沿第一方向依次设置且彼此连通的第一腔体和第二腔体,所述第一开口开设于所述第一腔体背离于所述第二腔体的一侧,所述第一腔体的最大内径小于所述第二腔体的最小内径;

3.根据权利要求2所述的量测装置,其特征在于,所述第一腔体的内径沿所述第一方向不变,所述第二腔体构造为球体。

4.根据权利要求2所述的量测装置,其特征在于,所述吸光层的材质包括石墨烯、碳纳米管、钙钛矿材料、量子点、有机光伏材料、染料敏化材料中的至少一种。

5.根据权利要求1所述的量测装置,其特征在于,所述阻光件包括设于所述容纳腔内的反射件,所述反射件包裹于所述光学胶内,所述反射件用于反射进入所述光学胶的光,以阻挡进入所述光学...

【专利技术属性】
技术研发人员:吴景扬周宗震简昆峰高维笛王俊杰
申请(专利权)人:业成光电深圳有限公司
类型:发明
国别省市:

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