自动化测试结构及ATE设备制造技术

本发明专利技术涉及自动化测试技术领域，尤其涉及自动化测试结构及ATE设备，该结构包括：中央处理器和FPGA；其中，FPGA通过8位数据汇流排接口与中央处理器连接，FPGA还与待测设备连接；中央处理器，用于通过8位数据汇流排接口输出测试指令至FPGA；FPGA，用于在接收到测试指令时，对待测设备进行测试。本发明专利技术利用FPGA在电路功能设计上具有弹性的特点，通过8位数据汇流排接口输出测试指令至FPGA，由于使用的汇流排接口传输数据位数较少，在电路设计上可以减少使用面积和资源的消耗，同时操作和扩展也变得简单方便。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及自动化测试，尤其涉及自动化测试结构及ate设备。

技术介绍

1、目前nand闪存自动化测试设备控制器的数据汇流排接口通常是32位或64位，在电路设计上需要分配更多的资源和面积，因为这些接口具有更高的数据位宽。

技术实现思路

1、本专利技术的主要目的在于提供一种自动化测试结构及ate设备，旨在解决现有技术中nand闪存自动化测试设备控制器的数据汇流排接口通常是32位或64位，在电路设计上需要分配更多的资源和面积的技术问题。

2、为实现上述目的，本专利技术提供一种自动化测试结构，所述自动化测试结构包括：中央处理器和fpga；

3、其中，所述fpga通过8位数据汇流排接口与所述中央处理器连接，所述fpga还与待测设备连接；

4、所述中央处理器，用于通过8位数据汇流排接口输出测试指令至所述fpga；

5、所述fpga，用于在接收到所述测试指令时，对所述待测设备进行测试。

6、可选地，所述fpga包括：多个独立测试模块；>

7、各个所述本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种自动化测试结构，其特征在于，所述结构包括：中央处理器和FPGA；

2.如权利要求1所述的自动化测试结构，其特征在于，所述FPGA包括：多个独立测试模块；

3.如权利要求2所述的自动化测试结构，其特征在于，所述独立测试模块包括：8位数据处理单元和NAND闪存控制单元；

4.如权利要求3所述的自动化测试结构，其特征在于，所述8位数据处理单元包括：8位控制器；

5.如权利要求4所述的自动化测试结构，其特征在于，所述8位数据处理单元还包括：程序RAM；

6.如权利要求5所述的自动化测试结构，其特征在于，所述8位数据处理单元还包括...

【技术特征摘要】

1.一种自动化测试结构，其特征在于，所述结构包括：中央处理器和fpga；

2.如权利要求1所述的自动化测试结构，其特征在于，所述fpga包括：多个独立测试模块；

3.如权利要求2所述的自动化测试结构，其特征在于，所述独立测试模块包括：8位数据处理单元和nand闪存控制单元；

4.如权利要求3所述的自动化测试结构，其特征在于，所述8位数据处理单元包括：8位控制器；

【专利技术属性】
技术研发人员：郭寂波，
申请(专利权)人：芯测通深圳半导体有限公司，
类型：发明
国别省市：

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