【技术实现步骤摘要】
所属的技术人员知道，本专利技术可以实现为系统、方法或计算机程序产品。因此，本公开可以具体实现为以下形式，即：可以是完全的硬件、也可以是完全的软件(包括固件、驻留软件、微代码等)，还可以是硬件和软件结合的形式，本文一般称为“电路”、“模块”或“系统”。此外，在一些实施例中，本专利技术还可以实现为在一个或多个计算机可读介质中的计算机程序产品的形式，该计算机可读介质中包含计算机可读的程序代码。计算机可读存储介质例如可以是但不限于——电、磁、光、电磁、红外线、或半导体的系统、装置或器件，或者任意以上的组合。在本说明书的描述中，参考术语“一个实施例”、“一些实施例”、“示例”、“具体示例”、或“一些示例”等的描述意指结合该实施例或示例描述的具体特征、结构、材料或者特点包含于本专利技术的至少一个实施例或示例中。在本说明书中，对上述术语的示意性表述不必须针对的是相同的实施例或示例。而且，描述的具体特征、结构、材料或者特点可以在任一个或多个实施例或示例中以合适的方式结合。此外，在不相互矛盾的情况下，本领域的技术人员可以将本说明书中描述的不同实施例或示例以及不同实施例或示例的特征进行结合和组合。尽管上面已经示出和描述了本专利技术的实施例，可以理解的是，上述实施例是示例性的，不能理解为对本专利技术的限制，本领域的普通技术人员在本专利技术的范围内可以对上述实施例进行变化、修改、替换和变型。
技术介绍
1、cmos或者非晶硅x射线成像探测器由于像素、读出电路等存在制造工艺的差异，不能保证每个像素特征的一致性，由于暗电流、adc器件噪声和分辨率、温度以及
2、在室温附近，暗电流是和温度成指数关系，也就是温度变化7摄氏度，暗电流会增加一倍。当暗电流增加较多时候，原先的暗场模板就失效了。所以需要在环境温度变化时候，重新进行校正模板生成。在校正过程中，需要识别当前采集图像是暗场图像还是亮场图像，并根据识别结果，生成相应的模板。
3、最早期的办法是在x射线机上安装电离室传感器，通过x射线产生的空气电离效应，检测射线的存在。近期普遍采用的办法是根据采集图像的亮度均值来区分是否亮场还是暗场，但是这种方法，很难有效设置图像均值阈值，适应所有的曝光时间和温度环境。尤其是温度变化会导致暗场电流指数增加，也会使得图像灰度发生很大的变化，导致采用这个方法的亮场暗场判断失效。
技术实现思路
1、为了克服当x射线探测器工作温度升高，暗电流变大时候，图像均值也会增加，导致无法判断亮暗场图像的问题，本专利技术提供了一种探测器图像亮暗场检测方法、系统、电子设备及介质。
2、第一方面，为了解决上述技术问题，本专利技术提供了一种探测器图像亮暗场检测方法，包括：
3、获取探测器采集的原始图像；
4、选择原始图像中像素值满足预设要求的区域作为目标区域；
5、对目标区域进行傅里叶变换确定图像频域数据；
6、根据图像频域数据的频率和幅值确定功率谱的变化情况；
7、根据功率谱的变化情况对原始图像的亮暗场进行检测。
8、第二方面，本专利技术提供了一种探测器图像亮暗场检测系统，包括：
9、原始图像获取模块，用于获取探测器采集的原始图像；
10、目标区域确定模块，用于选择原始图像中像素值满足预设要求的区域作为目标区域；
11、图像频域数据确定模块，用于对目标区域进行傅里叶变换确定图像频域数据；
12、功率谱确定模块，同于根据图像频域数据的频率和幅值确定功率谱的变化情况；
13、检测模块，用于根据功率谱的变化情况对原始图像的亮暗场进行检测。
14、第三方面，本专利技术还提供了一种计算设备，包括存储器、处理器及存储在存储器上并在处理器上运行的程序，处理器执行程序时实现如上述的一种探测器图像亮暗场检测方法的步骤。
15、第四方面，本专利技术还提供一种计算机可读存储介质，计算机可读存储介质中存储有指令，当指令在终端设备上运行时，使得终端设备执行如上述的一种探测器图像亮暗场检测方法的步骤。
16、本专利技术的有益效果是：通过对获取的原始图像中的目标区域进行傅里叶变换，可以得到图像频域数据，进而通过图像频域数据的频率和幅值确定图像的高阶特征(功率谱)，并根据功率谱的变化情况对原始图像的亮暗场进行检测。本申请中功率谱为图像的高阶特征，且功率谱不受温度的影响，提高了亮暗场判断的准确性。
本文档来自技高网...【技术保护点】
1.一种探测器图像亮暗场检测方法，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述选择所述原始图像数据中像素值满足预设要求的区域作为目标区域，包括：
3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，将所述方差满足预设要求的块对应的区域作为所述目标区域，包括：
4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，根据所述图像频域数据的频率和幅值确定功率谱的变化情况，包括：
5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，对所述一维数据进行曲线拟合确定频率-幅值直线，包括：
6.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，根据所述功率谱的变化情况对所述原始图像的亮暗场进行检测，包括：
7.根据权利要求6所述的方法，其特征在于，所述根据所述频率-幅值直线的斜率与所述斜率阈值的对比情况对所述原始图像的亮暗场进行检测，包括：
8.一种探测器图像亮暗场检测系统，其特征在于，包括：
9.一种计算设备，包括存储器、处理器及存储在存储器上并在处理器上运行的程序，其特征在于，处理器执行程序时实现如权利要求1至7任一
10.一种计算机可读存储介质，其特征在于，计算机可读存储介质中存储有指令，当指令在终端设备上运行时，使得终端设备执行如权利要求1至7任一项的一种探测器图像亮暗场检测方法的步骤。
...【技术特征摘要】
1.一种探测器图像亮暗场检测方法，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述选择所述原始图像数据中像素值满足预设要求的区域作为目标区域，包括：
3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，将所述方差满足预设要求的块对应的区域作为所述目标区域，包括：
4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，根据所述图像频域数据的频率和幅值确定功率谱的变化情况，包括：
5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，对所述一维数据进行曲线拟合确定频率-幅值直线，包括：
6.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，根据所述功率谱的变化情况对所述原始图像...
【专利技术属性】
技术研发人员：夏辉，付强，李柳丹，连玄，
申请(专利权)人：成都善思微科技有限公司，
类型：发明
国别省市：
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