【技术实现步骤摘要】
本技术涉及半导体,具体为半导体清洁的保护结构。
技术介绍
1、半导体指常温下导电性能介于导体与绝缘体之间的材料,其中晶圆片可以直接进入晶圆制造环节生产半导体器件,也可以进行外延工艺加工生产外延片,其在加工的过程中需要进行清洗。
2、现有对晶圆片进行清洁的如旋转喷流法,通过机械臂取出单片晶圆片放置在放置板上,通过水枪喷淋以及晶圆片的高速旋转进行清洗,但此方法通过机械手单片取件的操作可能会出现一些问题,由于晶片壳内各个晶圆片之间缝隙较小,晶片壳的放置不正确及机械臂故障,均有可能导致机械手从晶片壳中取片对晶圆片造成剐蹭,虽然机械手普遍具有碰撞警报,但经过碰撞警报后的机械手已经对某一片晶圆片造成损伤,同时部分晶圆片其表面的大颗粒杂质如果直接进行喷流清洗,容易因为喷流流速过快导致大颗粒杂质对晶圆片刮伤,因此,根据上述问题提出半导体清洁的保护结构。
技术实现思路
1、本技术的目的在于提供半导体清洁的保护结构,以解决现有旋转喷流法,通过机械臂进行取片可能会对晶圆片造成剐蹭,且直接通过水枪进行
...【技术保护点】
1.半导体清洁的保护结构,包括晶片壳(1)和框架(2),其特征在于:所述框架(2)的内侧设置有插板(3),所述插板(3)的表面开设有晶片位(4),所述晶片位(4)的内壁下侧开设有取片位(5),所述插板(3)的上端面固定连接有把手(7),所述晶片位(4)的内侧固定连接有吸水条(6),所述框架(2)的左右端面均固定连接有侧板(8),所述侧板(8)的表面开设有凹槽(9),所述凹槽(9)的内壁固定连接有滑动杆(10),所述滑动杆(10)的外侧滑动连接有夹板(11),所述滑动杆(10)的外侧套接有弹簧(12),所述侧板(8)的上端面均开设有滑槽(13),所述滑槽(13)的内侧滑
...【技术特征摘要】
1.半导体清洁的保护结构,包括晶片壳(1)和框架(2),其特征在于:所述框架(2)的内侧设置有插板(3),所述插板(3)的表面开设有晶片位(4),所述晶片位(4)的内壁下侧开设有取片位(5),所述插板(3)的上端面固定连接有把手(7),所述晶片位(4)的内侧固定连接有吸水条(6),所述框架(2)的左右端面均固定连接有侧板(8),所述侧板(8)的表面开设有凹槽(9),所述凹槽(9)的内壁固定连接有滑动杆(10),所述滑动杆(10)的外侧滑动连接有夹板(11),所述滑动杆(10)的外侧套接有弹簧(12),所述侧板(8)的上端面均开设有滑槽(13),所述滑槽(13)的内侧滑动连接有滑块(14),所述滑块(14)的上端面均固定连接有测试杆(15)。
2.根据权利要求1所述的半导体清洁的保护结构,其特征在于:所述吸水...
【专利技术属性】
技术研发人员:熊烱声,李圣,
申请(专利权)人:扬州奕丞科技有限公司,
类型:新型
国别省市:
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