【技术实现步骤摘要】
本技术涉及半导体测试机,具体为半导体测试机的校准结构。
技术介绍
1、工程师在调试半导体测试机程序时,有一个校准步骤用来测量功率在线路中的损耗,然后通过程序对测量出的损耗加以补偿使得测试能顺利完成,在测试通路的损耗时,将功率探头通过射频线与该条的通路末端相连。
2、射频线在测试时需要处于绝对自由的状态,使测试的结果准确性提高,当人为不小心施加外力或者与其他外物接触可能会对测试结果造成影响,现有限位固定方式虽然可以对射频线进行限位,但会对射频线的位置进行限制影响其自由状态,无法使射频线根据工作人员的需要设定其活动范围,因此,根据上述问题提出一种半导体测试机校准装置。
技术实现思路
1、本技术的目的在于提供半导体测试机的校准结构,以解决现有射频线测试需要绝对自由,现有固定方式虽然可以对射频线进行限位避免接触其他结构,但会影响射频线的自由状态,无法使射频线根据工作人员的需要设定其活动范围的问题。
2、为实现上述目的,本技术提供如下技术方案:
3、半导体测试机的
...【技术保护点】
1.半导体测试机的校准结构,包括底座(1)和卡座(2),其特征在于:所述卡座(2)的前后导孔均转动连接有转轴(3),一组所述转轴(3)之间固定连接有套壳(4),所述套壳(4)的内侧滑动连接有滑动板(5),所述滑动板(5)的导孔内壁固定连接有接线头(6),所述滑动板(5)的下端面固定连接有限位块(7),所述套壳(4)的下端面固定连接有弧形板(9),所述弧形板(9)的表面开设有滑轨(10),所述卡座(2)的内壁固定连接有限位杆(11),所述弧形板(9)的左右端导孔均固定连接有阻尼套(12),所述阻尼套(12)的内侧均设滑动连接有传动杆(13),所述传动杆(13)的一端均固
...【技术特征摘要】
1.半导体测试机的校准结构,包括底座(1)和卡座(2),其特征在于:所述卡座(2)的前后导孔均转动连接有转轴(3),一组所述转轴(3)之间固定连接有套壳(4),所述套壳(4)的内侧滑动连接有滑动板(5),所述滑动板(5)的导孔内壁固定连接有接线头(6),所述滑动板(5)的下端面固定连接有限位块(7),所述套壳(4)的下端面固定连接有弧形板(9),所述弧形板(9)的表面开设有滑轨(10),所述卡座(2)的内壁固定连接有限位杆(11),所述弧形板(9)的左右端导孔均固定连接有阻尼套(12),所述阻尼套(12)的内侧均设滑动连接有传动杆(13),所述传动杆(13)的一端均固定连接有控制块(14),所述传动杆(13)的另一端均固定连接有挡块(15)。
2.根据权利要求1所述的半导体测试机的校准结构,其特征在于:所述限位块(7)的...
【专利技术属性】
技术研发人员:熊烱声,李圣,
申请(专利权)人:扬州奕丞科技有限公司,
类型:新型
国别省市:
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