【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及一种散热膜测试治具，属于热界面材料测试领域。
技术介绍
1、随着集成电路不断发展，单位体积内的能耗不断增加，单位面积上散发出来的热量也明显增加，需要用热导率更高的热界面材料来满足高功率继承电路的散热需求。散热膜具有极高的表面热导率，在手机、平板电脑中已经有了广泛的应用。
2、现用的散热膜主要分为人造石墨膜、天然石墨膜和石墨烯散热膜三种，需要根据不同的应用场景选择对应的产品，目前散热膜的测试方法主要为激光法测试面内热导率，无法反应散热膜在应用场景的表现；此外，人造石墨膜由于其生产工艺机理限制，在x-y平面上不同方向的热导率存在一定差异，用激光法测试无法表征其在x-y平面上的热导率差异。
技术实现思路
1、针对上述散热膜测试过程中存在的问题，本技术提出一种散热膜测试治具，可以满足评估不同热源条件下的散热膜实际散热效果，也可以测试散热膜x-y平面上的散热差异。
2、为了实现上述目的，本技术采用如下技术方案：
3、一种散热膜测试治具，其特征在于：包括下模和上模，所述下模为圆柱形电木，在其圆心处设有凹槽，凹槽内放有电热膜，电热膜上方设有测温铜柱，所述测温铜柱上插有隔热的电木圆片，所述下模在距离圆心特定距离的位置设有8个测温铜柱，所述下模在距离圆心特定距离的位置设有4个不锈钢定位柱，所述上模为圆柱形电木，所述上模设有顶柱，所述顶柱位置与下模的测温铜柱对应，所述顶柱上方装有弹簧，所述顶柱用圆环柱塞安装在上模。
4、进一步的，所述的下模
5、进一步的，所述的下模中，测温铜柱（3）由上下两个铜柱组成，下铜柱直径与电热膜一致，上铜柱直径小于下铜柱，上铜柱侧面开孔，与热电偶相连。
6、进一步的，所述的下模中，电木圆片的厚度和圆心中的开孔尺寸与测温铜柱（3）的上铜柱一致。
7、进一步的，所述的下模中，测温铜柱（5）侧面开孔，与热电偶相连。
8、进一步的，所述的上模中，顶柱为螺钉形，顶柱上端装有弹簧，下端表面平整。
9、进一步的，所述的上模中，顶柱用圆环柱塞安装在上模中。
10、与现有技术相比，本技术可以满足评估不同热源条件下的散热膜实际散热效果，也可以测试散热膜x-y平面上的散热差异。
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1.一种散热膜测试治具，其特征在于：包括下模（1）和上模（2），所述下模（1）为圆柱形电木，在其圆心处设有凹槽，凹槽内放有电热膜，电热膜上方设有测温铜柱（3），所述测温铜柱上插有隔热的电木圆片（4），所述下模（1）在距离圆心特定距离的位置设有8个测温铜柱（5），所述下模（1）在距离圆心特定距离的位置设有4个不锈钢定位柱（6），所述上模（2）为圆柱形电木，所述上模（2）设有顶柱（7），所述顶柱（7）位置与下模（1）的测温铜柱（3、5）对应，所述顶柱（7）上方装有弹簧，所述顶柱（7）用圆环柱塞（8）安装在上模（2）。
2.根据权利要求1所述一种散热膜测试治具，其特征在于：所述的下模（1）中，电热膜与稳压电源相连。
3.根据权利要求1所述一种散热膜测试治具，其特征在于：所述的下模（1）中，测温铜柱（3）由上下两个铜柱组成，下铜柱直径与电热膜一致，上铜柱直径小于下铜柱，上铜柱侧面开孔，与热电偶相连。
4.根据权利要求1所述一种散热膜测试治具，其特征在于：所述的下模（1）中，电木圆片（4）的厚度和圆心中的开孔尺寸与测温铜柱（3）的上铜柱一致。
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