【技术实现步骤摘要】
本技术涉及半导体检测，具体为一种半导体检测夹具。
技术介绍
1、在将半导体成品器件加工生产出来后，为确认半导体成品器件出厂时的合格率，通常工作人员会将半导体成品器件放置到检测台上，对其的外观、焊接是否断线、整体尺寸等等项目进行分布检测，而半导体成品器件在被摆放到检测台上，会通过一组夹具结构，来对需要检测工件，进行位置限定；
2、实际预先固定安装在检测台上的半导体检测夹具，在利用夹板构件对半导体构件，进行夹紧限定操作的过程中，由于不同尺寸大小的半导体工件，需要夹持的范围会存在不一致的问题，这一问题的存在，在使得夹持范围统一固定的夹板构件，进行夹持操作时会受到限制的同时，也影响整个检测夹具的适用性。
技术实现思路
1、本技术的目的在于提供一种半导体检测夹具，以解决上述
技术介绍
中提出实际预先固定安装在检测台上的半导体检测夹具进行夹紧限定操作的过程中，夹持范围统一固定的夹板构件会在对不同尺寸大小的半导体工件，进行夹持操作时受到限制的问题。
2、为实现上述目的，本技术提供如下
<本文档来自技高网...【技术保护点】
1.一种半导体检测夹具，包括限定撑板（1），其特征在于：所述限定撑板（1）的顶端中部位置固定连接有检测台面（2），且限定撑板（1）的顶端中部一侧位置设有组合立框（3），所述组合立框（3）的一侧前端设有第一夹板（4），且组合立框（3）的顶端位置固定连接有刻度板（6），所述组合立框（3）的一侧后端位置设有第二夹板（10），且第二夹板（10）和第一夹板（4）的一侧中部均固定连接有传动套筒（7），所述传动套筒（7）的内部螺纹连接有双头丝杆（8），且双头丝杆（8）的中部外部套设有驱动转盘（9）。
2.根据权利要求1所述的一种半导体检测夹具，其特征在于：所述组合立框（...
【技术特征摘要】
1.一种半导体检测夹具，包括限定撑板（1），其特征在于：所述限定撑板（1）的顶端中部位置固定连接有检测台面（2），且限定撑板（1）的顶端中部一侧位置设有组合立框（3），所述组合立框（3）的一侧前端设有第一夹板（4），且组合立框（3）的顶端位置固定连接有刻度板（6），所述组合立框（3）的一侧后端位置设有第二夹板（10），且第二夹板（10）和第一夹板（4）的一侧中部均固定连接有传动套筒（7），所述传动套筒（7）的内部螺纹连接有双头丝杆（8），且双头丝杆（8）的中部外部套设有驱动转盘（9）。
2.根据权利要求1所述的一种半导体检测夹具，其特征在于：所述组合立框（3）沿着检测台面（2）的竖向中轴线为对称轴对称设置，且组合立框（3）的另一侧上方及下方均固定连接有限定支架（11），所述限定支架（11）的外形呈“t”型结构设置。
3.根据权利要求1所述的一种半导体检测夹具，其特征在于...
【专利技术属性】
技术研发人员：熊烱声，李圣，
申请(专利权)人：扬州奕丞科技有限公司，
类型：新型
国别省市：
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