X射线探测器质量检测方法、系统、存储介质和电子设备技术方案

本发明专利技术公开了一种X射线探测器质量检测方法、系统、存储介质和电子设备，所述方法包括：获取利用X射线探测器拍摄得到的原始亮场图，并对所述原始亮场图进行校正，得到校正亮场图；确定所述校正亮场图的目标参数，当所述目标参数超出相应的阈值范围时，判定所述校正亮场图为异常图像，否则，判定所述校正亮场图为正常图像；当所述校正亮场图为异常图像时，判定所述X射线探测器质量异常，否则，判定所述X射线探测器质量正常。本发明专利技术通过检测X射线探测器拍摄的X射线图像质量的优劣，实现对X射线探测器的生产质量进行监控，以助于优化X射线探测器的研发并提高X射线探测器的制造良率。探测器的研发并提高X射线探测器的制造良率。探测器的研发并提高X射线探测器的制造良率。

【技术实现步骤摘要】
X射线探测器质量检测方法、系统、存储介质和电子设备


[0001]本专利技术涉及质量检测
，尤其涉及一种X射线探测器质量检测方法、系统、存储介质和电子设备。

技术介绍

[0002]随着数字化X射线摄影系统(Digital Radiography System，DR)中的X射线平板探测器迅速发展，X射线探测器已经广泛应用于工业探伤、牙科成像、乳腺摄影以及miniC形臂等领域。在X射线探测器的制造工艺流程中，灵敏区的均匀性和耦合良好程度是影响X射线探测器的图像质量的极为关键的工序。
[0003]在常规的生产制造流程中，通过测试调制解调函数(MTF)评估光扩散程度的强弱，从而确定闪烁体的空间分辨能力，MTF评估需要高精度的钨刃边体膜和专业的计算程序，拍摄比较繁琐和昂贵。MTF的另外一个缺点是这是对测量点周围局部区域的表征，如果想确定全图的每个位置的空间分辨能力强弱，需要在每个位置都放置体膜拍摄图像然后进行计算，更加繁琐和不方便。
[0004]因此，亟需提供一种同时满足快速、方便、操作简易、低成本的技术方案解决评价闪烁体的空间分辨能力在整个闪烁体面上的分布的技术问题。

