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本技术涉及半导体检测技术领域，尤其为一种半导体检测夹具，包括限定撑板，所述限定撑板的顶端中部位置固定连接有检测台面，且限定撑板的顶端中部一侧位置设有组合立框，所述组合立框的一侧前端设有第一夹板，且组合立框的顶端位置固定连接有刻度板，本技术中...
该专利属于扬州奕丞科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过扬州奕丞科技有限公司授权不得商用。

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