技术实现思路

[0005]为解决上述技术问题，本专利技术提供了一种X射线探测器质量检测方法、系统、存储介质和电子设备。
[0006]本专利技术的X射线探测器质量检测方法的技术方案如下：
[0007]获取利用X射线探测器拍摄得到的原始亮场图，并对所述原始亮场图进行校正，得到校正亮场图；
[0008]确定所述校正亮场图的目标参数，当所述目标参数超出相应的阈值范围时，判定所述校正亮场图为异常图像，否则，判定所述校正亮场图为正常图像；
[0009]当所述校正亮场图为异常图像时，判定所述X射线探测器质量异常，否则，判定所述X射线探测器质量正常。
[0010]本专利技术的X射线探测器质量检测方法的有益效果如下：
[0011]本专利技术的方法通过检测X射线探测器拍摄的X射线图像质量的优劣，实现对X射线探测器的生产质量进行监控，以助于优化X射线探测器的研发并提高X射线探测器的制造良率。
[0012]在上述方案的基础上，本专利技术的X射线探测器质量检测方法还可以做如下改进。
[0013]进一步，所述确定所述校正亮场图的目标参数的步骤，包括：
[0014]基于预设拆分方式，将所述校正亮场图拆分成多个大小相同的第一亮场图；
[0015]获取并根据任一第一亮场图中的每个像素点的灰度值，得到该第一亮场图对应的灰度值标准差和灰度值信噪比，直至得到每个第一亮场图对应的灰度值标准差和灰度值信
噪比；
[0016]判断任一第一亮场图的灰度值标准差是否小于第一阈值或该第一亮场图的灰度值信噪比是否大于第二阈值，得到判断结果，直至得到每个第一亮场图的判断结果；
[0017]将判断结果为是的第一亮场图确定为目标亮场图，并基于目标亮场图的数量和第一亮场图的数量，确定所述目标参数。
[0018]进一步，所述目标参数为：目标模糊率或目标合格率；
[0019]当所述目标参数为所述目标模糊率时，所述基于目标亮场图的数量和第一亮场图的数量，确定所述目标参数的步骤，包括：
[0020]基于目标亮场图的数量和第一亮场图的数量之间的比值，确定所述目标模糊率；
[0021]当所述目标参数为所述目标合格率时，所述基于目标亮场图的数量和第一亮场图的数量，确定所述目标参数的步骤，包括：
[0022]基于预设公式、目标亮场图的数量和第一亮场图的数量，确定所述目标合格率；其中，预设公式为：y为所述目标合格率，x1为目标亮场图的数量，x2为第一亮场图的数量。
[0023]进一步，还包括：
[0024]根据每个第一亮场图对应的灰度值标准差和灰度值信噪比，构建所述校正亮场图对应的目标区域图；
[0025]当判定所述X射线探测器质量异常时，根据所述目标区域图中的所述目标亮场图的分布，确定所述X射线探测器的优化方案。
[0026]进一步，所述预设拆分方式为：将所述校正亮场图拆分成K个M
×
N个像素点组成的亮场图；其中，K、M和N均为正整数。
[0027]进一步，所述对所述原始亮场图进行校正，得到校正亮场图的步骤，包括：
[0028]对所述原始亮场图进行偏置校正、增益校正和坏点校正，得到所述校正亮场图。
[0029]本专利技术的X射线探测器质量检测系统的技术方案如下：
[0030]包括：获取模块、处理模块和判断模块；
[0031]所述获取模块用于：获取利用X射线探测器拍摄得到的原始亮场图，并对所述原始亮场图进行校正，得到校正亮场图；
[0032]所述处理模块用于：确定所述校正亮场图的目标参数，当所述目标参数超出相应的阈值范围时，判定所述校正亮场图为异常图像，否则，判定所述校正亮场图为正常图像；
[0033]所述判断模块用于：当所述校正亮场图为异常图像时，判定所述X射线探测器质量异常，否则，判定所述X射线探测器质量正常。
[0034]本专利技术的X射线探测器质量检测系统的有益效果如下：
[0035]本专利技术的系统通过检测X射线探测器拍摄的X射线图像质量的优劣，实现对X射线探测器的生产质量进行监控，以助于优化X射线探测器的研发并提高X射线探测器的制造良率。
[0036]在上述方案的基础上，本专利技术的X射线探测器质量检测系统还可以做如下改进。
[0037]进一步，所述处理模块具体用于：
[0038]基于预设拆分方式，将所述校正亮场图拆分成多个大小相同的第一亮场图；
[0039]获取并根据任一第一亮场图中的每个像素点的灰度值，得到该第一亮场图对应的灰度值标准差和灰度值信噪比，直至得到每个第一亮场图对应的灰度值标准差和灰度值信噪比；
[0040]判断任一第一亮场图的灰度值标准差是否小于第一阈值或该第一亮场图的灰度值信噪比是否大于第二阈值，得到判断结果，直至得到每个第一亮场图的判断结果；
[0041]将判断结果为是的第一亮场图确定为目标亮场图，并基于目标亮场图的数量和第一亮场图的数量，确定所述目标参数。
[0042]本专利技术的一种存储介质的技术方案如下：
[0043]存储介质中存储有指令，当计算机读取所述指令时，使所述计算机执行如本专利技术的X射线探测器质量检测方法的步骤。
[0044]本专利技术的一种电子设备的技术方案如下：
[0045]包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，其特征在于，所述处理器执行所述计算机程序时，使所述计算机执行如本专利技术的X射线探测器质量检测方法的步骤。
附图说明
[0046]图1示出了本专利技术提供的X射线探测器质量检测方法的实施例的流程示意图；
[0047]图2示出了本专利技术提供的X射线探测器质量检测方法的实施例中步骤130至步骤140的流程示意图；
[0048]图3示出了本本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种X射线探测器质量检测方法，其特征在于，包括：获取利用X射线探测器拍摄得到的原始亮场图，并对所述原始亮场图进行校正，得到校正亮场图；确定所述校正亮场图的目标参数，当所述目标参数超出相应的阈值范围时，判定所述校正亮场图为异常图像，否则，判定所述校正亮场图为正常图像；当所述校正亮场图为异常图像时，判定所述X射线探测器质量异常，否则，判定所述X射线探测器质量正常。2.根据权利要求1所述的X射线探测器质量检测方法，其特征在于，所述确定所述校正亮场图的目标参数的步骤，包括：基于预设拆分方式，将所述校正亮场图拆分成多个大小相同的第一亮场图；获取并根据任一第一亮场图中的每个像素点的灰度值，得到该第一亮场图对应的灰度值标准差和灰度值信噪比，直至得到每个第一亮场图对应的灰度值标准差和灰度值信噪比；判断任一第一亮场图的灰度值标准差是否小于第一阈值或该第一亮场图的灰度值信噪比是否大于第二阈值，得到判断结果，直至得到每个第一亮场图的判断结果；将判断结果为是的第一亮场图确定为目标亮场图，并基于目标亮场图的数量和第一亮场图的数量，确定所述目标参数。3.根据权利要求2所述的X射线探测器质量检测方法，其特征在于，所述目标参数为：目标模糊率或目标合格率；当所述目标参数为所述目标模糊率时，所述基于目标亮场图的数量和第一亮场图的数量，确定所述目标参数的步骤，包括：基于目标亮场图的数量和第一亮场图的数量之间的比值，确定所述目标模糊率；当所述目标参数为所述目标合格率时，所述基于目标亮场图的数量和第一亮场图的数量，确定所述目标参数的步骤，包括：基于预设公式、目标亮场图的数量和第一亮场图的数量，确定所述目标合格率；其中，预设公式为：y为所述目标合格率，x1为目标亮场图的数量，x2为第一亮场图的数量。4.根据权利要求3所述的X射线探测器质量检测方法，其特征在于，还包括：根据每个第一亮场图对应的灰度值标准差和灰度值信噪比，构建所述校正亮场图对应的目标区域图；当判定所述X射线探测器质量异常时，根据所述目标区域图中的所述目标亮场图的分布，确定所述X射线探测器的优化方案。5.根据权利要求2所述的...

【专利技术属性】
技术研发人员：连玄，巫德财，刘茜茜，罗杰，
申请(专利权)人：成都善思微科技有限公司，
类型：发明
国别省市：